磁角度位置传感器制造技术

公开了磁角度位置传感器。在具体实施例中，是一种可以用于基于，例如，磁体的磁角度来测量与多个磁体相关联的多个位置的方法。该方法可以包括多个操作，这些操作包括，例如，测量与多个磁体相关联的磁场分量。此外，所述操作包括基于所测量的磁场分量确定第一角度和第二角度。已确定的第一和第二角度可以用于确定多个磁体中第一磁体的位置和多个磁体中第二磁体的位置。

【技术实现步骤摘要】
相关申请本申请要求申请号为No.61/781，706，专利技术名称为“磁角度定位传感器”，申请日为2013年03月14日的美国临时专利申请的利益和优先权，其内容被作为参考引入，相当于其全部内容在此阐明。附图说明包含在说明书中并作为说明书一部分的附图，阐述了本文所描述的一个或多个具体实施例，并与说明书一起解释这些具体实施例，在图中：附图1示出了具有两个磁体和一个传感器的磁角度位置传感器的例子；附图2A-B示出了两个磁体的角度和位置之间的关联的示例图；附图2C展示了可能与两磁体间串扰相关的误差的示例图；附图2D示出了与磁体相关联的通量密度的示例图；附图3示出了用于确定第一磁体和第二磁体位置的示例性操作的流程图；附图4示出了在磁角度位置传感器中使用的磁体的例子；附图5A-C示出了与圆形(圆柱形的)磁体和锥形(圆锥形的)磁体相关联的各种参数的示例性结果构成的各种图；附图6示出了实施本文所述的一种或多种技术的设备的例子。具体实施方式参照附图进行以下的详细描述。不同附图中本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种方法，包括：测量与包含在磁角度位置传感器中的多个磁体相关联的多个磁场分量；基于所测量的磁场分量确定第一角度，所述第一角度表示与所述多个磁体中的第一磁体相关联的角度位置；基于所测量的磁场分量确定第二角度，所述第二角度表示与所述多个磁体中的第二磁体相关联的角度位置；基于确定的第一角度和确定的第二角度确定所述第一磁体的位置；基于确定的第一角度和确定的第二角度确定所述第二磁体的位置。

【技术特征摘要】
2013.03.14 US 61/781,7061.一种方法，包括：
测量与包含在磁角度位置传感器中的多个磁体相关联的多个磁场分量；
基于所测量的磁场分量确定第一角度，所述第一角度表示与所述多个磁体
中的第一磁体相关联的角度位置；
基于所测量的磁场分量确定第二角度，所述第二角度表示与所述多个磁体
中的第二磁体相关联的角度位置；
基于确定的第一角度和确定的第二角度确定所述第一磁体的位置；
基于确定的第一角度和确定的第二角度确定所述第二磁体的位置。
2.如权利要求1所述的方法，其中所述磁场分量包括Bx磁场分量、By磁
场分量和Bz磁场分量。
3.如权利要求1所述的方法，其中使用传感设备来测量所述磁场分量。
4.如权利要求3所述的方法，其中所述传感设备是三维(3D)霍尔效应传
感器。
5.一利设备，包括：
多个磁体；
用于测量与所述多个磁体相关联的多个磁场分量的传感器；和
处理逻辑，用于：
基于所测量的磁场分量确定第一角度，所述第一角度表示与所述多个
磁体中的第一磁体相关联的角度位置；
基于所测量的磁场分量确定第二角度，所述第二角度表示与多个磁体
中的第二磁体相关联的角度位置；
基于确定的第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：A·F·茨威泽，K·E·范奥斯特兰德，
申请(专利权)人：森萨塔科技公司，
类型：发明
国别省市：美国;US