【技术实现步骤摘要】
两步直接接合工艺及其实施工具相关申请的交叉引用本申请要求于2013年3月12日提交的标题为“Two-StepDirectBondingProcessesandToolsforPerformingtheSame”的美国临时专利申请第61/778,277号的优先权,其全部内容结合于此作为参考。
本专利技术一般地涉及半导体
,更具体地来说,涉及半导体接合工艺及其实施装置。
技术介绍
直接接合是制造集成电路的通常使用的接合方法。在直接接合的过程中,两个金属凸块接合在一起而没有设置在其中焊料。例如,直接接合可以是铜与铜接合或金与金接合。实施直接接合的方法包括热压缩接合(TCB,有时被称为热压缩接合)。在直接接合工艺的过程中,器件管芯的金属凸块与封装衬底的金属凸块对准且相对放置。施加压力以彼此相对地挤压器件管芯和封装衬底。在接合工艺的期间,还对器件管芯和封装衬底进行加热。通过压缩和升高的温度,器件管芯和封装衬底的金属凸块的表面部分相互扩散,以形成接合件(bond)。厚度小于3μm的焊料层可以添加至器件管芯和封装衬底的金属凸块的每一侧作为相应的金属凸块的顶部。在直接接合的过程中,焊料层彼此相接触,并且与金属凸块的下面的不可流动部分相接合。为允许相互扩散的发生,直接接合通常是一个漫长的过程,有时需要数小时或数天完成。因此,直接接合的生产率很低。
技术实现思路
为了解决现有技术中所存在的缺陷,根据本专利技术的一方面,提供了一种方法,包括:在包括在第三封装部件中的第二封装部件的上方放置多个第一封装部件,其中,所述第一封装部件中的第一金属连接件与所述第二封装部件的相应的第二金 ...
【技术保护点】
一种方法,包括:在包括在第三封装部件中的第二封装部件的上方放置多个第一封装部件,其中,所述第一封装部件中的第一金属连接件与所述第二封装部件的相应的第二金属连接件对准;以及在放置所述多个第一封装部件之后,实施金属与金属接合以将所述第一金属连接件接合至所述第二金属连接件。
【技术特征摘要】
2013.03.12 US 61/778,277;2013.04.19 US 13/866,8581.一种半导体接合方法,包括:在底部夹具上方放置封装部件组,其中,所述封装部件组包括多个第一封装部件,所述多个第一封装部件的相邻封装部件彼此接触以形成封装部件组;在所述多个第一封装部件的上方放置多个第二封装部件,其中,所述多个第一封装部件中的第一金属连接件与所述多个第二封装部件的相应的第二金属连接件对准;在所述多个第二封装部件上方放置顶部夹具;使用夹具固定所述底部夹具、所述顶部夹具、所述多个第一封装部件和所述多个第二封装部件以形成集成夹具装配件;在所述多个第二封装部件上方堆叠多个重量单元,其中,所述多个重量单元包括:具有第一重量的第一重量单元;和具有第二重量的第二重量单元,所述第二重量单元不同于所述第一重量单元;以及对所述集成夹具装配件实施金属与金属接合以将所述第一金属连接件接合至所述第二金属连接件。2.根据权利要求1所述的半导体接合方法,其中,所述第一金属连接件和所述第二金属连接件没有焊料。3.根据权利要求1所述的半导体接合方法,其中,所述第一金属连接件和所述第二金属连接件中的至少一个包括焊料。4.根据权利要求1所述的半导体接合方法,其中,所述顶部夹具包括含有弹性涂层的部分,并且所述顶部夹具的与所述多个第二封装部件的顶面接触的表面被配置为响应于下方的所述多个第二封装部件中相应的一个封装部件的顶面的倾斜程度而倾斜。5.根据权利要求1所述的方法,其中,所述多个重量单元中的每一个都被配置为将重量单独地施加在下方的所述多个第二封装部件中相应的一个封装部件上。6.根据权利要求1所述的半导体接合方法,进一步包括:第一重量件对所述多个第二封装部件中的第一个施加力;以及第二重量件对所述多个第二封装部件中的第二个施加力。7.一种半导体接合方法,包括:放置底部夹具;在所述底部夹具上方放置第一封装部件组,其中,所述第一封装部件组包括多个第二封装部件,所述多个第二封装部件的相邻第二封装部件彼此接触以形成所述第一封装部件组;在所述多个第二封装部件上方放置多个第三封装部件;在所述多个第三封装部件上方放置顶部夹具;使用夹具将所述顶部夹具、所述底部夹具、所述第一封装部件和所述多个第三封装部件固定在一起以形成夹具装配件;在所述多个第三封装部件上方堆叠多个重量单元,其中,所述多个重量单元包括:具有第一重量的第一重量单元;和具有第二重量的第二重量单元,所述第二重量单元不同于所述第一重量单元;以及在所述夹具装配件上实施金属与金属...
【专利技术属性】
技术研发人员:萧义理,史达元,董志航,余振华,
申请(专利权)人:台湾积体电路制造股份有限公司,
类型:发明
国别省市:中国台湾;71
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