一种液晶盒参数的检测设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种液晶盒参数的检测设备，包括成像装置和处理装置，使基板上的液晶盒产生牛顿环，而后对牛顿环进行拍摄后传送给处理装置，处理装置对牛顿环的图像进行分析，将牛顿环的图像转化为液晶盒各项参数数据。本实用新型专利技术提供的液晶盒参数的检测设备对液晶盒的参数检测过程中，无需人工操作，采用机械自动化设备，不仅节省了人力资源，提高了产能，同时提高了检测的速度和准确性，避免了人工的个体差异性的影响。

【技术实现步骤摘要】
一种液晶盒参数的检测设备
本技术涉及液晶显示
，更具体地说，涉及一种液晶盒参数的检测设备。
技术介绍
液晶透镜(liquid crystal lens)是一种利用液晶材料所具有的独特电学及光学特性所创造出的装置。通常液晶透镜包括两个通过贴合胶粘接在一起的液晶盒，或者多个液晶盒形成层叠结构，以满足光学成像的需求。随着液晶技术的发展，在液晶盒的生产制造过程中，为了提高生产效率，降低生产成本，形成规模的批量生产，往往是在一块基板(玻璃)上制作多个液晶盒，然后将基板切割。在制作液晶盒的过程中，单个液晶盒的尺寸是很小的，往往是在大片的玻璃上同时制作出多个，但由于生产控制能力的限制很难做到同一大片玻璃上多个液晶盒的特性完全一致，因此导致在基板上各个液晶盒之间存在差异性，它们的特性参数不一致，这种差异性则决定了液晶盒后续组合对象的不同和驱动条件不同，因此在液晶盒的贴合前需要对每一个液晶盒进行检测。对液晶盒各项参数的检测是通过对液晶盒产生的牛顿环的观测实现的。现有的检测，首先要将液晶盒切割进行单个分离，外加引线导通各个电极，施加电信号后在显微镜下观测，拍摄干涉条纹图像后再用软件分析。其中的各个过程都是人工手动完成的，现有的这一检测过程不仅速度慢，而且准确度低。
技术实现思路
有鉴于此，本技术提供一种液晶盒参数的检测设备，采用机械自动化对液晶盒进行检测，不仅速度快、准确度高，而且适用于大规模生产。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案:一种液晶盒参数的检测设备，包括:用于使基板上的液晶盒产生牛顿环，并将所述牛顿环拍摄成像的成像装置；用于接收所述牛顿环的图像，并对所述牛顿环的图像进行数据分析，得到所述液晶盒参数的处理装置。优选的，所述成像装置包括:载物台、单色背光源、检测信号发生器和电子显微镜;其中，所述载物台包括第一偏振片和第二偏振片，所述第一偏振片和所述第二偏振片之间用于放置所述基板；所述单色背光源位于所述载物台下方提供单色光源；所述检测信号发生器为所述液晶盒提供电信号；所述电子显微镜用于拍摄所述液晶盒产生的牛顿环的图像。优选的，所述第一偏振片和第二偏振片的偏振方向均与所述基板的PI摩擦方向呈45度角。优选的，所述第一偏振片的偏振方向和所述第二偏振片的偏振方向呈90度角。优选的，所述成像装置还包括:用于控制所述电子显微镜在三维空间内运动，并对所述液晶盒进行牛顿环的拍摄的扫描控制器。优选的，所述处理装置为计算机。优选的，还包括:用于将所述基板传送到所述成像装置的传送装置。优选的，所述传送装置包括:用于搬运所述基板的机械手；用于将所述基板传送到所述成像装置的传送带。优选的，所述液晶盒为液晶透镜用液晶盒。与现有技术相比，本技术所提供的技术方案具有以下优点:本技术所提供的液晶盒参数的检测设备，包括成像装置和处理装置，对基板上的液晶盒产生的牛顿环进行拍摄，然后传送给处理装置，对牛顿环的图像进行分析，将牛顿环的图像转化为液晶盒各项参数数据。本技术提供的液晶盒参数的检测设备对液晶盒的参数检测过程中，无需人工操作，采用机械自动化设备，不仅节省了人力资源，提高了产能，同时提高了检测的速度和准确性，避免了人工的个体差异性的影响。【附图说明】为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本申请实施例提供的一种液晶盒参数的检测设备的示意图；图2为本申请实施例提供的一种具体的液晶盒参数的检测设备结构示意图。【具体实施方式】正如
技术介绍
所述，现有的对液晶盒的参数检测过程不仅速度慢，而且准确度低。专利技术人研究发现，造成这种缺陷的原因主要是在对液晶盒的参数检测过程中大部分操作需要人工操作，因此速度慢，而且准确度低。具体的，在对液晶盒的参数检测过程中，需要点亮液晶盒、对液晶盒产生的牛顿环进行拍摄成像，然后将拍摄的图片输入计算机，由计算机分析牛顿环图像，将牛顿环图像转化为液晶盒的数据参数。上述过程都需要人工参与完成。基于此，本技术提供了一种液晶盒参数的检测设备，以克服现有技术存在的上述问题，包括:用于使基板上的液晶盒产生牛顿环，并将所述牛顿环拍摄成像的成像装置；用于接收所述牛顿环的图像，并对所述牛顿环的图像进行数据分析，得到所述液晶盒参数处理装置。本技术所提供的液晶盒参数的检测设备，包括成像装置和处理装置，对基板上的液晶盒产生的牛顿环进行拍摄，然后传送给处理装置，对牛顿环的图像进行分析，将牛顿环的图像转化为液晶盒各项参数数据。本技术提供的液晶盒参数的检测设备对液晶盒的参数检测过程采用机械自动化设备，不仅节省了人力资源，提高了产能，同时提高了检测的速度和准确性，避免了人工的个体差异性的影响。以上是本技术的核心思想，为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本技术的【具体实施方式】做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术，但是本技术还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似推广，因此本技术不受下面公开的具体实施例的限制。其次，本技术结合示意图进行详细描述，在详述本技术实施例时，为便于说明，表示器件结构的剖面图会不依一般比例作局部放大，而且所述示意图只是示例，其在此不应限制本技术保护的范围。此外，在实际制作中应包含长度、宽度及深度的三维空间尺寸。本申请实施例提供了一种液晶盒参数的检测设备，如图1所示，为本实施例提供的一种液晶盒参数的检测设备的示意图，包括成像装置200和处理装置300。其中，成像装置200用于使基板上的液晶盒产生牛顿环，并将所述牛顿环拍摄成像；处理装置300用于接收成像装置200拍摄的所述牛顿环的图像，并将所述牛顿环的图像进行数据分析，得到所述液晶盒参数。牛顿环是由于光的干涉现象形成的，对于液晶盒，每一束进入液晶盒的光线会被液晶分子分成两束，被分成的两束光在液晶盒内通过后产生光程差，这个光程差在盒内不同位置的数值不同，而不同的光程差之间会产生明暗相间的圆形干涉条纹，当光程差为光线半波长的偶数倍时，达到亮度的最大值，当光程差为光线半波长的奇数倍时，为亮度的最小值，描绘出光程差-位置曲线即牛顿环的图像。根据牛顿环的同心圆的形状和位置关系，可以分析得到液晶盒的光电方面的参数数据，例如可选的液晶盒为液晶透镜用液晶盒，可以根据得到的牛顿环的同心圆的形状和位置关系，进而对牛顿环图像的数据分析得到屈光度(D 值)和 RMS (Root Mean Square,均方根)值。参考图2所示，为本申请实施例提供的一种具体的液晶盒参数的检测设备结构示意图，图中阴影部分为基板(基板上设计有快检线，以匹配该检测设备所提供的检测信号的输入)。成像装置200包括:载物台21、单色背光源22、检测信号发生器23和电子显微镜24。载物台21包括第一偏振片211和第二偏振片212,第一偏振片211和第二偏振片212之间用于放置所述基板，所述第一偏振片2本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶盒参数的检测设备，其特征在于，包括：用于使基板上的液晶盒产生牛顿环，并将所述牛顿环拍摄成像的成像装置；用于接收所述牛顿环的图像，并对所述牛顿环的图像进行数据分析，得到所述液晶盒参数的处理装置。

【技术特征摘要】
1.一种液晶盒参数的检测设备，其特征在于，包括: 用于使基板上的液晶盒产生牛顿环，并将所述牛顿环拍摄成像的成像装置； 用于接收所述牛顿环的图像，并对所述牛顿环的图像进行数据分析，得到所述液晶盒参数的处理装置。2.根据权利要求1所述的液晶盒参数的检测设备，其特征在于，所述成像装置包括:载物台、单色背光源、检测信号发生器和电子显微镜； 其中，所述载物台包括第一偏振片和第二偏振片，所述第一偏振片和所述第二偏振片之间用于放置所述基板； 所述单色背光源位于所述载物台下方提供单色光源； 所述检测信号发生器为所述液晶盒提供电信号； 所述电子显微镜用于拍摄所述液晶盒产生的牛顿环的图像。3.根据权利要求2所述的液晶盒参数的检测设备，其特征在于，所述第一偏振片和第二偏振片的偏振方向均与所述基板的PI摩擦方向呈45度角...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈魁，王东岳，吴振忠，刘亮，阮小龙，周鸣岐，何基强，
申请(专利权)人：信利半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44