一种全景成像装置及探头制造方法及图纸

技术编号:10335177 阅读:207 留言:0更新日期:2014-08-20 19:07
本发明专利技术公开了一种探头,包括多个探测器、镜头和编码准直器,所述探测器、镜头和编码准直器的数量相同,所述多个探测器环形均布,所述探测器的数量为N,N为大于2的偶数,每个所述探测器的视场为X弧度,且N与X的积等于2π,所述多个镜头和多个编码准直器与所述多个探测器之间一一对应地设置。本发明专利技术还公开了一种全景成像装置,包括电子学系统,还包括如上所述的探头,所述探头与所述电子学系统之间电性连接且可相互通信。本发明专利技术采用多个环形均布的探测器,探测器的数量与每个探测器的视场的积等于2π,从而通过该多个探测器一次性实现全景扫描作业,方便快捷。

【技术实现步骤摘要】
一种全景成像装置及探头
本专利技术涉及辐射安全领域的成像技术,具体涉及实现全景成像的结构。
技术介绍
编码孔径(CodedAperture, CA)成像相对于传统的小孔成像具有探测效率高、成像时间短等突出优点,此外,在编码成像技术中,很重要的降噪方式是通过正、反编码相减的方式来降低本底和系统的噪声,基于以上优点,CA成像成为放射性成像技术发展方向。目前,市场上编码孔径放射性成像仪均为单个探测器,具有一定的锥形视场,可对一定范围的射线源进行定位和成像。对于编码孔径的开孔方式,常见的有RA (Random Arrays,随机阵列)和MURA (Modified Uniformly Redundant Arrays,修正均勻冗余阵列)等。如GammaCam(美国AIL System公司开发的一款伽玛成像仪)和RadCam(美国RMD公司开发的一款伽玛成像仪)均采用了 MURA编码成像,为单探头成像仪,编码数为19可通过准直器旋转90°实现正反编码的切换(满足编码数为素数且编码数为4N-1时编码图样具有旋转反对称性),但由于MURA编码准直器的周期性,存在半视场内放射源对全视场内放射源的干扰问题。对于RA,由于编码图样不具备周期性,不存在半视场干扰问题,但同时也不具备旋转反对称性,在单探头系统中难以实现正、反编码的降噪。此外在对未知环境进行辐射热点排查的作业中,采用单探头成像仪需通过手动转动探头的朝向,多次采集,来实现对周边环境的全景扫描。采用现有的成像仪实现全景扫描的时间比较长,效率非常低,而且操作麻烦,不符合现代化快捷方便的要求。
技术实现思路
针对现有技术中存在的问题,本专利技术的目的为提供一种方便快捷地进行全景扫描的探头和全景成像装置。为实现上述目的,本专利技术的技术方案如下:一种探头,包括多个探测器、镜头和编码准直器,所述探测器、镜头和编码准直器的数量相同,所述多个探测器环形均布,所述探测器的数量为N,所述N为大于2的偶数,每个所述探测器的视场为X弧度,且N与X的积等于2 π,所述多个镜头和多个编码准直器与所述多个探测器之间一一对应地设置。进一步,还包括底座和外壳,所述多个探测器布设在所述底座上,所述外壳扣设在所述底座上,并具有N个安装面,所述镜头和所述编码准直器分别与所述探测器一一对应地设置在所述外壳的N个安装面上。进一步,所述外壳能够连同所述编码准直器相对所述底座一次转动Y弧度,且所述Y与所述N的积为2 π,所述多个编码准直器中任意两相邻的编码准直器互为正、反编码。进一步,所述编码准直器采用随机阵列时的编码数为任意整数,所述编码准直器采用MURA时编码数为素数。进一步,还包括第一屏蔽挡块和第二屏蔽挡块,所述第一屏蔽挡块设置在任意两相邻的所述探测器之间,所述第二屏蔽挡块设置在所述多个探测器形成的环形的中心位置上。进一步,所述第一屏蔽挡块和所述第二屏蔽挡块均为重金属屏蔽材料。进一步,所述第一屏蔽挡块为竖直设置的挡板,所述第二屏蔽挡块为一环形柱,所述第一屏蔽挡块和所述第二屏蔽挡块共同作用将任意两所述探测器之间相互屏蔽分隔。进一步,所述任意两相邻的编码准直器和探测器的全视场边缘之间相互平行。进一步,还包括转台,所述转台连接驱动所述探头转动。为实现上述目的,本专利技术还提供如下的技术方案:一种全景成像装置,包括电子学系统,还包括如上所述的探头,所述探头与所述电子学系统之间电性连接且可相互通信。进一步,所述电子学系统固定设置在一支座内,所述探头安装在所述支座上。进一步,还包括转台,所述转台连接驱动所述探头转动。本专利技术与现有技术相比,本专利技术采用多个环形均布的探测器,探测器的数量与每个探测器的视场的积等于2 π,从而通过该多个探测器一次性实现全景扫描作业,方便快捷。【附图说明】下面结合附图对本专利技术作进一步详细说明:图1为本专利技术的全景成像装置的结构示意图;图2为本专利技术的探头结构示意图;图3为本专利技术的探头视场结构示意图;图4为本专利技术的探头对放射源的扫描示意图;图5为本专利技术的全景成像装置中的电子学系统的结构示意图。【具体实施方式】体现本专利技术特征与优点的典型实施例将在以下的说明中详细叙述。应理解的是本专利技术能够在不同的实施例上具有各种的变化,其皆不脱离本专利技术的范围,且其中的说明及附图在本质上是当作说明之用,而非用以限制本专利技术。如图1所示,本实施例中的全景成像装置包括探头1、转台2和电子学系统3,探头I用于对放射源进行扫描,转台2连接探头I并转动探头1,电子学系统3通讯及电性连接探头1,对探头I采集的数据进行分析处理。本专利技术的转台2并非不可缺少,也可将探头3制作成固定形式或通过手动转动。如图2所示,并参考图3和图4,本专利技术的探头I包括底座10、外壳11、多个镜头12、多个编码准直器13、多个探测器14、第一屏蔽挡块15和第二屏蔽挡块16。底座10用于承载探测器14,外壳11扣合底座10,并在其上装载镜头12和编码准直器13,镜头12为普通光学镜头,用于进行普通摄录像,编码准直器13用于配合探测器14对放射源4进行探测,第一屏蔽挡块15和第二屏蔽挡块16用于对各探测器14之间进行屏蔽。本专利技术中,探测器14为位置灵敏伽马射线探测器,多个探测器14环形均布,探测器14的数量为N,每个探测器14的视场为X弧度,且N与X的积等于2 π,以使本专利技术的探头I实现全景成像功能。外壳11具有N个安装面,镜头12、编码准直器13和探测器14的数量相同,且分别与探测器14 一一对应地设置在外壳11的N个安装面上。本实施例中,N为6,X为π/3,实际设定时并不以此数为限定。MURA编码是目前采用最多的编码方式,根据其编码规则,编码数应为素数。当编码数为4N-1时,其编码图样具有旋转反对称性,即通过旋转90°,编码图样除中心一个元素外其它元素正好相反,但当编码数为4N+1时则不具有这种旋转反对陈性。在编码成像中正、反编码图样的使用可显著降低本底噪声,故GammaCam、RadCam等产品均采用了编码数为4N-1 (19,23等)的MURA编码方式。本专利技术中,N为大于2的偶数,外壳11能够相对底座10 一次转动Y弧度,且Y与N的积等于2 π,多个编码准直器13中任意两相邻的编码准直器13互为正、反编码。本实施例中,N为6,¥为π/3,实际设定时并不以此数为限定。此种方式只需I套转动机构(本实施例中为转台2)即可同时实现6个探测器14的正、反编码切换,而无需6套转动机构分别对6个编码准直器13进行正、反切换。此外,这种正、反编码切换方式使得如采用MURA编码,则编码数满足素数即可,不受4Ν-1的限制;如采用RA编码,则编码数为整数。本专利技术中,如图3所示,任意两相邻的编码准直器13和探测器14的全视场边缘之间相互平行。全视场和半视场是根据图4所述几何关系来界定的,全视场内的放射源4所放出的射线能将完整的编码周期投影在探测器14平面上,半视场内的放射源4部分地将编码图样投影在探测器平面上,一般情况下,编码准直器13面积大于探测器,这里完整的编码周期与探测器尺寸一致,对于MURA,完整的编码周期为ΝΧΝ,探测器14面积为ΝΧΝ,编码准直器13通常设计 为(2Ν-1) X (2Ν-1)。具体说,任意两相邻的编码准直器13和探测器14中,左侧的编码准直器1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种探头,其特征在于,包括多个探测器、镜头和编码准直器,所述探测器、镜头和编码准直器的数量相同,所述多个探测器环形均布,所述探测器的数量为N,所述N为大于2的偶数,每个所述探测器的视场为X弧度,且N与X的积等于2π,所述多个镜头和多个编码准直器与所述多个探测器之间一一对应地设置。

【技术特征摘要】
1.一种探头,其特征在于,包括多个探测器、镜头和编码准直器,所述探测器、镜头和编码准直器的数量相同,所述多个探测器环形均布,所述探测器的数量为N,所述N为大于2的偶数,每个所述探测器的视场为X弧度,且N与X的积等于2 π,所述多个镜头和多个编码准直器与所述多个探测器之间一一对应地设置。2.如权利要求1所述的探头,其特征在于,还包括底座和外壳,所述多个探测器布设在所述底座上,所述外壳扣设在所述底座上,并具有N个安装面,所述镜头和所述编码准直器分别与所述探测器一一对应地设置在所述外壳的N个安装面上。3.如权利要求2所述的探头,其特征在于,所述外壳能够连同所述编码准直器相对所述底座一次转动Y弧度,且所述Y与所述N的积为2 π,所述多个编码准直器中任意两相邻的编码准直器互为正、反编码。4.如权利要求3所述的探头,其特征在于,所述编码准直器采用随机阵列时的编码数为任意整数,所述编码准直器采用MURA时编码数为素数。5.如权利要求1所述的探头,其特征在于,还包括第一屏蔽挡块和第二屏蔽挡块,所述第一屏蔽挡...

【专利技术属性】
技术研发人员:魏龙帅磊章志明李道武孙世峰唐浩辉李婷王英杰周魏胡婷婷王培林王晓明朱美玲王宝义刘彦韬张译文马创新张玉包
申请(专利权)人:中国科学院高能物理研究所
类型:发明
国别省市:北京;11

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