温度测定装置制造方法及图纸
【技术实现步骤摘要】
温度测定装置
本专利技术的实施方式涉及一种温度测定装置。
技术介绍
考虑为了测定作为高速瞬变现象之一的等离子体的温度而测定等离子体所发出的光来计算温度的方法。以往，考虑选择性地同时探测等离子体所发出的两个原子线光谱的强度并根据它们的强度比计算温度的方法。然而，等离子体的放射光谱包含原子线光谱的同时还包含连续光成分，因此该方法存在如下问题：如果连续光成分增加，则测定精度降低。作为这种方法，有Takeuchi,etal，“TemperatureandMetalVaporNeartheCathodeinCopperBreakingArcsAccordingtoSpectroscopicMeasurement”，IEEETransactionsonPlasmaScience，Vo1.28，No.3，pp.991-999，2000(以下称为非专利文献)。
技术实现思路
为了解决上述问题，提供一种使用测定对象物的放射光谱高精度地测定温度的温度测定装置。为了达到上述目的，根据实施方式，温度测定装置具备如下结构。即，具有采光单元、提取单元、光强度计算单元以及温度测定单元。采光单元对测...
【技术保护点】
一种温度测定装置，使用测定对象物的放射光谱来测定温度，该温度测定装置具备：采光单元，对所述测定对象物的放射光谱进行采光；提取单元，从所述采光单元所采光得到的放射光谱提取具有原子线光谱的波长的光以及具有不存在原子线光谱的波长区域中的波长的光；光强度计算单元，计算所述提取单元所提取出的各光的强度；以及温度测定单元，基于所述光强度计算单元所计算出的各光的强度计算所述测定对象物的温度。
【技术特征摘要】
2013.02.04 JP 2013-0192951.一种温度测定装置，使用测定对象物的放射光谱来测定温度，该温度测定装置具备：采光单元，对所述测定对象物的放射光谱进行采光；提取单元，从所述采光单元所采光得到的放射光谱提取具有原子线光谱的波长的光以及具有不存在原子线光谱的波长区域中的波长的光；光强度计算单元，计算所述提取单元所提取出的各光的强度；以及温度测定单元，基于所述光强度计算单元所计算出的各光的强度计算所述测定对象物的温度，所述提取单元提取具有原子线光谱的波长的两个光以及具有不存在原子线光谱的波长区域中的波长的至少一个光，温度测定单元具备：光强度比计算单元，基于所述提取单元所提取出的具有原子线光谱的波长的所述两个光的强度以及所述提取单元所提取出的具有不存在原子线光谱的波长区域中的波长的所述至少一个光的强度，计算所述测定对象物所发出的原子线光谱对的强度比；以及温度计算单元，基于所述光强度比计算单元所计算出的原子线光谱对的强度比计算所述测定对象物的温度，所述光强度比计算单元计算出两个以上的所述测定对象物所发出的原子线光谱对的强度比，所述温度计算单元基于所述光强度比计算单元使用于强度比的计算的原子线光谱对的适当温度测定区域，从所述光强度比计算单元所计算出的两个以上的所述强度比决定为了计算温度而使用的强度比，根据所决定的强度比计算测定对象物的温度。2.根据权利要求1所述的温度测定装置，其特征在于，所述温度计算单元将在适当温度测定区域包含所述测定对象物的温度的原子线光谱对的强度比设为用于计算所述测定对象物的温度的强度比。3.根据权利要求1所述的温度测定装置，其特征在于，所述光强度比计算单元通过计算从具有原子线光谱...
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