一种TR组件调试仪制造技术

技术编号:10283106 阅读:216 留言:0更新日期:2014-08-04 11:49
本发明专利技术公开了一种TR组件调试仪,包括电源控制模块、主控模块、时序控制模块、人机交互模块和检测与保护模块,其中主控模块分别与电源控制模块、时序控制模块、人机交互模块和检测与保护模块相连,本发明专利技术为T/R组件提供测试电源,解决了T/R组件调试仪无自带电源的问题,设有人机交互模块,可通过该模块输入不同T/R组件测试需要的参数,用户通过该模块也可观测到T/R组件的工作情况,时序控制模块可产生T/R组件测试所需要的时序信号和组合脉冲信号,主控模块对上述各个模块的工作进行控制和检测,保证整个仪器的正常工作和安全运行。

【技术实现步骤摘要】
—种TR组件调试仪
本专利技术涉及TR组件测试技术,具体涉及一种TR组件调试仪。
技术介绍
在现代雷达技术中,相控阵雷达,特别是有源相控阵雷达占有十分重要的地位,其中T/R组件是整个雷达的关键部件之一,T/R组件的研制成本、稳定性和可靠性决定了整个雷达研制的周期、造价和可靠性指标,有源相控阵雷达自20世纪50年代问世以来,在地、海、空、天的雷达中都得到广泛应用。有源相控阵的每个天线阵元连接具有完整收发功能的T/R组件,完成独立的移相和幅度控制。T/R组件的涉及和制造是有源相控阵雷达的关键技术之一。其性能指标的好坏将影响相控阵雷达系统的发现能力、收发波束副瓣大小、指向精度和作用距离等技术指标,在整个雷达系统的组成成本中,T/R组件占三分之一以上的比例,是整机系统成本高低的决定性因素;组件稳定性、可靠性和可维修性能指标的优劣,很大程度上决定了雷达整机系统的日常使用和维护费用。这些因素都是系统设计师在整机体制取舍时重要的考虑因素。由于T/R组件在雷达天线中的重要作用,决定了 T/R组件性能的重要性,因此T/R组件在投入使用之前都要进行严格的调试或测试等工作,保证应用在雷达天线上的T/R组件有足够优异的性能,所以T/R组件的调试工作一直都是T/R组件生产所必不可少的环节之一 OT/R组件在测试时往往需要用到网络分析仪、频谱分析仪、信号源、噪声分析仪、稳压源等仪器,稳压源为T/R组件提供测试所需要的电压,网络分析仪或者信号源为T/R组件提供测试信号,T/R组件在进行调试时,同时需要很多测试仪器的配合,在T/R组件测试的过程中,首先首要使用稳压源为T/R组件进行供电,以保证T/R组件内的各元器件正常工作,同时需要使用信号源为T/R组件提供信号,以测试T/R组件的接收信号和发射信号的性能,这就使得几个仪器同时需要协调的工作,才能保证T/R组件调试的正常进行,一旦有仪器出了问题,就需要对所有的仪器进行排查,过程十分繁琐,比如,T/R组件输出端的波形异常,首先需要测试稳压源提供的电压是否是正常工作需要的电压,电压源无问题,则需要使用频谱分析仪对信号源发出的信号进行测试,查看信号源发出的信号是否正常,如果输入到T/R组件中的信号正常,则才能确定是T/R组件本身的问题,当T/R组件测试需要的仪器更多时,则需要一一进行排查的仪器就更多,不但给整个测试流程带来了很多繁琐,同时也不利于测试的准确性。现有的T/R组件调试仪本身并不提供T/R组件调试所需要的测试电压,同时现有的T/R组件调试仪只能针对固定型号的T/R组件进行测试,如果T/R组件的型号不同,则同一个仪器无法进行测试,那是因为现有的T/R组件调试仪的结构决定了其无法对其内部的频率和产生的测试脉冲进行调节,只能进行产生固定频率的测试脉冲,无法通过人工输入参数指标生成相对应的测试脉冲,从而不利于T/R组件测试的发展和进步,更不利于对T/R组件进行全方位的测试。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是:针对现有技术的缺陷,提供一种TR组件调试仪,设有电源控制模块,为T/R组件提供测试电源,解决了 T/R组件调试仪无自带电源的问题,设有人机交互模块,可通过该模块输入不同T/R组件测试需要的参数,用户通过该模块也可观测到T/R组件的工作情况,时序控制模块可产生T/R组件测试所需要的时序信号和组合脉冲信号,主控模块对上述各个模块的工作进行控制和检测,保证整个仪器的正常工作和安全运行。本专利技术为解决上述技术问题采用以下技术方案: 一种TR组件调试仪,包括电源控制模块、主控模块、时序控制模块、人机交互模块和检测与保护模块,其中主控模块分别与电源控制模块、时序控制模块、人机交互模块和检测与保护模块相连; 主控模块:包括单片机模块,单片机模块根据用户通过人机交互模块的设定,控制T/R组件调试仪内部的时序和电源,同时采集数据并进行存储,通过软件对T/R组件调试仪进行内部保护。人机交互模块:包含仪器屏幕、外壳以及PC界面,外壳上设有输入按键、本机按键、组件按键和功放按键,仪器屏幕和PC界面均与单片机模块相连,用户可通过PC界面和外壳上的各部件进行参数设置; 电源控制模块:包括AD转DC模块,第一 MOS开关、第二 MOS开关、DA控制和稳压芯片模块,AD转DC模块通过第一 MOS开关与稳压芯片模块相连,稳压芯片模块通过第二 MOS开关输出三路电压,三路输出电压中一路输出电压接功放按键,另外两路输出电压接组件按键,单片机模块通过DA控制与稳压芯片模块相连,AD转DC模块与第一 MOS开关之间设有AD采样点,稳压芯片模块与第二 MOS开关之间也设有AD采样点,两个AD采样点与单片机模块相连; 时序控制模块:包括FPGA模块、晶振和缓存驱动芯片,FPGA模块分别与晶振、单片机模块和缓存驱动芯片相连,晶振为FPGA模块产生基准时钟,单片机模块接收人机交互模块输入的参数,根据所得的参数发送相应的指令给FPGA模块,FPGA模块根据基准时钟和单片机模块发送的指令产生T/R组件测试所需要的时序信号和组合脉冲; 检测与保护模块:包括单片机模块和异常报警电路,所述异常报警电路包括运算放大器、AC转DC模块、与非门和报警器,运算放大器的两个输入端与两个AD采样点相连,运算放大器的输出端与比较器的一个输入端相连,比较器的另一个输入端设置基准电压,比较器的输出端、与非门和报警器依次相连。AD转DC模块输入端与外接电源相连,通过电源控制模块为整个T/R组件调试仪进行供电,稳压芯片模块产生T/R组件测试所需要的电压,并通过单片机模块的控制功放按键和组件按键进行输出; 仪器屏幕显示T/R组件测试需要的参数和电压控制模块输出的电压和电流数值,用户通过外壳的输入按键和PC界面输入T/R测试需要的参数,单片机模块收到输入的参数后,发送给电源控制模块产生相应的电压,同时发送给时序控制模块产生相应的测试脉冲;单片机模块通过对各处的电流和电压进行采样,与其内部的标准值进行比较,时刻判断电路是否发生故障,若电路的电压值和电流值出现异常,单片机模块控制面板上的报警灯点亮,提示用户;单片机模块所的两个AD采样点采集的电流值经过运算放大器后得出该点的电压值,该点的电压值与比较器中预先输入的比较电压进行比较,比较结果经过与非门的判断后,超出设定的最大异常值,从而触发报警器,单片机模块切断整个电源输入,为T/R组件调试仪断电。作为本专利技术的进一步优化方案,所述的时序控制模块产生的时序信号包括CLK信号、DATA信号、SEL信号、DARY信号、IR信号。作为本专利技术的进一步优化方案,所述的时序信号在高频测试时经过低压差分信号处理。作为本专利技术的进一步优化方案,所述的稳压芯片模块采用的稳压芯片型号为LT1963。作为本专利技术的进一步优化方案,:所述的检测与保护模块中,所述的两个AD采样点采集的电流值经过运算放大器后得出该点的电压值,该点的电压值与AC转DC模块中预先输入的比较电压进行比较,比较结果经过与非门的判断后,触发报警器。本专利技术采用以上技术方案与现有技术相比,具有以下技术效果: 第一、本专利技术设有电源控制模块,采用稳压芯片进行分压输出T/R组件测试所需要的电压,为T/R组件提供测试电源,解决了 T/R组件调试仪无自带电源的本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种TR组件调试仪,其特征在于:包括电源控制模块、主控模块、时序控制模块、人机交互模块和检测与保护模块,其中主控模块分别与电源控制模块、时序控制模块、人机交互模块和检测与保护模块相连;主控模块:包括单片机模块,单片机模块根据用户通过人机交互模块的设定,控制T/R组件调试仪内部的时序和电源,同时采集数据并进行存储,通过软件对T/R组件调试仪进行内部保护; 人机交互模块:包含仪器屏幕、外壳以及PC界面,外壳上设有输入按键、本机按键、组件按键和功放按键,仪器屏幕和PC界面均与单片机模块相连,用户可通过PC界面和外壳上的各部件进行参数设置;电源控制模块:包括AD转DC模块, 第一MOS开关、第二MOS开关、DA控制和稳压芯片模块,AD转DC模块通过第一MOS开关与稳压芯片模块相连,稳压芯片模块通过第二MOS开关输出三路电压,三路输出电压中一路输出电压接功放按键,另外两路输出电压接组件按键,单片机模块通过DA控制与稳压芯片模块相连,AD转DC模块与第一MOS开关之间设有AD采样点,稳压芯片模块与第二MOS开关之间也设有AD采样点,两个AD采样点与单片机模块相连;时序控制模块:包括FPGA模块、晶振和缓存驱动芯片,FPGA模块分别与晶振、单片机模块和缓存驱动芯片相连,晶振为FPGA模块产生基准时钟,单片机模块接收人机交互模块输入的参数,根据所得的参数发送相应的指令给FPGA模块,FPGA模块根据基准时钟和单片机模块发送的指令产生T/R组件测试所需要的时序信号和组合脉冲;检测与保护模块:包括单片机模块和异常报警电路,所述异常报警电路包括运算放大器、AC转DC模块、与非门和报警器,运算放大器的两个输入端与两个AD采样点相连,运算放大器的输出端与比较器的一个输入端相连,比较器的另一个输入端设置基准电压,比较器的输出端、与非门和报警器依次相连; AD转DC模块输入端与外接电源相连,通过电源控制模块为整个T/R组件调试仪进行供电,稳压芯片模块产生T/R组件测试所需要的电压,并通过单片机模块的控制功放按键和组件按键进行输出;仪器屏幕显示T/R组件测试需要的参数和电压控制模块输出的电压和电流数值,用户通过外壳的输入按键和PC界面输入T/R测试需要的参数,单片机模块收到输入的参数后,发送给电源控制模块产生相应的电压,同时发送给时序控制模块产生相应的测试脉冲;单片机模块通过对各处的电流和电压进行采样,与其内部的标准值进行比较,时刻判断电路是否发生故障,若电路的电压值和电流值出现异常,单片机模块控制面板上的报警灯点亮,提示用户;单片机模块所的两个AD采样点采集的电流值经过运算放大器后得出该点的电压值,该点的电压值与比较器中预先输入的比较电压进行比较,比较结果经过与非门的判断后,超出设定的最大异常值,从而触发报警器,单片机模块切断整个电源输入,为T/R组件调试仪断电。...

【技术特征摘要】
1.一种TR组件调试仪,其特征在于:包括电源控制模块、主控模块、时序控制模块、人机交互模块和检测与保护模块,其中主控模块分别与电源控制模块、时序控制模块、人机交互模块和检测与保护模块相连; 主控模块:包括单片机模块,单片机模块根据用户通过人机交互模块的设定,控制T/R组件调试仪内部的时序和电源,同时采集数据并进行存储,通过软件对T/R组件调试仪进行内部保护; 人机交互模块:包含仪器屏幕、外壳以及PC界面,外壳上设有输入按键、本机按键、组件按键和功放按键,仪器屏幕和PC界面均与单片机模块相连,用户可通过PC界面和外壳上的各部件进行参数设置; 电源控制模块:包括AD转DC模块,第一 MOS开关、第二 MOS开关、DA控制和稳压芯片模块,AD转DC模块通过第一 MOS开关与稳压芯片模块相连,稳压芯片模块通过第二 MOS开关输出三路电压,三路输出电压中一路输出电压接功放按键,另外两路输出电压接组件按键,单片机模块通过DA控制与稳压芯片模块相连,AD转DC模块与第一 MOS开关之间设有AD采样点,稳压芯片模块与第二 MOS开关之间也设有AD采样点,两个AD采样点与单片机模块相连; 时序控制模块:包括FPGA模块、晶振和缓存驱动芯片,FPGA模块分别与晶振、单片机模块和缓存驱动芯片相连,晶振为FPGA模块产生基准时钟,单片机模块接收人机交互模块输入的参数,根据所得的参数发送相应的指令给FPGA模块,FPGA模块根据基准时钟和单片机模块发送的指令产生T/R组件测试所需要的时序信号和组合脉冲; 检测与保护模块:包 括单片机模块和异常报警电路,所述异常报警电路包括运算放大器、AC转DC模块、与非门和报警器,运算放大器的两个输入端与两个AD采样点相连,运算放大器的输出端与比较器的一个输入端...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱勤辉张林窦延军
申请(专利权)人:江苏万邦微电子有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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