【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供了一种非接触式振动绝对位移的快速光学直接测量装置，所述的测量装置中的光源发出的光线经透镜产生一个圆柱型平行光束，平行光束经光束成型器的限制而形成需要的长度及宽度合适的矩形平行光束，矩形平行光束分别照射在被测量物体和线阵CCD探测器上，线阵CCD探测器将获得特征位置的电信号输送到测量系统及信号处理系统进行处理，处理结果再送到计算机处理。本专利技术的测量装置结构简单，可靠性高。【专利说明】一种非接触式振动绝对位移的快速光学直接测量装置
本专利技术涉及高速振动物体的绝对位移量测量的一种非接触光学测量装置，主要用于物体在一个方向上的振动引起的位移量的非接触的高速及高精度的实时直接测量。
技术介绍
物体的振动是一种常见的运动方式，在很多情况下需要对其振动的幅度及频度进行测量以了解运动产生的影响。有关振动及其位移的测量有多种方法，基本属于接触式的，会受到各个方面的一些影响，也会对被测量对象产生不同程度的影响或干扰，如常见的基于加速度计原理的测量装置，它需要将加速度测量探头粘贴在被测对象上，属于接触式测量方式，并且位移的测量不是直接和绝对的，而...
【技术保护点】
一种非接触式振动绝对位移的快速光学直接测量装置，其特征在于：所述的测量装置中的光源（1）发出的光线经透镜（2）产生一个圆柱型平行光束（4），平行光束（4）经光束成型器（3）的限制而形成矩形平行光束，矩形平行光束分别照射在被测量物体（5）和线阵CCD探测器（6）上，线阵CCD探测器（6）将获得特征位置的电信号输送到测量系统及信号处理系统（7）进行处理，处理结果再送到计算机（8）处理。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：江孝国，王远，李洪，石金水，李劲，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院流体物理研究所，
类型：发明
国别省市：四川;51
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