一种测定掺铈闪烁晶体中铈离子浓度的方法技术

本发明专利技术涉及一种测定掺铈闪烁晶体中铈离子浓度的方法，步骤：a)制备掺铈闪烁晶体标准品；b)按相同尺寸、相同晶向裁切步骤a)中制备的各标准品；c)沿晶体长度方向测量步骤b)中裁切的各标准品的紫外－可见透过光谱的截止波长；d)采用现有测试方法对b)中裁切的各标准品的各掺铈闪烁晶体标准品进行铈离子浓度测定；e)建立掺铈闪烁晶体标准品的截止波长与铈离子浓度的标准关系曲线；f)对与步骤b)相同尺寸待测同质晶体样品，沿晶体长度方向测量其紫外－透过光谱的截止波长，然后根据步骤e)所建立的标准关系曲线，找到该截止波长对应的铈离子浓度。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及，步骤：a)制备掺铈闪烁晶体标准品；b)按相同尺寸、相同晶向裁切步骤a)中制备的各标准品；c)沿晶体长度方向测量步骤b)中裁切的各标准品的紫外－可见透过光谱的截止波长；d)采用现有测试方法对b)中裁切的各标准品的各掺铈闪烁晶体标准品进行铈离子浓度测定；e)建立掺铈闪烁晶体标准品的截止波长与铈离子浓度的标准关系曲线；f)对与步骤b)相同尺寸待测同质晶体样品，沿晶体长度方向测量其紫外－透过光谱的截止波长，然后根据步骤e)所建立的标准关系曲线，找到该截止波长对应的铈离子浓度。【专利说明】—种测定掺铈闪烁晶体中铈离子浓度的方法
本专利技术涉及一种通过测量掺铈闪烁晶体的透过光谱测定掺铈闪烁晶体中铈离子浓度方法，具体涉及一种通过测量掺铈闪烁晶体的紫外一可见透过光谱的截止波长测定掺铈闪烁晶体中铈离子浓度的方法。
技术介绍
无机闪烁晶体具有密度大、光输出高和探测效率高、能量分辨率较好等优点，因而广泛应用于高能物理实验量能器、核医学成像、反恐安检、石油勘探、工业无损探伤以及环境检测领域。其中，大量的无机闪烁晶体材料用于建造高能物理量能器和核医学成像设备。随着技术的发展本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测定掺铈闪烁晶体中铈离子浓度的方法，其特征在于，包括如下步骤：a) 制备若干掺杂浓度的掺铈闪烁晶体标准品；b) 按相同尺寸、相同晶向裁切步骤a)中制备的各标准品；c) 沿晶体长度方向测量步骤b) 中裁切的各标准品的紫外－可见透过光谱的截止波长；d) 采用现有测试方法对b) 中裁切的各标准品的各掺铈闪烁晶体标准品进行铈离子浓度测定；e) 建立掺铈闪烁晶体标准品的截止波长与铈离子浓度的标准关系曲线；f) 对与步骤b)相同尺寸待测同质晶体样品，沿晶体长度方向测量其紫外－透过光谱的截止波长，然后根据步骤e)所建立的标准关系曲线，找到该截止波长对应的铈离子浓度，即得待测同质晶体样品中的铈离子浓度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：毛日华，戴灵恩，吴承，何承林，
申请(专利权)人：中国科学院上海硅酸盐研究所，
类型：发明
国别省市：上海;31