一种集成电路仿真波形显示器中的测量工具实现方法技术

本发明专利技术是一种集成电路仿真波形显示器中的测量工具实现方法，所属的技术是集成电路辅助设计领域，尤其是涉及集成电路数字仿真、模拟仿真和数模混合仿真领域。本发明专利技术针对大规模集成电路仿真工具输出结果分析功能，提供了一整套完备测量工具实现方法。本发明专利技术定义了七大类，共计38个测量工具，可提供对信号波形各种属性进行精准测量的功能，并可实现复杂特定设计分析的自定义和自动化，快速的将仿真结果转换为有用的设计参数。在实际的工程应用中，能很好的满足集成电路设计工程师对仿真结果分析的需求，极大的提升设计人员的工作效率。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术是，所属的技术是集成电路辅助设计领域，尤其是涉及集成电路数字仿真、模拟仿真和数模混合仿真领域。本专利技术针对大规模集成电路仿真工具输出结果分析功能，提供了一整套完备测量工具实现方法。本专利技术定义了七大类，共计38个测量工具，可提供对信号波形各种属性进行精准测量的功能，并可实现复杂特定设计分析的自定义和自动化，快速的将仿真结果转换为有用的设计参数。在实际的工程应用中，能很好的满足集成电路设计工程师对仿真结果分析的需求，极大的提升设计人员的工作效率。【专利说明】
本专利技术是，所属的
是集成电路计算机辅助设计领域，尤其是涉及集成电路数字仿真、模拟仿真和数模混合仿真领域。
技术介绍
随着集成电路加工工艺技术的持续发展，在单个芯片上实现整个复杂电子系统已成为可能。这样的系统通常包括数字信号、模拟信号和数模混合信号处理。在设计早期仿真这样的IC设计来发现错误已显得非常必要。所谓电路仿真，就是建立信号在电路中的传播模型，由此来模拟实际电路的功能。在七十年代早期，仿真技术已广泛用于制造之前验证集成电路的行为。它通过围绕晶体管建立电流和电压变量来仿真电路的行为。这通常叫做模拟仿真或电路仿真。早期的仿真器只能模拟几百个晶体管的电路。随着数学方法的发展，仿真器已能处理更大规模的电路。在专用集成设计(IC)中，波形显示器被用来显示和分析仿真工具的输出结果。波形显示器能够帮助IC设计工程师检查器件随时间偏移的工作状态以及器件之间的相互关系。波形显示器是与仿真工具相配合的工具产品，几乎当前所有的仿真工具都有专用的波形显示器，如Hspice的CosmosScope, FineSim的FineVision等。一个完整的波形显示器需要具备以下几种基本功能:1.波形文件解析器。解析器的功能是将仿真器的输出结果转化成波形显示器内部数据格式。2.浏览器。需要支持波形显示，放大/缩小，平移，分组/拆分等操作。3.测量工具。测量工具是辅助用户进行波形分析的工具。例如平行于Y轴方向的测量工具可以测量波形在特定X坐标下的Y值，Difference测量可以计算两个波形点间的距离与斜率等。4.计算器。计算器是辅助用户进行波形分析的另一重要工具。它可以用表达式的方式对波形进行变换，进而分析信号的不同特性，例如FFT可以分析一个时域信号的频域特性。5.其他高级功能。如波形比较，A-D / D-A和Eye-diagram等。本专利技术测量工具构建基于Qt开源技术。Qt是一个跨平台的C++应用程序和UI开发框架。使用Qt开发者只需一次性开发应用程序，无须重新编写源代码，便可跨不同桌面和嵌入式操作系统部署这些应用程序。Qt提供应用程序生成块，包括庞大的可定制Widget集合、图形画布、风格引擎和其他内容，可用来生成新颖、便捷的用户界面。本专利技术提供了一整套完备测量工具实现方法，对信号波形周期、频率、振幅、范围、差别、斜率、上升/下降时间、宽度、占空比系数等各种属性进行精准测量，解决了业内其他波形显示器工具测量功能不全、或测量结果不准确、或使用不方便的问题。本专利技术提供用户自定义配置功能，使设计者可通过配置测量选项，实现复杂特定设计分析的自定义和自动化，快速的把仿真结果转换为有用的设计参数，大大加快了电路设计人员优化设计的能力，提升其设计效率。
技术实现思路
本专利技术针对大规模集成电路仿真工具输出结果分析功能，提出了波形属性的测量工具实现方法，并将其归纳区分为七大类，共计38个具体波形测量方法。在实际的工程应用中，此方法能很好的满足集成电路设计工程师对仿真结果分析的需求，极大的提升其设计效率。本专利技术的主要技术方法包括以下内容:1、基本波形属性测量工具定义在集成电路设计领域中，根据应用领域及关注点不同，本专利技术将其归纳为以下七个类别:(I)General类。测量显示一些常规的波形分析属性值。【权利要求】1.，其技术特征在于定义了以下四个流程:①选择测量工具类型，创建工具实例；②通过鼠标操作工具实例，触发测量动作工具实例接收鼠标触发事件，调用测量接口执行测量；④工具实例界面主题显示测量结果。2.根据权利要求1所述的测量工具实现方法，其特征在于创造性的定义了七类基本测量工具:① General 类，具体包括 Data (X，y)、Difference、Length、Width、Y Diff、Y Range共计六种测量工具；② Time Domain 类，具体包括 Delay、Duty Cycle、F vs T、Frequency、Jitter、Overshoot、Rise/Fall Time、Settle Time、Slew Rate、Undershoot 共计十种测量工具！③Frequency Domain类，具体包括Highpass、LowpassΛ Stopband共计三种测量工具；@ Statistics 类，具体包括 Cpk、Dpu、Mean、Mean+3Std—dev、Mean_3Std—dev、Std—dev、Yield共计七种测量工具丨⑤Level类，具体包括AC Coupled RMS、Amplitude、Baseline、RMSλ Topline 共计五种测量工具；? S Domain 类，具体包括 Damping Ratio、FrequencyValue、Natural Frequency、Quality Factor 共计四种测量工具；⑦ RF (Radio Frequency)类，具体包括Pldb、IP2、IP3/SFDR共计三种测量工具。【文档编号】G06F17/50GK103853857SQ201210499158【公开日】2014年6月11日 申请日期:2012年11月29日 优先权日:2012年11月29日 【专利技术者】吴跃波, 宋德强, 张卫卫, 郭根华 申请人:北京华大九天软件有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种集成电路仿真波形显示器中的测量工具实现方法，其技术特征在于定义了以下四个流程：①选择测量工具类型，创建工具实例；②通过鼠标操作工具实例，触发测量动作；③工具实例接收鼠标触发事件，调用测量接口执行测量；④工具实例界面主题显示测量结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴跃波，宋德强，张卫卫，郭根华，
申请(专利权)人：北京华大九天软件有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11