用于检查有价文件的光学防伪特征的生产质量的方法技术

本发明专利技术涉及一种基于有价文件的预定部分的图像像素的像素数据检查位于所述预定部分中或所述预定部分上的预定光学防伪特征的生产质量，尤其是印刷质量的方法，其中，这些数据分别与位于所述部分中或所述部分上的位置相关联，并产生有价文件位于所述位置的光学特性。在该方法中，检查图像像素的那些像素的第一数目或第一部分是否超过所述防伪特征的第一目标最小值，图像像素的像素数据根据第一预定标准位于用于防伪特征的预定第一参考范围内，并检查根据所述第一标准位于像素数据的第一参考范围内的那些像素的像素数据的第一扩散是否超过用于所述防伪特征的预定第一最小扩散。根据检查结果产生质量信号，仅当所述第一数目或第一部分超过第一目标最小值以及所述扩散超过第一最小扩散时，所述质量信号表示印刷质量合格。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】【专利摘要】本专利技术涉及一种基于有价文件的预定部分的图像像素的像素数据检查位于所述预定部分中或所述预定部分上的预定光学防伪特征的生产质量，尤其是印刷质量的方法，其中，这些数据分别与位于所述部分中或所述部分上的位置相关联，并产生有价文件位于所述位置的光学特性。在该方法中，检查图像像素的那些像素的第一数目或第一部分是否超过所述防伪特征的第一目标最小值，图像像素的像素数据根据第一预定标准位于用于防伪特征的预定第一参考范围内，并检查根据所述第一标准位于像素数据的第一参考范围内的那些像素的像素数据的第一扩散是否超过用于所述防伪特征的预定第一最小扩散。根据检查结果产生质量信号，仅当所述第一数目或第一部分超过第一目标最小值以及所述扩散超过第一最小扩散时，所述质量信号表示印刷质量合格。【专利说明】
本专利技术涉及一种用于基于有价文件的一部分的图像的像素数据检查该部分中或该部分上的光学防伪特征的生产质量的方法、一种用于检查有价文件的光学防伪特征的方法以及一种用于检查有价文件的光学防伪特征的设备。
技术介绍
有价文件在此理解为卡状或优选为片状的物体，其例如表示货币价值或授权，因此不应当被未授权的人员随意生产。它们由此具有不易于生产，尤其不易于复制的防伪特征，防伪特征的存在是授权的标志，即授权机构的产物。这种有价文件的重要示例是身份证件、芯片卡、息票、收据、支票以及尤其是钞票。特别关注光学防伪特征，它们在本专利技术的框架内理解为有价文件的防伪特征，示出在与光学辐射(即，处于红外、紫外或可见光谱范围中的电磁辐射)相互作用时的特征光学属性。特别地，光学属性可以是反射属性和/或透射属性和/或发光属性。某些类型的防伪特征(在下文中指的是人类特征)可用于在不用任何技术辅助的情况下检查真实性。特别地，这种防伪特征的示例是所谓的OVD特征，其在下文中应理解为具有随观看角度变化的视觉效应或光学属性(例如颜色)取决于观看角度的防伪特征。这种防伪特征可给不同观看角度的观看者传送不同图形印记，根据观看角度示出例如不同颜色印记或亮度印记和/或不同图形图案。然而，这种现代人类特征不易于生产。因此，会发生有价文件生产有这种在没有技术辅助的情况下最终不足以适用于检查的人类特征的情况。类似问题还会发生在难以生产的其它光学防伪特征中。
技术实现思路
因此，本专利技术基于说明用于检查有价文件的光学OVD防伪特征的生产质量的方法以及用于实施该方法的器件的目的，所述方法允许快速且精确地检查生产质量。该目的首先通过一种基于有价文件的指定部分的局部分辨图像像素的像素数据优选以计算机辅助方式检查指定部分中或指定部分上的指定光学防伪特征(优选OVD防伪特征)的生产质量的方法，像素数据分别与所述部分中或所述部分上的位置相关联，并呈现有价文件在所述位置的光学属性。在该方法中，检查图像像素(根据指定用于防伪特征的第一标准，其像素数据位于指定用于防伪特征的像素数据的第一参考区域内)中的这些像素的第一数量或这些像素的第一份额是否超过指定用于防伪特征的第一最小目标值(hit value)，以及检查这些像素根据第一标准位于第一参考区域内的像素数据的散射是否超过指定用于防伪特征的第一最小散射，根据检查结果形成质量信号，仅当第一数量或第一份额超过第一最小目标值及所述分散超过第一最小分散时，根据第一标准，质量信号表示合格生产质量的标志，和/或当第一数量或第一份额没有超过第一最小目标值及所述分散没有超过第一最小分散时，质量信号表不生产故障的标志。该目的其次通过一种用于检查有价文件的指定部分中或指定部分上的指定光学防伪特征的生产质量的方法来实现，其中，为了捕获指定部分的图像，用光学辐射源的光学辐射照明有价文件，从有价文件发出的辐射由捕获装置捕获，根据所捕获的辐射，形成图像像素的像素数据，像素数据分别与所述部分中或所述部分上的位置相关联，并呈现有价文件在所述位置处的光学属性，其中，实施根据前述权利要求任一项所述的方法，其中，采用所述形成的像素数据作为像素数据。在印刷防伪特征的情况下，生产质量理解为优选的印刷质量。那么，合格生产质量的标志是合格印刷质量的标志，生产故障的标志是印错的标志。在所述方法中，采用有价文件的指定部分的图像像素的像素数据，在指定部分中或指定部分上，防伪特征形成在真实的有价文件中。该部分的位置和形式可因此符合真实有价文件上的防伪特征的位置或防伪特征的形式。该部分可尤其指定用于待检查的一定类型的有价文件和待检查的指定防伪特征，在钞票的情况下，尤其是指钞票的币种和面值或单位。例如，所述部分可由防伪特征的区域给出或者仅由防伪特征所占据的区域的指定部分给出。特别地，图像可以是整个有价文件的全像的部分图像。相应像素的像素数据呈现位于有价文件一部分中的、与相应像素相关联的位置的光学属性。总体而言，用于相应像素的像素数据可具有表示不同光学属性的若干分量。为了检查防伪特征，使用两部分检查:一方面，检查像素数据是否位于指定用于防伪特征的第一参考区域内。为此，采用用于像素数据的指定第一标准，通过第一标准，可以确认像素数据关于第一参考区域的位置。由此，检查有价文件的被分析部分的光学属性是否位于指定用于防伪特征的指定极限内。另一方面，检查位于第一参考区域内的像素数据的散射是否超过指定用于防伪特征的第一最小散射最小值。这意味着检查第一参考区域中的像素数据仅集中在第一参考区域的一部分中，还是分布在第一参考区域的较宽散射中。根据检查结果，则形成质量信号。该信号例如经由其形状或其水平(在数据信号的情况下尤其为其内容)呈现或表示该检查是否产生合格生产质量的指示，和/或该检查是否产生生产故障的指示。优选地，在每个检查时均产生质量信号，即独立于检查结果产生质量信号，则质量信号呈现合格生产质量的指示或生产故障的指示。特别地，仅当第一数量或第一份额超过第一最小目标值，所述散射超过第一最小散射时，质量信号表示合格生产质量的指示。合格生产质量的指示或生产故障的指示的质量信号可用于存储在存储装置中。在进一步光学检查防伪特征的生产质量或在检查整个有价文件的生产质量时，质量指示可单独用作生产故障的标准，使得在存在生产故障的指示或不存在合格生产质量的指示时，防伪特征或有价文件被归类为有缺陷的。然而，特别地，当检查具有总共至少两个不同防伪特征的有价文件时，所述质量信号还可与其它质量信号(表示有价文件的其它特征的生产质量)结合为总标准，那么如有可能，采用质量指示仅作为合格生产质量的必要条件。尽管图像像素的数量仅需要大于5，优选地其大于48，使得第一参考区域中的像素的份额或数量及它们的散射是有益的。因此，可检查由指定区域内的由光学属性的散射表征的光学防伪特征，所述散射表征防伪特征，而不易于伪造，例如通过彩色复印机复制或通过激光打印机打印。特别地，该方法可用于检查OVD防伪特征。根据优选的实施例，防伪特征可以是所谓的OVD防伪特征，其通过用具有颜料的印刷油墨进行印刷而获得，其反射属性通过光学辐射在相应颜料粒子上的入射方向而成型。这种印刷油墨还指的是“光学可变油墨”，在下文中称为“光学可变印刷油墨”。特别地，具有光学可变印刷油墨的防伪特征还应理解为利用包含颜料的印刷油墨印刷的防伪特征，其颜色取决于照明方向和检测或观察方向。根据另一实本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于有价文件的指定部分的图像像素的像素数据来检查位于所述指定部分中或所述指定部分上的指定光学防伪特征的生产质量，尤其是印刷质量的方法，所述像素数据分别与位于所述部分中或所述部分上的位置相关联，并呈现有价文件在所述位置的光学属性，其中，检查位于图像像素中的那些像素的第一数量或那些像素的第一份额是否超过指定用于所述防伪特征的第一最小目标值，所述像素数据根据第一指定标准位于指定用于防伪特征的第一参考区域内，并检查根据第一标准位于像素数据的第一参考区域内的那些像素的像素数据的第一散射是否超过指定用于所述防伪特征的第一最小散射，根据检查结果形成质量信号，仅当所述第一数量或第一份额超过所述第一最小目标值以及所述散射超过所述第一最小散射时，所述质量信号表示合格生产质量的表示，和/或当所述第一数量或第一份额不超过所述第一最小目标值以及所述散射不超过所述第一最小散射时，所述质量信号表示生产故障的指示。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：S苏，N霍尔，
申请(专利权)人：德国捷德有限公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE