计算装置、磁共振装置、消耗功率计算方法以及程序制造方法及图纸

本发明专利技术涉及计算装置、磁共振装置、消耗功率计算方法以及程序。取得表示梯度脉冲的斜率变化的点的点数据、和表示梯度脉冲的梯度磁场强度为零的点的点数据。根据点数据计算梯度脉冲的脉宽，基于脉宽计算梯度线圈的电阻。另外，根据点数据计算梯度脉冲的梯度磁场强度，基于梯度磁场强度计算梯度线圈的线圈电流。然后，利用梯度线圈的电阻和线圈电流计算梯度线圈的消耗功率。从而以短时间计算梯度线圈的消耗功率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及计算梯度线圈的消耗功率的计算装置、适用了该计算装置的磁共振装置、用于计算梯度线圈的消耗功率的消耗功率计算方法、以及用于计算梯度线圈的消耗功率的程序。
技术介绍
近年来，开始采用如回波平面成像(EPI：Echo Planer Imaging)法那样的高速摄影法。与此相伴，施加于梯度线圈的功率飞跃性地增加，梯度线圈的发热成为问题。因此，公开了在梯度线圈的温度不达到上限温度的范围内，能够连续地工作的MRI装置（参照专利文献1）。专利文献专利文献1：日本特开2000-023939号公报。
技术实现思路
然而，梯度磁场电源所能够输出的功率存在界限。从而，磁共振装置需要在梯度磁场电源所能够输出的功率范围内产生梯度磁场。因此，需要能够在产生梯度磁场之前预测梯度磁场电源的输出功率是否收敛在容许范围内的计算模型。作为此种计算模型，已知DC模型。但是，在DC模型中，梯度线圈的损耗的计算所使用的电阻的值与频率的值无关地为恒定的。从而，在DC模型中，存在越靠高频则功率的计算值的误差越大的问题。与此相对，已知考虑了频率分量的差本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种计算装置，其中具有：电阻计算单元，基于由梯度线圈产生的梯度脉冲的脉宽，计算所述梯度线圈产生所述梯度脉冲时的所述梯度线圈的电阻；以及消耗功率计算单元，基于所述梯度线圈的电阻，计算所述梯度线圈的消耗功率。

【技术特征摘要】
2012.10.31 JP 2012-2402911. 一种计算装置，其中具有：
电阻计算单元，基于由梯度线圈产生的梯度脉冲的脉宽，计算所述梯度线圈产生所述梯度脉冲时的所述梯度线圈的电阻；以及
消耗功率计算单元，基于所述梯度线圈的电阻，计算所述梯度线圈的消耗功率。
2. 根据权利要求1所述的计算装置，其中，
所述电阻计算单元基于根据所述梯度线圈而决定的参数和所述脉宽计算所述梯度线圈的电阻。
3. 根据权利要求1或2所述的计算装置，其中具有：
脉宽计算单元，基于表示所述梯度脉冲的波形的特征点的点数据计算所述脉宽。
4. 根据权利要求3所述的计算装置，其中具有：
线圈电流计算单元，基于所述点数据计算所述梯度线圈的线圈电流。
5. 根据权利要求4所述的计算装置，其中，
所述线圈电流计算单元基于所述点数据计算所述梯度线圈的梯度磁场强度，基于所述梯度磁场强度计算所述线圈电流。
6. ...

【专利技术属性】
技术研发人员：浅羽佑介，
申请(专利权)人：GE医疗系统环球技术有限公司，
类型：发明
国别省市：