用于测量散射参数的耦合组件、数据测定装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于测量散射参数的数据测定装置，包括耦合组件和矢量网络分析仪，耦合组件包括第一探头、第二探头、与第一探头连接的第一端口及与第二探头连接的第二端口；第一探头、第二探头分别用于耦合被测件的射频信号；矢量网络分析仪输出端口用于与被测件的公共输入端口连接，输入端口与耦合组件的第一端口或第二端口连接，用于测量被测件公共输入端口至第一探头、第二探头的传输系数及第一探头和第二探头间的延迟系数。采用上述传输系数和延迟系数，计算被测件的散射参数。通过上述方式，本发明专利技术能够在不改变被测件工作状态的情况下，对被测件的散射参数进行测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及微波测量领域，特别是涉及一种用于测量散射参数的耦合组件、数据测定装置及方法。
技术介绍
散射参数测量是射频微波领域常见的测量手段，对于多端口微波网络而言，散射参数包括端口的反射系数和端口间的隔离度。通过测量端口的散射参数，可以评估端口处的匹配状态以及端口与端口之间的相互耦合。矢量网络分析仪是散射参数的主要测量仪表，因仪表测试端口通常是同轴类型的，因此在测量被测件散射参数时，需要在被测件上安装射频接头，通过射频电缆将射频接头与矢量网络分析仪连接。图1是现有测量散射参数一实施例的电路连接图，如图1所示，被测件11包括一段微带线111，为测试微带线111的散射参数，需使用包括微带线211、212和射频接头213、214的过渡件将被测件11通过电缆与矢量网络分析仪器31连接。若需获得微带线111参考面a处的散射参数，需采用“去嵌入”或“TRL校准”等技术，以消除射频接头等过渡件带来的影响。当被测件11是某个完整的微带功分网络的一部分，按<br>上述常规的测量本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量散射参数的耦合组件，其特征在于，包括第一探头、第二探头、与第一探头连接的第一端口及与第二探头连接的第二端口；所述第一探头、第二探头分别用于耦合被测件的射频信号以使所述射频信号用于散射参数的测量。

【技术特征摘要】
1.一种用于测量散射参数的耦合组件，其特征在于，包括第一探
头、第二探头、与第一探头连接的第一端口及与第二探头连接的第二端
口；
所述第一探头、第二探头分别用于耦合被测件的射频信号以使所述
射频信号用于散射参数的测量。
2.根据权利要求1所述的耦合组件，其特征在于，所述耦合组件
包括用于设置所述第一探头、第二探头、第一端口及第二端口的基板。
3.根据权利要求2所述的耦合组件，其特征在于，所述基板上设
置有被测件。
4.根据权利要求2或3所述的耦合组件，其特征在于，所述第一
探头和第二探头分别垂直于被测件的轴线之间的距离不等于1/2被测件
内部电磁波工作波长的整数倍，且大于0小于被测件的总长度；
其中，所述第一探头和第二探头分别用于耦合被测件的射频信号，
且第一探头和第二探头与被测件的耦合强度相同。
5.一种用于测量散射参数的数据测定装置，其特征在于，包括耦
合组件和矢量网络分析仪；
所述耦合组件包括第一探头、第二探头、与第一探头连接的第一端
口及与第二探头连接的第二端口；所述第一探头、第二探头分别用于耦
合被测件的射频信号；
所述矢量网络分析仪输出端口用于与被测件的公共输入端口连接，
输入端口与所述耦合组件的第一端口或第二端口连接，用于测量被测件
公共输入端口至第一探头或第二探头的传输系数及第一探头和第二探
头间的延迟系数，所述传输系数和延迟系数用于所述散射参数的测量。
6.一种用于测量散射参数的方法，其特征在于，包括以下步骤：
测定第一探头、第二探头及被测件的公共输入端口、输出端口形成
的4端口微波网络中被测件公共输入端口到所述第一探头、第二探头的
传输系数及第一探头和第二探头间的延迟系数，其中，所述第一探头和

\t第二探头用于耦合被测件的射频信号；
根据所述传输系数和延迟系数计算被测件的散射参数。
7.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖展军，
申请(专利权)人：京信通信技术广州有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44