多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种可以准确地测试出多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统，通过每个通道的电压-插损曲线拟合得出每个通道的固定衰减下的准确电压，具有成本低、测试方法简单，适用于大型企业对多通道电控双折射液晶衰减波纹的测试。本发明专利技术的使用能够克服传统方法测试多通道电控双折射液晶衰减波纹测试速度慢、测试精度低和无法实现自动化等缺点，具备测试速度较快、测试精度高和测试范围广等优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统。本专利技术可以准确地测试出 多通道电控双折液晶的衰减波纹数值,进而判定液晶rubbing mark的工艺水平,能够广泛 适用于要求检测多通道电控双折射液晶的各个领域，尤其是适用于大型企业和科研机构对 多通道电控双折射液晶衰减波纹进行测试，成本低、速度快。
技术介绍
近些年来，多通道电控双折射液晶的出现对科学技术的发展和工业生产技术的革 新影响日趋明显。电控双折射液晶不但可以应用到液晶显示LCD领域，尤其投影放大的大 画面多色显示领域；同时，在DWDM光纤通信领域的功率均衡中也具有较好的市场应用价值。传统的多通道电控双折射液晶衰减波纹测试方法因为其通道较多，复杂度较高， 逐个通道测试需要时间较长，同时，由于电控双折射液晶在光纤通信领域需要测试特定衰 减下的每个通道损耗波纹数值，由于不同通道特定衰减下的电压有差别，因此传统的方法 测试较为复杂、测试精度低、测试速度慢。
技术实现思路
本专利技术公开了一种可以准确地测试出多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统， 通过每个通道的电压-插损曲线拟合得出每个通道的固定衰减下的准确电压，具有成本 低、测试方法简单，适用于大型企业对多通道电控双折射液晶衰减波纹的测试。本专利技术的使 用能够克服传统方法测试多通道电控双折射液晶衰减波纹测试速度慢、测试精度低和无法 实现自动化等缺点，具备测试速度较快以及测试精度高等优点。本专利技术所采用的技术方案为多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统，其特征在于包括光源模块、光学平 台、待测多通道电控双折射液晶及其夹、治具、45度偏振片、平面反射镜、环形器、光谱分析 仪及测试程序，其中光源模块作为宽带光源，宽带光源经过光学平台入射到带有夹、治具的 待测多通道电控双折射液晶上，45度偏振片用于从多通道电控双折射液晶产生不同偏振光 的衰减改变，平面反射镜用于反射不同偏振态的宽带光，该光再经过光学平台，经由环形器 接收到光谱分析仪，光谱分析仪用于测量多通道电控双折射液晶的插入衰减损耗，整个测 试系统的数据采集和数据分析是通过Labview平台独立开发的测试程序进行自动控制。进一步地，前述的多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统，其特征在于通过夹、 治具调整多通道电控双折射液晶的位置，使得所有通道入射的线偏光在同一水平线，并通 过其治具给多通道电控双折射液晶以全高电压，使得线偏光以最小损耗入射。进一步地,前述的多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统,其特征在于Labview 编写的测试程序能够分别设定电控双折射液晶所有通道几组电压数值，光谱分析仪测试不 同电压下的损耗，实时地保存多通道电控双折射液晶的电压-插损数值，然后通过曲线拟合计算出预想衰减下的准确电压。本专利技术的使用能够克服传统方法测试多通道电控双折射液晶衰减波纹测试不准 确、测试范围小、测试速度慢和无法实现自动化等缺点，具有测试精度高、速度快，适用于大 型企业和科研机构对多通道电控双折射液晶的rubbing mark状况进行检测。附图说明图1为多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统示意图。图中各附图标记的含义为1、光源模块；2、环形器；3、光学平台；4、待测多通道电 控双折射液晶及其夹、治具；5、45度偏振片；6、平面反射镜；7、光谱分析仪；8、测试程序。图2为多通道电控双折射液晶衰减波纹测试程序界面图。图3为多通道电控双折射液晶衰减波纹测试结果示意图。具体实施方式为了实现多通道电控双折射液晶衰减波纹的低成本、宽范围、高速度和自动化测 试，本专利技术提出了多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统。该测试系统可以准确地测试 出多通道电控双折射液晶的衰减波纹，能够广泛适用于大型企业和科研机构对多通道电控 双折射液晶rubbing mark工艺水平的检测。该测试系统包括光源模块1、环形器2、光学平 台3、待测多通道电控双折射液晶及其夹、治具4、45度偏振片5、平面反射镜6、光谱分析仪7、测试程序8。其结构如图1所示。该多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统的具体实施方式包含两个部分(一)系统的组装(I)待测多通道电控双折射液晶的安装及调整。首先将多通道电控双折射液晶放 置在其夹具上，并通过其治具给其供电，然后通过其夹具调整多通道电控双折射液晶的位 置，使其与光学平台上的45度偏振片贴合，45度偏振片与平面反射镜贴合，并使得入射的 线偏光平行入射到多通道电控双折射液晶上，中心位置可以通过多通道电控双折射液晶固 定通道ITU与光谱分析仪测试的ITU偏差进行调整。(2)环形器的安装将环形器的I与光源模块连接；其2与光学平台上准直器连 接；其3与光谱分析仪连接。( 二)多通道电控双折射液晶衰减波纹的测试打开测试程序，按照如下进行自动化测试的操作(I)选择控制多通道电控双折射液晶治具的com 口。(2)选择测试模板，用于实时保存从光谱分析仪采集处理后的电压-损耗数据。(3)输入待测多通道电控双折射液晶的序列号，并运行测试程序。(4)结束后，观察测试程序界面的测试结果和自动保存在电脑硬盘(默认D:\ LCripple result)上的测试结果。通过以上结构及检测方法的描述，本专利技术的实质性特征已明确，其效果主要归结 为以下几点1、本专利技术可以准确的测试出多通道电控双折射液晶每个通道的衰减波纹数值，直 接反映出LC rubbing mark的工艺水平。2、本专利技术的测试系统及测试方法可以实现低成本、宽范围、高速度和自动化测试。3、本专利技术适用于大型企业和科研机构对多通道电控双折射液晶衰减波纹进行测试。综上所述，本专利技术可以准确的测试出多通道电控双折射液晶每个通道的衰减波纹 数值，直接反映出LC rubbing mark的工艺水平,其结构特征及测试方法已被详细地公示, 但凡基于上述实施例及其测试方法所作的等效替换或简单修改，均应该被包含于本专利技术专 利请求的专利保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统，其特征在于：包括光源模块、光学平台、待测多通道电控双折射液晶及其夹、治具、45度偏振片、平面反射镜、环形器、光谱分析仪及测试程序，其中光源模块作为宽带光源，宽带光源经过光学平台入射到带有夹、治具的待测多通道电控双折射液晶上，45度偏振片用于从多通道电控双折射液晶产生不同偏振光的衰减改变，平面反射镜用于反射不同偏振态的宽带光，该光再经过光学平台，经由环形器接收到光谱分析仪，光谱分析仪用于测量多通道电控双折射液晶的插入衰减损耗，整个测试系统的数据采集和数据分析是通过Labview平台独立开发的测试程序进行自动控制。

【技术特征摘要】
1.多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统，其特征在于包括光源模块、光学平台、 待测多通道电控双折射液晶及其夹、治具、45度偏振片、平面反射镜、环形器、光谱分析仪及测试程序，其中光源模块作为宽带光源，宽带光源经过光学平台入射到带有夹、治具的待测多通道电控双折射液晶上，45度偏振片...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵利刚，刘华，袁海骥，
申请(专利权)人：科纳技术苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：