本实用新型专利技术公开一种变频器测试装置，其包括有：一外板；一内板，其以可沿垂直于所述外板所处平面的方向直线运动的方式而设置于所述外板的内侧，所述内板上设置有至少一探针组，所述探针组电气连接于一测试电路；至少一电磁铁，其设置于所述内板的内表面处。相比于现有变频器测试装置所采用的通过机架扣固定的方式，本实用新型专利技术所公开的变频器测试装置采用电磁铁作为固定机构，利用通电后的电磁铁产生磁性而将变频器测试装置牢固吸附于变频器上，其可避免刮花变频器壳体的外表面，而不会影响变频器的外形美观度。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种测试工具，尤其是指一种变频器测试装置。
技术介绍
现有的用于低压变频器的测试装置1如图1和图2所示，其包括有一机架板11，该机架板11上设置有一用于接触主回路接线端子的第一探针组13及一用于接触控制信号接线端子的第二探针组15，该第一探针组13、第二探针组15电气连接于一测试电路17，该测试电路17上设有一用于保护第二探针组15和测试电路17的保护盒19，于该机架板11的内表面的两侧处各设有至少一机架扣21，以用于将该变频器测试装置固定于变频器上而进行测试。参阅图3，测试时，手工将该变频器测试装置1设于该变频器3的相应位置，使第一探针组13和第二探针组15的探针接触到相应的接线端子，并使机架扣21分别扣紧于变频器3的壳体的两侧板上，从而将该变频器测试装置1稳固安装于该变频器3之上，藉由测试电路17而对变频器3进行测试。上述变频器测试装置1为通过其上设置的机架扣21扣紧于变频器壳体侧板而固定于变频器3之上，故而，在置放和取出测试装置1时，机架扣21极易刮花变频器3的壳体侧板，破坏壳体的外表面，而影响变频器3的整体美观。
技术实现思路
本技术在于解决现有变频器测试装置所存在的易刮花变频器外表面的技术问题，提供一种在使用过程中可避免刮花变频器表面的变频器测试装置。为解决上述技术问题，本技术采用如下所述的技术方案。一种变频器测试装置，其包括有一外板；一内板，其以可沿垂直于所述外板所处平面的方向直线运动的方式而设置于所述外板的内侧，所述内板上设置有至少一探针组，所述探针组电气连接于一测试电路；至少一电磁铁，其设置于所述内板的内表面处。上述变频器测试装置中，所述内板上设置有一用于测试变频器主回路的第一探针组及一用于测试变频器控制回路的第二探针组。上述变频器测试装置中，所述外板上嵌设多个直线轴承，所述内板的相应位置处固定有多个与所述直线轴承匹配的导向轴，所述导向轴分别装配入所述直线轴承之中。上述变频器测试装置中，所述直线轴承为法兰型直线轴承。上述变频器测试装置中，所设置的电磁铁为两个。上述变频器测试装置中，所述内板的外表面处固定有一拉手，所述拉手穿过形成于所述外板上的槽口。上述变频器测试装置中，所述外板的两侧端部分别延伸出所述内板的两侧边缘， 并分别在所述侧端部的内表面处形成一位于所述内板的侧边缘外侧的定位凹槽。上述变频器测试装置中，所述第一探针组设置于所述内板的内表面处，而所述内板的上端处形成有一缺口，所述第二探针组对应所述缺口而设置于所述内板之上。上述变频器测试装置中，所述第一探针组的两侧处各设置有一用于定位变频器测试装置的限位块。上述变频器测试装置中，所述内板上设置一保护盒，其罩盖所述第二探针组。相比于现有变频器测试装置所采用的通过机架扣固定的方式，本技术所公开的变频器测试装置采用电磁铁作为固定机构，利用通电后的电磁铁产生磁性而将变频器测试装置牢固吸附于变频器上，其可避免刮花变频器壳体的外表面，而不会影响变频器的外形美观度。附图说明图1是现有变频器测试装置的结构示意图。图2是图1所示的变频器测试装置的另一角度的结构示意图。图3是图1所示的变频器测试装置进行测试时的状态示意图。图4是本技术的立体结构示意图。图5是本技术另一角度的立体结构示意图。图6是本技术的正视方向的结构示意图。图7是本技术的侧视方向的结构示意图。图8是本技术的仰视方向的结构示意图。图9是本技术进行侧视时的状态示意图。具体实施方式为使本领域的普通技术人员更加清楚地理解本技术的目的、技术方案和优点，以下结合附图和实施例对本技术做进一步的阐述。参阅图4至图8，本技术所公开的变频器测试装置2包括有一外板10及一位于该外板10内侧的内板12，其中，该内板12以可沿垂直于该外板10所处平面的方向直线运动的方式而设置。在附图所示的实施例中，于该外板10上嵌设四个直线轴承14，而于该内板12的相应位置处固定有四根与直线轴承14匹配的导向轴16，将导向轴16分别装配入直线轴承14之中，而实现外板10和内板12的组装，使得该内板12可沿垂直于外板10所处平面的方向而在限定的行程内作反复直线运动。诚然，所设置的直线轴承14和导向轴16 并不限定于四个，也可设置数目更多或者更少的直线轴承14和导向轴16，并通过导向轴16 和相应的直线轴承14的配合来实现内、外板12、10之间的组装。此外，本技术也不限定于采用直线轴承14和导向轴16配合的方式来实现内板12和外板10的组装，也可以采用其他适宜的联接方式来实现两者之间的组装。优选地，直线轴承14采用法兰型直线轴承，以便于将其设置于外板10之上。参阅图5，于每一导向轴16的一端处固设有一紧固片18，再使用螺丝将紧固片18固定于内板12 之上，从而实现导向轴16与内板12的固接。该内板12上设置有一第一探针组20及一第二探针组22，该第一探针组20和第二探针组22电气连接于一测试电路对。其中，该第一探针组20用于与变频器的主回路接线端子接触，以藉由该测试电路M而对变频器的主回路进行测试。见图5和图8，该第一探针组20设置于该内板12的内表面处，其两侧处各设置有一限位块沈，通过上述两限位块沈的设置，以定位该变频器测试装置于变频器中的位置。该第二探针组22用于与变频器的控制信号接线端子接触，以藉由该测试电路M而对变频器的控制回路进行测试。参阅图5，该内板12的上端处形成有一缺口 120，该第二探针组22对应该缺口 120而设置于该内板12 之上。上述实施例中，该变频器测试装置设置有第一探针组20和第二探针组22两个探针组，本领域普通技术人员可以理解地，在其他实施例中，变频器测试装置可设置不同数目的探针组以满足不同的测试需求。鉴于测试电路M的电路构成、探针组的设置以及测试电路M与探针组的连接方式等技术方案并非本技术的创新所在，其可采用现有技术中的适宜的相应技术方案，故在本说明书中不再赘述。两个电磁铁28各自通过一电磁铁垫块30而设置于该内板10的内表面处，并与一电源(图中没有示出)连接而获取工作电源。如此，电磁铁观通电后可产生磁性，而将变频器测试装置2牢固地吸附于变频器之上，而对变频器进行测试。显而易见地，在本技术的其他实施例中，也可以于该内板10的内表面处设置数目更多或者更少的电磁铁观。相比于用于测试变频器主回路接线端子的第一探针组20的探针，用于测试变频器控制信号接线端子的第二探针组22的探针较为细长，为了避免受到损坏，可于该内板12 上设置一保护盒32，已将第二探针组22收纳于其内，从而起到保护第一探针组20的探针的作用。当然，也可将测试电路M —同纳置于保护盒32之中，而起到保护该测试电路M的作用。该保护盒32由一上板320、一前板322、一后板3 及两侧板3 组合而成，其构成一面开口的保护盒32，而将第二探针组22 (和测试电路24)罩盖于其内。优选地，该外板10的两侧端部100分别延伸出该内板12的两侧边缘，并分别在侧端部100的内表面处形成一位于该内板12的侧边缘外侧的定位凹槽102。这样，在进行测试时，两定位凹槽102可分别与变频器壳体的两侧板配合而起到定位变频器测试装置2的作用。优选地，该内板12的外表面处固定有一拉手3本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈元健，王德武，游开宗，
申请(专利权)人：深圳市英威腾电气股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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