【技术实现步骤摘要】
一种屏幕缺陷检测方法、装置、终端设备及存储介质
[0001]本申请属于缺陷检测
,尤其涉及一种屏幕缺陷检测方法
、
装置
、
终端设备及计算机可读存储介质
。
技术介绍
[0002]随着电子技术的快速发展,如映像管显示屏
(Cathode Ray Tube
,
CRT)
和液晶显示屏
(LiquidCrystalDisplay
,
LCD)
等显示屏在各类电子设备中得到了广泛应用,几乎已成为电子设备的标配
。
在大批量生产显示屏的过程中,由于生产工艺
、
生产环境等问题,不可避免地会导致部分显示屏出现如暗影
、
亮点或者杂质等缺陷
。
[0003]目前,通常需要在生产线上人工检测显示屏存在的缺陷,且人工检测时,需要长时间检测点亮的显示屏,容易造成眼睛疲劳,出现较多误检和漏检的情况,检测效率低且准确性低
。
技术实现思路
[0004]本申请实施例提供了一种屏幕缺陷检测方法
、
装置
、
终端设备及存储介质,可以解决现有技术中,检测显示屏的缺陷的准确率及效率较低的问题
。
[0005]第一方面,本申请实施例提供了一种屏幕缺陷检测方法,包括:
[0006]获取待测显示屏的图像,得到待测图像;
[0007]根据所述待测图像中的像素点的值与标准图像中对应的像素点的值,确
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种屏幕缺陷检测方法,其特征在于,包括:获取待测显示屏的图像,得到待测图像;根据所述待测图像中的像素点的值与标准图像中对应的像素点的值,确定至少两个第一差值,其中,所述标准图像为不存在缺陷的显示屏的图像,所述第一差值根据所述待测图像和所述标准图像的多个所述像素点的值的差异确定;在各个所述第一差值中存在大于或等于第一阈值的所述第一差值的情况下,判定所述待测显示屏存在缺陷
。2.
如权利要求1所述的屏幕缺陷检测方法,其特征在于,在所述判定所述待测显示屏存在缺陷之后,还包括:根据第一像素点确定第一区域,所述第一像素点为大于或等于所述第一阈值的所述第一差值在所述待测图像中对应的像素点,所述第一区域为所述待测图像中包含所述第一像素点的区域;基于至少一个第二区域中的所述像素点的值验证所述第一区域中是否存在所述缺陷,所述第二区域为所述待测图像中与所述第一区域相邻的区域;在判定所述第一区域中存在所述缺陷的情况下,根据所述第一区域确定缺陷信息
。3.
如权利要求2所述的屏幕缺陷检测方法,其特征在于,所述基于至少一个第二区域中的所述像素点的值验证所述第一区域中是否存在所述缺陷,包括:确定所述第一区域中的所述像素点的值的均值,得到第一均值,以及,分别确定各个所述第二区域中的所述像素点的值的均值,得到所述第二区域对应的第二均值;分别确定各个所述第二均值和所述第一均值之间的差值,得到各个所述第二均值对应的第二差值;在各个所述第二差值均大于或等于第二阈值的情况下,判定所述第一区域中存在所述缺陷
。4.
如权利要求2所述的屏幕缺陷检测方法,其特征在于,所述在判定所述第一区域中存在所述缺陷的情况下,根据所述第一区域确定缺陷信息,包括:对第一区域图像进行高斯差分处理,得到高斯差分图像,所述第一区域图像为所述待测图像中所述第一区域对应的图像;从所述高斯差分图像中确定出第二像素点,所述第二像素点为所述高斯差分图像中高斯差分值大于或等于第三阈值的像素点;根据各个所述第二像素点在所述第一区域图像中对应的所述像素点确定所述缺陷信息
。5.
如权利要求1所述的屏幕缺陷检测方法,其特征在于,在所述根据所述待测图像中的像素点的值与标准图像中对应...
【专利技术属性】
技术研发人员:孙煜,朱合军,陈志列,陈超,
申请(专利权)人:深圳市前海研祥亚太电子装备技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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