【技术实现步骤摘要】
电流采样电路
[0001]本公开的实施例涉及集成电路
,具体地,涉及电流采样电路
。
技术介绍
[0002]在实际应用中一些负载的电流值不适合直接检测,因此可使用电流采样电路来间接检测流过负载的电流值
。
具体地,电流采样电路可对流过负载的电流值进行采样,并输出采样电流值
。
通过测量输出的采样电流值来获取负载电流值的大小和负载的运行情况
。
通常,电流采样电路可将采样电流提供给后一级比较器电路,该比较器电路可将采样电流转换成采样电压,并将采样电压与参考电压相比较,以指示采样电流值的大小
。
电流采样电路可应用于无线充电发射电路
、
降压式变换电路
(BUCK
电路
)
等电路中
。
技术实现思路
[0003]本文中描述的实施例提供了一种电流采样电路
。
[0004]根据本公开的第一方面,提供了一种电流采样电路
。
电流采样电路包括:第一晶体管
、
第二晶体管
、
第三晶体管
、
第一电压保持电路
、
第二电压保持电路
、
电流镜电路
、
以及运放
。
其中,第一晶体管的控制极耦接第二晶体管的控制极和输入信号端
。
第一晶体管的第一极耦接第二晶体管的第一极和第一电压端
。
第一晶体管的第二极耦接第 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种电流采样电路,包括:第一晶体管
、
第二晶体管
、
第三晶体管
、
第一电压保持电路
、
第二电压保持电路
、
电流镜电路
、
以及运放,其中,所述第一晶体管的控制极耦接所述第二晶体管的控制极和输入信号端,所述第一晶体管的第一极耦接所述第二晶体管的第一极和第一电压端,所述第一晶体管的第二极耦接所述第一电压保持电路的输入端;所述第二晶体管的第二极耦接第二电压保持电路的输出端和所述运放的反相输入端;所述第三晶体管的控制极耦接所述运放的输出端,所述第三晶体管的第一极耦接所述第二晶体管的所述第二极,所述第三晶体管的第二极耦接所述电流镜电路的输入端;所述第一电压保持电路被配置为将所述运放的同相输入端的电压保持为所述第一晶体管导通时在所述第一晶体管的第二极处的电压;所述第二电压保持电路被配置为将所述运放的反相输入端的电压保持为与所述运放的同相输入端的电压相等;所述电流镜电路被配置为生成所述第三晶体管的漏源电流的镜像电流,并从所述电流采样电路的输出端输出所述镜像电流
。2.
根据权利要求1所述的电流采样电路,其中,所述第一电压保持电路包括:压控开关和电容器,其中,所述压控开关的第一端耦接所述第一晶体管的所述第二极,所述压控开关的第二端耦接所述电容器的第一端,所述压控开关被配置为在所述第一晶体管导通之后闭合以及在所述第一晶体管截止之前断开;所述电容器的第二端耦接所述第一电压端
。3.
根据权利要求2所述的电流采样电路,其中,所述输入信号端被输入第一方波信号,所述压控开关的受控输入端被输入第二方波信号,所述第一方波信号的有效电平在时域上覆盖所述第二方波信号的有效电平
。4.
根据权利要求1所述的电流采样电路,其中,所述电流镜电路包括:第四晶体管和第五晶体管,其中,所述第四晶体管的控制极耦接所述第五晶体管的控制极,所述第四晶体管的第一极耦接第二电压端,所述第四晶体管的第二极耦接所述第三晶体管的所述第二极和所述第四晶体管的所述控制极;所述第五晶体管的第一极耦接所述第二电压端,所述第五晶体管的第二极耦接所述电流采样电路的所述输出端
。5.
根据权利要求1所述的电流采样电路,其...
【专利技术属性】
技术研发人员:林希贤,于翔,肖飞,
申请(专利权)人:圣邦微电子北京股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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