一种测量光传输系统性能的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种测量光传输系统性能的方法及装置，所述方法包括如下步骤：１）选取一个参考电平，以该参考电平为判决电平对码流进行恢复，得到参考码流；将该参考码流与变化的判决电平下恢复的码流进行比较，从而得到第一条误码率与判决电平的“Ｕ”字型关系曲线，并推算出“Ｕ”字型关系曲线的最低点处的误码率；不断改变参考电平，得到多个“Ｕ”字型关系曲线的最低点处的误码率，并找出其中的最低误码率，从该最低误码率推算出Ｑ因子的值。由于利用参考电平恢复数据作为参考码流，这样就不需要事先准备一个标准信号作为参考码流，大大方便了测试，解决了现场监控的难题。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种测量光传输系统性能的方法，其特征是包括如下步骤： １）选取第一参考电平，以该参考电平为判决电平对码流进行恢复，得到参考码流；将该参考码流与变化的判决电平下恢复的码流进行比较，从而得到第一条误码率（ＢＥＲ）与判决电平（Ｕｔｈ）的“Ｕ”字型关系曲线，并推算出“Ｕ”字型关系曲线的曲线最低点处的误码率； ２）选取第二参考电平，重复上述过程，得到另一个“Ｕ”字型关系曲线最低点处（Ｂ）处的误码率； ３）不断改变参考电平，得到多个“Ｕ”字型关系曲线的最低点处的误码率，并找出其中的最低误码率，此时的参考电平为最优参考电平； ４）将上述最优参考电平作为最佳判决电平，从该最低误码率推算出Ｑ因子的值。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：余力，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]