检测光收发结构良莠的方法及装置制造方法及图纸

光收发结构良莠的检测方法与检测装置。首先耦合一量测光纤的一端与一光收发结构。然后，固定此量测光纤与此光收发结构于一固定结构上，且此量测光纤穿过一界定结构的一中空部位。此中空部位定义一量测区域。然后，在此量测区域内移动此量测光纤，并量测此量测光纤内部所传递的光信号的强度变化。最后，以前述强度变化判断此光收发结构的良莠。检测装置则包含固定结构、界定结构以及检测结构。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种检测一光收发结构良莠的方法，该方法至少包含：耦合一量测光纤的一端与该光收发结构；固定该量测光纤与该光收发结构于一固定结构上，且该量测光纤穿过一界定结构的一中空部位，该中空部位定义一量测区域，其中该光收发结构的光信号传输路 径和该量测区域的中心位于同一水平线上；在该量测区域内移动该量测光纤，并量测该量测光纤内部所传递的光信号的强度变化；以及以前述强度变化判断该光收发结构的良莠。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：古文豪，邓伟明，林帝宽，
申请(专利权)人：台达电子工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]