检测通电和断电的电路制造技术

一种通电／断电检测电路，可包括功率检测电路、选择电路和确定电路。该功率检测电路可基于对应流过多个功能块的电流的多个读出信号，产生多个检测信号。该选择电路可产生多个选择信号。该确定电路可产生通电完成信号和断电完成信号。一种具有通电／断电检测电路的半导体器件，可实时确定通电时间和断电时间。

【技术实现步骤摘要】

各示例实施例涉及在半导体器件中检测通电和断电的方法和电路。
技术介绍
因为电子系统不断地变得更小，所以有关减少由半导体器件耗散的功率 的研究已经增加。例如，半导体器件中的各等待电路块可依赖于操作模式断 电，以便降低功耗。在断电状态中，电路块不完全断电，但是关闭包括在该 电路块中的电流源以减少漏电流。通电时间和断电时间可包括在半导体存储器器件的测试说明书中。 在检测通电或断电的传统方法中，通过测量流过电路的平均电流确定该 电路进入断电模式还是退出断电模式。因为没有使用测试器实时测量电路的 操作电流，所以使用传统方法不能测量断电进入时间或断电退出时间。因为 不得不对通电/断电的测量时间增加余量，所以可通过测试确定的、用于半导 体存储器器件的通电/断电的等待时间可能更长。因此，操作速度可能劣化。
技术实现思路
示例实施例提供一种能够实时提供通电时间和断电时间的通电/断电检 测电路。示例实施例还提供一种具有通电/断电检测电路的半导体器件和具有 该半导体器件的存储器系统。此外，示例实施例提供一种用于实时提供通电 时间和断电时间的纟企测通电或断电的方法。根据示例实施例，通电/断电检测电路可包括功率检测电路、选择电路和 确定电^各。基于对应于流过多个功能块的电流的多个读出(sense)信号，功率检测 电路可产生多个检测信号。基于通电/断电模式选择控制信号和检测信号，选 择电路可产生多个选择信号。确定电路响应于通/断控制信号，对选择信号执 行逻辑操作以产生通电完成信号和断电完成信号。通电/断电检测电路还可以包括解码器，其解码功率模式信号以产生通电/断电检测模式选择控制信号和通/断控制信号。当所有的选择信号有效时，通电完成信号可以有效。通电完成信号有效 以响应最后有效的选择信号。通过从当功率模式信号有效时的时刻到当通电完成信号有效时的时刻的 时间段，可以确定通电延迟。当所有的选择信号无效时，断电完成信号有效。通电完成信号可以有效 以响应最后无效的选择信号。通过从当功率^f莫式信号有效时的时刻到当断电完成信号有效时的时刻的 时间_度，可以确定断电延迟。根据示例实施例，半导体器件可包括内部电路和通电/断电检测电路。内部电路可包括多个功能块，并且可产生多个读出信号。基于功率模式 信号和读出信号，通电/断电检测电路可产生通电完成信号和断电完成信号。通电完成信号和断电完成信号可分别指示通电时间和断电时间。根据示例实施例，存储器系统可包括半导体存储器器件和存储器控制器。 半导体存储器器件可存储输入数据或输出存储数据，以响应时钟信号、命令信号和地址信号。半导体存储器器件可实时检测流过各电路块的电流以确定通电时间和断电时间。半导体存储器器件可产生通电完成信号和断电完 成信号。存储器控制器可向半导体存储器器件提供时钟信号、命令信号、地址信 号以及输入数据，以响应对应通电完成信号或断电完成信号。根据示例实施例， 一种检测通电或断电的方法可包括基于对应流过多 个功能块的电流的多个读出信号产生多个检测信号；基于通电/断电模式选择 控制信号和检测信号产生多个选择信号；以及响应于通/断控制信号对选择信 号执行逻辑操作，以产生通电完成信号和断电完成信号。附图说明从以下结合附图进行的详细描述中，将更清楚地理解各示例实施例。如 在此描述的，图l-9表示非限制的示例实施例。图1是图示根据示例实施例的存储器系统的方块图2是图示根据示例实施例的通电/断电检测电路的方块图3是图示包括在图2的通电/断电检测电路中的功率检测器的示例的方块图4是图示包括在图2的通电/断电检测电路中的功率检测器的另 一示例 的方块图5是图示图3和图4的功率检测器的磁滞特性的图； 图6是图示包括在图2的通电/断电检测电路中的选择电路和确定电路的 示例的方块图7是图示包括在图2的通电/断电检测电路中的选择电路和确定电路的 另一示例的方块图8和图9是图示图2的通电/断电检测电路的操作的时序图。具体实施例方式在此公开了详细的示例实施例。然而，为了描述各示例实施例的目的， 在此公开的特定结构和功能的细节，仅仅是表示性的。然而，各示例实施例 可包括许多替代的形式，而不应解释为仅限于在此提出的各实施例。因此，尽管各示例实施例能有各种的修改和替代形式，但通过图中的示 例的方式示出其各实施例并且将在此详细描述。然而，应当理解的是，意图 不在于将示例实施例限于公开的特定形式，相反，示例实施例要覆盖所有落 入示例实施例范围之内的修改、等效和替代。贯穿附图的描述，相同的数字 指相同的元件。将理解的是，尽管术语第一、第二等在此可用于描述各种元件，但是这 些元件不应受这些术语限制。使用这些术语仅仅为了将一个元件与另一个区 别。例如，第一元件可以称为第二元件，并且类似地，第二元件可以称为第 一元件而不脱离示例实施例的范围。如在此使用的，术语"和/或"包括一个 或多个相关联的、列出的项目的任何以及所有结合。将理解的是，当元件被称为"连接"或"耦合"至另一元件时，其可以 直接连接或耦合到其他元件、或可以存在中间元件。相反，当元件被称为"直 接连接"或"直接耦合"至另一元件时，不存在中间元件。用于描述各元件 之间关系的其他字，应当以类似方式解释(例如，"在之间(between)"相对 "直接在之间(directlybetween)"、"相邻"相对"直接相邻，，等)。在此使用的术语，仅仅是为描述特定实施例的目的而意图不在于限于示 例实施例。如在此使用的，单数形式"一个(a)"、"一个(an)"和"该"意图在于也包括复数形式，除非上下文清楚地另外指示。还将理解的是，当在jMM吏用术"i吾"包4舌(comprise )"、"包4舌(comprising )，，、"包4舌(includes )" 和/或"包括(including)"时，指定陈述的特征、整体(integer)、步骤、操 作、元件和/或部件的存在，但是不排除一个或多个其他特征、整体、步骤、 操作、元件、部件和/或其组合的存在或增加。还应当注意的是，在一些替代实现中，提到的功能/动作可能出现颠倒图 中提到的顺序。例如，依赖于涉及的功能/动作，以连续方式示出的两个图实 际上可能实际基本并发地执行或有时可能以相反顺序执行。除非另外定义，在此使用的所有术语(包括技术的和科学的术语)，具有 与示例实施例所属领域的普通技术人员的通常理解相同的含义。还将理解的 是，各术语(如在通常使用的字典中定义的那些)应该解释为具有与在相关 技术的上下文中它们的含义一致的含义，并且将不解释为理想化或过于正式 的意义，除非在此清楚地这样表达。图1是图示根据示例实施例的存储器系统1000的方块参考图1,存储器系统1000可包括半导体存储器器件1100和存储器控 制器1200。半导体存储器器件1100可存储或输出数据DATA，以响应时钟信号CLK、 命令信号CMD和地址ADDR。半导体存储器器件1100可实时检测流过各电 路块的电流，以确定通电时间和/或断电时间，并且可产生通电完成信号PU 和/或断电完成信号PD。存储器控制器1200可提供时钟信号CLK、命令信号CMD、地址ADDR 和数据DATA至半导体存储器器件1100,以响应通电完成信号PU或断电完 成信号PD。半导体存储器器本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种通电／断电检测电路，包括：功率检测电路，配置其以基于对应流过多个功能块的电流的多个读出信号产生多个检测信号；选择电路，配置其以基于通电／断电模式选择控制信号和检测信号产生多个选择信号；以及确定电路，配置其以响应于通／断控制信号，对选择信号执行逻辑操作以产生通电完成信号和断电完成信号。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：朴焕旭，金玗燮，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]