【技术实现步骤摘要】
一种基于激光诱导等离子体谱的鉴伪文检系统
本专利技术属于文件鉴伪
,更具体的说是涉及一种基于激光诱导等离子体谱的鉴伪文检系统。
技术介绍
合同、票据等鉴伪检验是文检中的一项重要内容,随着犯罪手段日渐高科技化、智能化,文件造假手段屡见不鲜。纸张、字迹和印章等的一致性或与其它同期文件的一致性,已成为文件鉴伪的关键。对于文件的鉴伪,目前比较常见的方法主要有常规法和光谱法。常规法主要包括文件的常规检验、形成时间的检验、形成方式的检验以及痕迹检验等。光谱法主要包括拉曼光谱法、紫外荧光法、红外热像法和光谱法成像法等。由于文件造假者针对现有的鉴伪方法,实行了多类应对措施,因此,现有的鉴伪手段,在一定程度上已经不再适合文件造假的鉴别,急需发展新式鉴伪文检技术。因此,如何提供一种基于激光诱导等离子体谱的鉴伪文检系统是本领域技术人员亟需解决的问题。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术提供了一种基于激光诱导等离子体谱的鉴伪文检系统,可对文案及文物进行鉴定和识别,且鉴别准确率高。为了实现上述目的,本专利技术采用如下技术方案:一种基于激光诱导等离子体谱的鉴伪文检系统,包括:激发光激光器、指示光激光器、同轴光学系统、光谱采集光纤、电控系统、XYZ三维电控平移台和控制计算机;其中,所述激发光激光器、所述指示光激光器、所述XYZ三维电控平移台和所述控制计算机均与所述电控系统电性连接;所述指示光激光器产生的指示光束经所述同轴光学系统后,照射到所述XYZ三维电控平移台承载的待测样本上,实现待测目 ...
【技术保护点】
1.一种基于激光诱导等离子体谱的鉴伪文检系统,其特征在于,包括:激发光激光器(100)、指示光激光器(200)、同轴光学系统(300)、光谱采集光纤(400)、电控系统(500)、XYZ三维电控平移台(600)和控制计算机(700);其中,所述激发光激光器(100)、所述指示光激光器(200)、所述XYZ三维电控平移台(600)和所述控制计算机(700)均与所述电控系统(500)电性连接;所述指示光激光器(200)产生的指示光束经所述同轴光学系统(300)后,照射到所述XYZ三维电控平移台(600)承载的待测样本上,实现待测目标区域的选择;所述激发光激光器(100)产生的激发光束经所述同轴光学系统(300)后,照射到所述XYZ三维电控平移台(600)承载的待测样本上,实现待测区域激光等离子体的激发,激发后的激光等离子体,聚焦到所述光谱采集光纤(400)的端头,实现激光诱导等离子体谱的耦合,耦合后的激光等离子体谱,经所述光谱采集光纤(400)传到电控系统,实现光谱的采集,经所述控制计算机(700)解析,生成光谱数据。/n
【技术特征摘要】
1.一种基于激光诱导等离子体谱的鉴伪文检系统,其特征在于,包括:激发光激光器(100)、指示光激光器(200)、同轴光学系统(300)、光谱采集光纤(400)、电控系统(500)、XYZ三维电控平移台(600)和控制计算机(700);其中,所述激发光激光器(100)、所述指示光激光器(200)、所述XYZ三维电控平移台(600)和所述控制计算机(700)均与所述电控系统(500)电性连接;所述指示光激光器(200)产生的指示光束经所述同轴光学系统(300)后,照射到所述XYZ三维电控平移台(600)承载的待测样本上,实现待测目标区域的选择;所述激发光激光器(100)产生的激发光束经所述同轴光学系统(300)后,照射到所述XYZ三维电控平移台(600)承载的待测样本上,实现待测区域激光等离子体的激发,激发后的激光等离子体,聚焦到所述光谱采集光纤(400)的端头,实现激光诱导等离子体谱的耦合,耦合后的激光等离子体谱,经所述光谱采集光纤(400)传到电控系统,实现光谱的采集,经所述控制计算机(700)解析,生成光谱数据。
2.根据权利要求1所述的一种基于激光诱导等离子体谱的鉴伪文检系统,其特征在于,所述激发光激光器(100)包括激光器一(101)、整形扩束系统一(102)和激光电源一(103),所述激光器一(101)发出窄脉冲激光,工作波长为1064nm、532nm、355nm或266nm;所述激光电源一(103)为所述激光器一(101)供电,所述激光器一(101)产生的激发激光经整形扩束系统一(102)变成适当直径的平行的激发光束。
3.根据权利要求1所述的一种基于激光诱导等离子体谱的鉴伪文检系统,其特征在于,所述指示光激光器(200)包括激光器二(201)、整形扩束系统二(202)和激光电源二(203),所述激光器二(201)发出的激光为可见光波段的连续激光,所述激光电源二(203)为所述激光器二(201)供电,所述激光器二(201)产生的指示激光经整形扩束系统二(202)变成适当直径的平行的指示光束。
4.根据权利要求1所述的一种基于激光诱导等离子体谱的鉴伪文检系统,其特征在于,所述同轴光学系统(300)包括聚焦搜光镜(301)、小孔光阑(302)、聚焦准直镜(303)、同轴耦合镜(304)、聚焦镜(305)和合束镜(306),从所述XYZ三维电控平移台(600)上的待测样本到所述光谱采集光纤的光路轴线之间依次设置有所述聚焦搜光镜(301)、所述小孔光阑(302)、所述聚焦准直镜(303)、所述同轴耦合镜(304)和聚焦镜(305);从所述合束镜(306)到所述XYZ三维电控平移台(600)上的待测样本的光路依次设置有所述同轴耦合镜(304)、所述聚焦准直镜(303)、所述小孔光阑(302)和所述聚焦搜光镜(301)。...
【专利技术属性】
技术研发人员:李昌立,
申请(专利权)人:菲兹克光电长春有限公司,
类型:发明
国别省市:吉林;22
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