【技术实现步骤摘要】
一种激发光强相关的绝对光致发光量子效率测量方法
本专利技术涉及电致发光材料
，尤其涉及的是一种激发光强相关的绝对光致发光量子效率测量方法。
技术介绍
随着现今显示技术的快速发展，用于电致发光的新型材料被广泛研究。无论是无机量子点、有机半导体还是有机-无机杂化钙钛矿等半导体材料，其发光性能优劣都可以使用光致发光量子效率(PLQE)来衡量。目前，一般采用积分球和光谱仪结合的量子效率测试技术来对此进行性能评价。但是，研究者在测试中发现，单一激发强度条件下的量子效率对实际应用的参考意义有限，这是因为材料内部的非辐射复合和辐射复合与载流子浓度相互依赖，而载流子浓度又与激发强度密切相关，造成其发光效率在不同激发强度下具有不同的数值。在电致发光应用中，稳态电致激发载流子浓度具有不确定性，为了全面反映发光材料特性，激发光强相关的绝对光致发光量子效率(PLQE)测试十分必要。现有的绝对光致发光量子效率(PLQE)测试技术仅针对单一激发强度条件进行测量，对实际应用的参考意义有限。这是因为对于大部分发光材料，其绝对PLQE在不同激发...
【技术保护点】
1.一种激发光强相关的绝对光致发光量子效率测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤一：测量单一固定激发强度的绝对光致发光量子效率，步骤二：获得不同光强下的相对光致发光量子效率；步骤三：将步骤一中固定激发强度的绝对量子效率数值η与步骤二获得的相对光致发光量子效率比对，找到该激发强度下的相对光致发光量子效率R(x)并进行替换，其它激发强度下的相对光致发光量子效率也按该比例放大或缩小，以此获得不同光强下的绝对光致发光量子效率。/n
【技术特征摘要】
1.一种激发光强相关的绝对光致发光量子效率测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤一：测量单一固定激发强度的绝对光致发光量子效率，步骤二：获得不同光强下的相对光致发光量子效率；步骤三：将步骤一中固定激发强度的绝对量子效率数值η与步骤二获得的相对光致发光量子效率比对，找到该激发强度下的相对光致发光量子效率R(x)并进行替换，其它激发强度下的相对光致发光量子效率也按该比例放大或缩小，以此获得不同光强下的绝对光致发光量子效率。
2.根据权利要求1所述的激发光强相关的绝对光致发光量子效率测量方法，其特征在于，所述步骤一采用基于积分球探测系统实现的单一固定激发强度的绝对光致发光量子效率测量，基于积分球探测系统包括激光器(1)、斩波器(2)、可移动反射镜(3)、积分球(4)、光纤(5)、光谱仪(6)和计算机(7)，所述激光器(1)作为激发光源经过斩波器(2)对激光进行调制后，通过反射镜(3)进入积分球(4)，经过积分球内壁漫反射后由出口经光纤(5)耦合进入光谱仪(6)内，光谱仪(6)信号输出端与计算机(7)输入端连接。
3.根据权利要求2所述的激发光强相关的绝对光致发光量子效率测量方法，其特征在于，所述单一固定激发强度的绝对光致发光量子效率测量具体过程为：
第一步，首先测量暗噪声光谱，然后将标准灯置于积分球内部测量光谱，扣除暗光谱后获得标准灯光谱，与标准灯绝对光谱比对获得测试系统响应函数，取出标准灯；
第二步，将激光器发出的激光使用斩波器调制后通过反射镜入射到积分球内，获得无样品激光光谱；
第三步，将样品置于积分球内，使入射激光偏离样品，获得偏离样品条件下的激光和样品荧光光谱；
第四步，调整可移动反射镜，使入射激光直射样品，获得直射样品条件下的激光和样品荧光光谱，第二至第四步中获得光谱均已扣除暗噪声光谱；
第五步，使用光强计测量直射样品的激光功率和激光光斑大小，测得光功率与光斑面积比值即为该测试条件下的激发光功率密度；
第六步，使用第一步的系统响应函数，对第二至第四步获得的光谱进行校正，并利用公式将校准后的光谱转化成光子数：
其中，P(λ)为校准后的绝对光谱，且校准后的绝对光谱为测量光谱与系统响应函数乘积，λ表示波长，h为普朗克常量，c表示光速；
第七步，按照第六步所述步骤，对第二至第四步的光子数分布光谱进行积分，获得激光的光子数La、Lb、Lc和荧光光子数Pb、Pc，其中La表示第二步无样品时激光光子数，Lb表示第三步偏离样品时激光光子数，Lc表示第四步直射样品时激光光子数，Pb表示第三步偏离样品时样品发射的荧光光子数，Pc表示第四步直射样品时样品发射的荧光光子数；
第八步，将La、Lb、Lc和Pb、Pc代入公式后获得绝对量子效率η，其中A＝1-Lc/Lb，A表示吸收率。
4.根据权利要求1所述的激发光强相关的绝对光致发光量子效率测量方法，其特征在于，所述步骤二基于锁相探测系统实现，锁相探测系统包括激光器(1)、斩波器(2)、梯度衰减片(9)、分束器(10)、透镜(11)、短通滤光片(12)、探测器A(13)、长通滤光片(16)、探测器B(17)、锁相放大器(14)、数字源表(15)和计...
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