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一种长余辉发光测试装置制造方法及图纸

技术编号:26103117 阅读:40 留言:0更新日期:2020-10-28 18:03
本实用新型专利技术涉及一种长余辉发光测试装置,其包括,依次层叠的第一暗室、第二暗室以及第三暗室,第一暗室与第二暗室之间由第一隔板隔开,第二暗室与第三暗室之间由第二隔板隔开,第一隔板上设置有第一通光孔,第二隔板上设置有第二通光孔,第一通光孔与第二通光孔相对设置,样品架设置于第一暗室中的第一通光孔处;第二暗室中设置有激活光源、驱动部件、余辉测试位置以及余辉激活位置,驱动部件控制激活光源在余辉测试位置以及余辉激活位置之间移动;第三暗室中设置有检测器,检测器受光面正对第二通光孔位置。该装置结构简单,其简单紧凑的结构设置能够避免样品以及检测器位置移动不重复引起的余辉亮度测量误差,测试结果准确可靠。

【技术实现步骤摘要】
一种长余辉发光测试装置
本技术涉及发光材料的测试仪器领域,尤其涉及一种长余辉发光测试装置。
技术介绍
长余辉发光材料是能够在光照时将接收的入射光能量部分储存起来,停止光照后又能将储存的能量以光辐射的形式释放出来,并持续较长时间的一类材料。长余辉发光材料的这种特性,使得其应用于显示技术,安全指示材料和生物医学分析等多个领域中。有关长余辉发光材料的研究离不开对其长余辉发光性质的测试。进行这一测试时,需将所要测试的发光材料样品在特定波长的激发光照射一定时间后,监测记录其余辉发光强度随时间的变化,得到其余辉衰减曲线。虽然目前市场上已推出了一些长余辉发光测试装置,但这些装置中,通常将样品在长余辉发光测试仪器外部,用特定的光激发一段时间后,再将样品放入长余辉发光测试仪器进行检测。这一测试方式在实际使用中有明显得缺点:样品光照后向测试仪器转移过程中易于受到外界光的照射,从而对测试结果产生明显的干扰,特别是对样品激活波长的优化和样品长余辉亮度测量的准确度带来误差;样品的转移过程通过人工进行,使得完成该过程的时间延迟有显著的不确定性,导致对样品长余辉初始本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种长余辉发光测试装置,其中设置有样品架,其特征在于:还包括,依次层叠的第一暗室(1)、第二暗室(2)以及第三暗室(3),所述第一暗室(1)与所述第二暗室(2)之间由第一隔板隔开,所述第二暗室(2)与所述第三暗室(3)之间由第二隔板隔开,所述第一隔板上设置有第一通光孔(4),所述第二隔板上设置有第二通光孔(5),所述第一通光孔(4)与所述第二通光孔(5)相对设置,样品架设置于所述第一暗室(1)中的第一通光孔(4)处;/n所述第二暗室(2)中设置有激活光源(8)、驱动部件(7)、余辉测试位置以及余辉激活位置,所述驱动部件(7)控制所述激活光源(8)在所述余辉测试位置以及所述余辉激活位置之间移...

【技术特征摘要】
1.一种长余辉发光测试装置,其中设置有样品架,其特征在于:还包括,依次层叠的第一暗室(1)、第二暗室(2)以及第三暗室(3),所述第一暗室(1)与所述第二暗室(2)之间由第一隔板隔开,所述第二暗室(2)与所述第三暗室(3)之间由第二隔板隔开,所述第一隔板上设置有第一通光孔(4),所述第二隔板上设置有第二通光孔(5),所述第一通光孔(4)与所述第二通光孔(5)相对设置,样品架设置于所述第一暗室(1)中的第一通光孔(4)处;
所述第二暗室(2)中设置有激活光源(8)、驱动部件(7)、余辉测试位置以及余辉激活位置,所述驱动部件(7)控制所述激活光源(8)在所述余辉测试位置以及所述余辉激活位置之间移动;
所述第三暗室(3)中设置有检测器(10),所述检测器(10)受光面正对所述第二通光孔(5)位置。

【专利技术属性】
技术研发人员:孟建新谭晓晴黄利娟
申请(专利权)人:暨南大学
类型:新型
国别省市:广东;44

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