一种微电信处理架构的联合测试行动小组测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种微电信处理架构的联合测试行动小组测试系统，该系统包括外部测试单元、微电信处理架构的主控板（ＭＣＨ）和先进子卡（ＡＭＣ）；其中，外部测试单元，与ＭＣＨ和ＡＭＣ的联合测试行动小组（ＪＴＡＧ）接口采用总线方式连在一起，用于作为主装置ｍａｓｔｅｒ，对ＭＣＨ和ＡＭＣ进行测试；ＭＣＨ，用于作为ｍａｓｔｅｒ，测试所述ＡＭＣ；或者作为从装置ｓｌａｖｅ被所述外部测试单元测试；ＡＭＣ，用于作为ｓｌａｖｅ被当前ｍａｓｔｅｒ测试。采用本发明专利技术，无需实现ＪＴＡＧ交换模块（ＪＳＭ），并且能实现将选定的ｍａｓｔｅｒ和设定的ｓｌａｖｅ相连，逐步完成对ｓｌａｖｅ的测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及联合测试行动小组(JTAG, JOINT TEST ACTION GROUP )测 试技术，尤其涉及一种孩i电信处理架构(MicroTCA, Micro Telecommunication Computing Architecture )的JTAG测试系统。
技术介绍
JTAG协议是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试。PCI工业计 算机制造组织(PICMG， PCI Industrial Computer Manufacturers Group )制定了 一套MicroTCA规范，目的是能让先进子卡(AMC， Advanced Mezzanine Card) 可以直接插在背板上。MicroTCA因其尺寸小、扩展性和灵活性好、以及成本 因素等特点适合无线基站侧设备等的使用。测试是MicroTCA的一个较为重要的部分，MicroTCA的测试可以用JTAG 接口来实现。图1为现有MicroTCA的JTAG测试系统的组成结构图。如图1 所示，现有MicroTCA的JTAG测试系统包括外部测试单元111;两块MicroTCA 的主控板(MCH， MicroTCA Carrier Hub),分别标记为第一 MCH211、第二 MCH212; JTAG交换模块(JSM, JTAG Switch Module ) 311;十二块AMC, 分别标记为第一 AMC411 ~第十二 AMC422。并且图l中，外部测试单元111涉及的接口信号包括数据输入信号，以 TDIe表示；数据输出信号，以TDOe表示；测试时钟信号，以TCKe表示；测 试模式选择信号，以TMSe表示；测试复位信号，以TRST#e表示；主用请求 信号，以TMREQ弁e表示；JSM配置模式选择信号，以JSMCONFIG#e表示。第一MCH211涉及的接口信号包括测试数据输入信号，以TDIl表示； 测试数据输出信号，以TDOl表示；测试时钟信号，以TCK1表示；测试模式选择信号，以TMS1表示；测试复位信号，以TRST1表示；主用请求信号，以 TMREQ弁1表示；第一MCH接口方向控制信号，以MCDIR#1表示。第二MCH212 涉及的接口信号包括测试数据输入信号，以TDI2表示；测试数据输出信号， 以TD02表示；测试时钟信号，以TCK2表示；测试模式选择信号，以TMS2 表示；测试复位信号，以TRST2表示；主用请求信号，以TMREQ弁2表示；第 一 MCH接口方向控制信号，以MCDIR#2表示。十二块AMC涉及接口信号的表示方式类型，以第一AMC411为例来说， 第一 AMC411涉及的接口信号包括测试数据输出信号，以STDOl表示；测 试数据输入信号，以STDI1表示；测试模式选择信号，以STMS1表示；测试 时钟信号STCK1表示；测试复位信号，以STRST#1表示。综上所述，需要指出的是，上述涉及同类信号表示方式的区别仅在于最末 位的标识不同，该最末位的标识用于区別对应图1系统的不同组成部分。比如， 以外部测试单元111涉及的测试时钟信号以TCKe表示，第一MCH211涉及的 测试时钟信号以TCK1表示。其中TCK代表测试时钟信号。目前，现有MicroTCA的JTAG测试系统一般采用在MicroTCA机箱的背 板上实现JSM,或在MicroTCA机箱内单独增加一个额外的单板实现JSM。并 且MicroTCA系统的各单板比如MCH和AMC和外部测试单元都通过JTAG接 口连在JSM上。那么，在MicroTCA的JTAG测试系统中，外部测试单元作为 发起测试的主装置master能通过JTAG接口测试系统的MCH和AMC。 MCH 既能作为master来测试系统的AMC和系统中的其他MCH,又能作为从装置 slave ^皮其它的master测试。AMC只能作为slave #皮master测试。这里，JSM 的作用主要有两点 一是对外部测试单元而言，系统的MCH中，将哪个MCH 作为master的选4奪；二是把选定的master和设定的slave相连，逐步对slave进 行测试。综上所述，现有^支术需要实现JSM，并通过JSM的作用，选定master后， 将选定的master和设定的slave相连，逐步对slave进行测试。那么，如果采用 在背板上实现JSM，则将增加背板的复杂度，加工的时候会增加一道贴片工序。如果采用增加一个额外的单;tl实现JSM的话，则势必会增加MicroTCA的JTAG 测试系统的制造成本。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的主要目的在于提供一种MicroTCA的JTAG测试系统， 无需实现JSM,并且能实现将选定的master和设定的slave相连，逐步完成对 slave的观'H式。为达到上述目的，本专利技术的技术方案是这样实现的一种MicroTCA的JTAG测试系统，该系统包括外部测试单元、MCH和 AMC;其中，外部测试单元，与所述MCH和所述AMC的JTAG接口采用总线方式连在 一起，用于作为master,对所述MCH和所述AMC进4亍测试；MCH，用于作为master,测试所述AMC;或者作为slave被所述外部测试 单元测试；AMC,用于4乍为slave #皮当前master观'J i式。其中，所述外部测试单元与所述MCH和所述AMC的信号连接方式为 TDI连接到所述MCH和所述AMC的TDO,所述外部测试单元的TDO连接到 所述MCH和所述AMC的TDI。其中，所述MCH还包括判决模块，则MCH进一步根据所述判决模块预设 的判决方式判定所述系统中的当前master，对所述系统中的当前slave进行测试。其中，当所述MCH为第一MCH时，所述判决^^莫块中预设的判决方式为判断TMREQ^e信号是否有效，如有效，则判定所述外部测试单元为master, 所述第一 MCH作为slave;当TMREQ#e信号无效，判断TMREQ#1信号是否 有效，有效则第一 MCH作为master,其它条件下都默i人为slave。其中，当所述MCH为第一 MCH和第二 MCH,并且当前MCH为第二 MCH 时，所述判决模块中预设的判决方式为判断TMREQ#e信号是否有效，如有效，则所述外部测试单元为master,所述第二 MCH作为slave;当TMREQ#e信号无效，须判断TMREQ#1信号是 否有效，有效则所述第一MCH为master,所述第二MCH作为slave;当TMREQ#e 和TMREQ#1信号都无效时，判断TMREQ#2信号，有效则第二 MCH作为 master,其它条件下都默认为slave。其中，所述外部测试单元与所述MCH的信号连接方式进一步为 将TMREQ弁e信号连接到所述第一MCH和所述第二MCH上；并且，将第 一 MCH的TMREQ#1连接到第二 MCH上；将第二 MCH的TMREQ#2连到第 一 MCH上。本专利技术的系统包括外部测试单元、MCH和AMC。以系统中包括两块MCH 举例来说，针对背板实现部分而言，本专利技术无需实现JSM,只需把各MCH和 各AMC以及外部测试单元的JTAG接口采用总线方式连在一起。并且，需要 指出的是，外部测试单元的TDI连到各MCH和各AMC的TDO;外部测试单 元的T本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微电信处理架构的联合测试行动小组测试系统，其特征在于，该系统包括外部测试单元、微电信处理架构的主控板ＭＣＨ和先进子卡ＡＭＣ；其中，外部测试单元，与所述ＭＣＨ和所述ＡＭＣ的联合测试行动小组ＪＴＡＧ接口采用总线方式连在一起，用于作为主装置ｍａｓｔｅｒ，对所述ＭＣＨ和所述ＡＭＣ进行测试；ＭＣＨ，用于作为ｍａｓｔｅｒ，测试所述ＡＭＣ；或者作为从装置ｓｌａｖｅ被所述外部测试单元测试；ＡＭＣ，用于作为ｓｌａｖｅ被当前ｍａｓｔｅｒ测试。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王强，胡浩，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]