【技术实现步骤摘要】
一种LED显示模组芯片的ESD测试方法
本专利技术涉及LED显示屏领域,特别是指一种LED显示模组芯片的ESD测试方法。
技术介绍
在LED显示屏的LED显示模组生产过程中,需要对LED显示模组的芯片进行ESD测试(静电放电测试),以验证LED显示模组的芯片是否满足静电防护等级要求。目前对LED显示模组的芯片进行ESD测试,要对芯片的各引脚逐一进行静电放电测试;其中对芯片的每个引脚进行静电放电测试时,要将静电放电发生器的枪头抵靠在芯片的引脚上,然后进行电压值由低到高的接触放电;由于需要将静电放电发生器的枪头抵靠在芯片的引脚上,且需要对芯片的各引脚逐一进行测试,测试费时费力,严重影响测试效率。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种LED显示模组芯片的ESD测试方法,其测试效率高。为了达成上述目的,本专利技术的解决方案是:一种LED显示模组芯片的ESD测试方法,其包括如下步骤:步骤一:将LED显示模组进行有效接地,并将LED显示模组点亮;步骤二:将静电放电发生器的放电模式调整为接触放电模式,并将静电放电发生器的测试条件设定为多个预设放电条件中的一种,所述预设放电条件包括测试电压、电压极性、放电次数以及放电间隔时间;且其中静电放电发生器的放电枪安装的放电电极为圆锥形放电电极;步骤三:触发静电发生器的放电枪开关而使得放电枪的放电电极放电,同时将放电枪的放电电极的尖端在LED显示模组的芯片的各引脚正上方来回移动,直至放电枪放电结束;其中将放电枪的放电电极的尖端在 ...
【技术保护点】
1.一种LED显示模组芯片的ESD测试方法,其特征在于:包括如下步骤:/n步骤一:将LED显示模组进行有效接地,并将LED显示模组点亮;/n步骤二:将静电放电发生器的放电模式调整为接触放电模式,并将静电放电发生器的测试条件设定为多个预设放电条件中的一种,所述预设放电条件包括测试电压、电压极性、放电次数以及放电间隔时间;且其中静电放电发生器的放电枪安装的放电电极为圆锥形放电电极;/n步骤三:触发静电发生器的放电枪开关而使得放电枪的放电电极放电,同时将放电枪的放电电极的尖端在LED显示模组的芯片的各引脚正上方来回移动,直至放电枪放电结束;其中将放电枪的放电电极的尖端在LED显示模组的芯片的各引脚正上方来回移动时,放电枪的放电电极尖端与芯片各引脚的高度差大于零且小于等于2mm;/n步骤四:若在步骤三结束后,LED显示模组工作出现异常,则结束测试;/n而若在步骤三结束后,LED显示模组正常工作,则先将静电放电发生器的测试条件中的电压极性调整为相反极性后重复步骤三;在重复步骤三后,若LED显示模组工作出现异常,则结束测试;而若在重复步骤三后,LED显示模组正常工作,则进入步骤五:/n步骤五:将静 ...
【技术特征摘要】
1.一种LED显示模组芯片的ESD测试方法,其特征在于:包括如下步骤:
步骤一:将LED显示模组进行有效接地,并将LED显示模组点亮;
步骤二:将静电放电发生器的放电模式调整为接触放电模式,并将静电放电发生器的测试条件设定为多个预设放电条件中的一种,所述预设放电条件包括测试电压、电压极性、放电次数以及放电间隔时间;且其中静电放电发生器的放电枪安装的放电电极为圆锥形放电电极;
步骤三:触发静电发生器的放电枪开关而使得放电枪的放电电极放电,同时将放电枪的放电电极的尖端在LED显示模组的芯片的各引脚正上方来回移动,直至放电枪放电结束;其中将放电枪的放电电极的尖端在LED显示模组的芯片的各引脚正上方来回移动时,放电枪的放电电极尖端与芯片各引脚的高度差大于零且小于等于2mm;
步骤四:若在步骤三结束后,LED显示模组工作出现异常,则结束测试;<...
【专利技术属性】
技术研发人员:徐惠能,赖敏诚,
申请(专利权)人:厦门强力巨彩光电科技有限公司,
类型:发明
国别省市:福建;35
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