The utility model relates to the technical field of semiconductor lasers, in particular to an aging test device for semiconductor lasers. Semiconductor laser aging test device includes: airflow hood, positioning device, temperature sensor, heater and circuit board; circuit board is set at the opening end of airflow hood, positioning device is set inside airflow hood, heater is set at the far end of positioning device from circuit board, and heater is used at the far end of positioning device for positioning measured device. Temperature sensor and heater are all connected with circuit board. Electrical connection; Temperature sensor is used to detect the temperature information of the device under test, and the temperature information of the device under test is transmitted to the circuit board. The circuit board controls the heat of the heater according to the temperature information of the device under test, so that the device under test can reach the preset temperature. Thus, the temperature of the device under test can be accurately controlled. In order to alleviate the technical problems existing in the existing technology that can not accurately monitor the temperature of each device under test.
【技术实现步骤摘要】
半导体激光器老化试验装置
本技术涉及半导体激光器
,尤其是涉及一种半导体激光器老化试验装置。
技术介绍
随着社会的发展和科技的不断进步,半导体激光器因具有体积小、重量轻、转换效率高、可靠性好等优点而广泛应用于光通信、信息存储、医疗、光传感以及泵浦固体激光器和光纤放大器等领域。在上述应用领域中,寿命是保障其应用的是一个决定性的因素,也是关系到能否能商品化的主要因素。半导体激光器的最有效的寿命考核方法是进行电老化试验,就是在一定电流下观察器件在老化期间输出。半导体激光器的老化过程在一定程度上决定了产品的耐用性、可靠性,而老化所用到的老化器件就对产品起到关键性作用。由于半导体激光器在通电老化过程中存在发热问题,发热在一定程度上影响了整个半导体激光器的老化过程,如果老化过程中不能考虑激光器的自热问题,就会影响寿命考核试验结果,影响器件的使用。所以说半导体激光器的老化试验装置对激光器的寿命考核至关重要。目前,通常利用烘箱或夹具进行半导激光器的老化试验,无法针对每个被测器件的温度进行精确的监控。
技术实现思路
本技术的目的在于提供的一种半导体激光器老化试验装置,以缓解现有技术中存在无法针对每个被测器件的温度进行精确的监控的技术问题。本技术提供的一种半导体激光器老化试验装置,包括:气流罩、定位件、温度传感器、加热件和电路板;所述电路板设置在所述气流罩的开口端,所述定位件设置在所述气流罩的内部,所述加热件设置在所述定位件的远离所述电路板的一端,所述加热件远离所述定位件的一端用于安放被测器件,所述温度传感和加热件均与所述电路板电连接;所述温度传感器用于检测所述被测器件的温度信 ...
【技术保护点】
1.一种半导体激光器老化试验装置,其特征在于,包括:气流罩、定位件、温度传感器、加热件和电路板;所述电路板设置在所述气流罩的开口端,所述定位件设置在所述气流罩的内部,所述加热件设置在所述定位件的远离所述电路板的一端,所述加热件远离所述定位件的一端用于安放被测器件,所述温度传感和加热件均与所述电路板电连接;所述温度传感器用于检测所述被测器件的温度信息,并将所述被测器件的温度信息传递给所述电路板,所述电路板根据所述被测器件的温度信息控制所述加热件的发热量,以使所述被测器件达到预设的温度。
【技术特征摘要】
1.一种半导体激光器老化试验装置,其特征在于,包括:气流罩、定位件、温度传感器、加热件和电路板;所述电路板设置在所述气流罩的开口端,所述定位件设置在所述气流罩的内部,所述加热件设置在所述定位件的远离所述电路板的一端,所述加热件远离所述定位件的一端用于安放被测器件,所述温度传感和加热件均与所述电路板电连接;所述温度传感器用于检测所述被测器件的温度信息,并将所述被测器件的温度信息传递给所述电路板,所述电路板根据所述被测器件的温度信息控制所述加热件的发热量,以使所述被测器件达到预设的温度。2.根据权利要求1所述的半导体激光器老化试验装置,其特征在于,所述半导体激光器老化试验装置还包括导热件;所述导热件设置在所述加热件和所述被测器件之间,所述导热件用于将所述加热件产生的热量均匀传递到所述被测器件上。3.根据权利要求2所述的半导体激光器老化试验装置,其特征在于,所述导热件靠近所述被测器件的一端设置有第一凹槽,所述温度传感器设置在所述第一凹槽中。4.根据权利要求3所述的半导体激光器老化试验装置,其特征在于,所述定位件的内侧设置有第二凹槽,所述第二凹槽用于容纳连接件,所述连接件用于将所述被测器件和所述电路板...
【专利技术属性】
技术研发人员:于渤,闫方亮,董鹏,周德金,
申请(专利权)人:北京聚睿众邦科技有限公司,
类型:新型
国别省市:北京,11
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