The present application relates to a multi-station optical chip testing device with rotation and translation function, belonging to the field of optical chip testing technology. The testing device includes a rotary table for placing optical chips, a test base cover assembly for covering the optical chip, an upper cover lifting mechanism for driving the test base cover assembly lifting, and a lifting mechanism for the rotation. The rotary table is equipped with at least one test base combination for placing at least one of the optical chips, which can solve the problem of low test efficiency and easy damage of optical chips and probes when using manual test flip sockets to test optical chips. The continuous operation of the test unit provides sufficient time for the operator to load and unload, judge the quality of the product and process it. It also improves the production efficiency and provides good environmental adaptability.
【技术实现步骤摘要】
带旋转平移功能的多工位光学芯片测试设备
本技术涉及带旋转平移功能的多工位光学芯片测试设备,属于光学芯片测试
技术介绍
光学摄像光学芯片CMOS图像传感器(CMOSImageSensor,CIS)及其摄像模组互补金属氧化物半导体(ComplementaryMetalOxideSemiconductor,CMOS),广泛应用于工业,医疗和消费等领域。伴随着终端用户对图像处理的要求,以及高像素图像采集和分析技术的发展,该产品在很多领域逐步替代了原始的玻璃光学镜头。由于高像素光学芯片产品质量涉及到每一个终端用户,因此,每颗光学芯片及模组都必须进行功能及可靠性测试。现有的光学芯片测试设备通常为手动测试翻盖式插座。然而,该结构关闭需要测试人员人工压和,打开需要人工拨动卡扣,光学芯片测试效率较低;另外,由于测试设备为翻盖结构,闭合时的滑动容易损伤光学芯片及测试设备中的探针。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种带旋转平移功能的多工位光学芯片测试设备,可以解决光学芯片的测试效率较低且测试过程中易损坏的问题,为达到上述目的,本技术提供如下技术方案:所述测试设备包括用于放置光学芯片的旋转工作台、用于覆盖所述光学芯片的测试基座上盖组合、用于带动所述测试基座上盖组合升降的上盖升降机构、以及用于在所述旋转工作台上平移所述光学芯片的平移机构;所述旋转工作台安装有至少一个测试基座底座组合,每个所述测试基座底座组合用于放置至少一个所述光学芯片。可选地,所述旋转工作台包括位于所述测试基座上盖组合下方的测试工作台、以及在所述旋转工作台上与所述测试工作台互为中心对称的所述装卸工作台。可选地 ...
【技术保护点】
1.一种带旋转平移功能的多工位光学芯片测试设备,其特征在于,所述测试设备包括用于放置光学芯片的旋转工作台、用于覆盖所述光学芯片的测试基座上盖组合、用于带动所述测试基座上盖组合升降的上盖升降机构、以及用于在所述旋转工作台上平移所述光学芯片的平移机构;所述旋转工作台安装有至少一个测试基座底座组合,每个所述测试基座底座组合用于放置至少一个所述光学芯片。
【技术特征摘要】
1.一种带旋转平移功能的多工位光学芯片测试设备,其特征在于,所述测试设备包括用于放置光学芯片的旋转工作台、用于覆盖所述光学芯片的测试基座上盖组合、用于带动所述测试基座上盖组合升降的上盖升降机构、以及用于在所述旋转工作台上平移所述光学芯片的平移机构;所述旋转工作台安装有至少一个测试基座底座组合,每个所述测试基座底座组合用于放置至少一个所述光学芯片。2.根据权利要求1所述的测试设备,其特征在于,所述旋转工作台包括位于所述测试基座上盖组合下方的测试工作台、以及在所述旋转工作台上与所述测试工作台互为中心对称的装卸工作台。3.根据权利要求2所述的测试设备,其特征在于,所述测试工作台和所述装卸工作台均包括预设数量的测试基座底座组合,每个所述测试基座底座组合包括PCB板、位于所述PCB板之上的测试基座,所述测试基座包括至少一个用于放置所述光学芯片的凹槽。4.根据权利要求3所述的测试设备,其特征在于,所述预设数量大于或等于2,所述测试工作台中的测试基座底座组合包括位于所述测试基座上盖组合正下方的测试工位和除所述测试工位之外的测试等待工位。5.根据权利要求2所述的测试设...
【专利技术属性】
技术研发人员:芮晓光,陈洁,任芸丹,余力,夏玉兰,杨芳,
申请(专利权)人:苏州市职业大学,
类型:新型
国别省市:江苏,32
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。