电源测试板及电源测试方法技术

本发明专利技术提供了电源测试板及电源测试方法。电源测试板包括：印刷电路板；一个或多个CPU，设置在所述印刷电路板上；第一组电源，在所述印刷电路板上设置为邻近所述一个或多个CPU以为所述一个或多个CPU供电；多个内存模块，设置在所述一个或多个CPU的相对侧上，并且每两个内存模块与一个CPU相对应；以及第二组电源，在所述印刷电路板上设置为与相应的内存模块相对应以为每个内存模块供电，其中，以预留零器件的方式将所述第一组电源和所述第二组电源设置为待测试的电源。对新一代Intel平台CPU和内存模块的电源评估满足了最大的功耗需求并且满足兼容不同家电源方案供应商。在同样叠层结构，铜箔铺设等条件下，进行针对性强的对比测试。

Power supply test board and power supply test method

The invention provides a power supply test board and a power supply test method. The power supply test board includes: a printed circuit board; one or more CPUs, which are arranged on the printed circuit board; a first set of power supply is arranged on the printed circuit board adjacent to the one or more CPUs to supply power to the one or more CPUs; a plurality of memory modules are arranged on the opposite side of the one or more CPUs, and each two memory modules correspond to one CPU; A second set of power supply is arranged on the printed circuit board to supply power for each memory module corresponding to the corresponding memory module, in which the first set of power supply and the second set of power supply are set as power supply to be tested by reserving parts. The power evaluation of CPU and memory modules of the new generation Intel platform meets the maximum power requirements and is compatible with different power suppliers. In the same laminated structure, copper foil laying and other conditions, a strong contrast test.

【技术实现步骤摘要】
电源测试板及电源测试方法
本专利技术一般地涉及计算机通信领域，更具体地，电源测试板及电源测试方法。
技术介绍
随着云计算技术和需求不断发展，对于云计算的承载终端也有了越来越高的需求。越来越大的计算需求，就要求要有更强大的计算能力，更快的计算速度。这样才能满足云计算的初衷，极大的提供便利。而这些所有额需求，就要求我们的服务器也要跟随时代，不断的提高自己配置和优化，才能满足不断升级的客户需求。在这种情况下，Intel也会不断的提升自己CPU的性能，来提供日益增长的运算量的增加。在IntelCPU升级的过程中，为CPU供电的电压调节器(VoltageRegulator，简称VR)需求也在不断的变化。性能的提高就意味着功耗的增加，也就意味着工作时电流的需求也在提高。电源方案厂商也会根据IntelCPU的升级来更新换代自己的产品。所以每一次CPU的迭代，我们都要采用新的电源方案来进行供电。对于新的电源方案的评估，验证就成了我们所必须进行的工作。完成后，才能将各家的电源方案性能进行对比。最新一代的IntelCPU同样带来了新的电源方案的需求。对于各大电源厂商来说，刚刚推出的电源方案还都是不成熟的。所以在实际用到新一代服务器主板上之前，我们还需要进行相关的测试和验证，来保证电源方案的性能可以达到我们的要求。给我们芯片选型风险降到最低，也给我们提供一个参考。但是每家的方案都不尽相同，有着或多或少的差异。并且每家各自的核心技术都不相同，也就导致对于板卡的需求也不相同。虽然每家都会有自己的验证板，但是不同的叠层结构，不同的电容数量和环境，就导致电源厂商提供的自己方案的测试结果，没有对比的价值。这也给我们的选型带来了难度。无法进行有效的比较，就没有办法选出性能最好的，性价比最高的电源方案。这也就给我们在新一代Intel平台上的电源方案带来了风险和不确定性。
技术实现思路
本专利技术针对现有技术中所存在的无法将不同电源进行有效的比较，无法选出性能最好的，性价比最高的电源方案等缺陷，提供了能够满足多家方案需求的电源评估板，来让我们可以进行有效的测试和验证，然后提供一份有参考价值的专业性数据，供今后主板电源工程师使用电源测试板及电源测试方法。根据本专利技术的一方面，提供了一种电源测试板，包括：印刷电路板；一个或多个CPU，设置在所述印刷电路板上；第一组电源，在所述印刷电路板上设置为邻近所述一个或多个CPU以为所述一个或多个CPU供电；多个内存模块，设置在所述一个或多个CPU的相对侧上，并且每两个内存模块与一个CPU相对应；以及第二组电源，在所述印刷电路板上设置为与相应的内存模块相对应以为每个内存模块供电，其中，以预留零器件的方式将所述第一组电源和所述第二组电源设置为待测试的电源。优选地，所述预留零器件包括电阻器、电容器和信号放大器。优选地，所述待测试的电源为来自于不同电源芯片供应商的多种不同的电源芯片。优选地，通过以下方式设置所述待测试的电源：根据所述待测试的电源修改物料清单；以及根据修改后的物料清单选择并设置与所述待测试的电源相对应的零器件。优选地，所述待测试的电源包括待测试的第一组电源和待测试的第二组电源。优选地，电源测试板还包括多条信号线，用于将所述待测试电源与所述预留零器件电连接，并且将所述待测试的第一组电源和所述待测试的第二组电源分别与所述一个或多个CPU和所述多个内存模块连接。优选地，所述每个内存模块包括8个内存条。根据本专利技术的另一方面，提供了一种电源测试方法，包括：提供印刷电路板，所述印刷电路包括一个或多个CPU、多个内存模块、为一个或多个CPU供电的第一组电源和为所述多个内存模块中的每个内存模块供电的第二组电源；以及以预留零器件的方式将所述第一组电源和所述第二组电源设置为待测试的电源。优选地，以预留零器件的方式将所述第一组电源和所述第二组电源设置为待测试的电源进一步包括：获取来自于不同电源芯片供应商的多个电源芯片；分析所述多个电源芯片中的每个电源芯片的管脚功能；根据不同的管脚功能修改物料清单，并且根据修改后的物料清单选择并设置与所述待测试电源相对应的零器件；以及将所述零器件与所述第一组电源和/或所述第二组电源连接以获得待测试的电源。优选地，将所述多个电源信号的测试结果进行比较，并选择最佳的电源芯片。本专利技术所提供的电源测试板及电源测试方法，使用本专利技术技术方案进行新一代Intel平台CPU和内存模块的电源方案评估可以满足最大的功耗需求并且通过使用本专利技术技术方案，可以满足兼容不同家电源方案供应商。在同样叠层结构，铜箔铺设等条件下，进行针对性强的对比测试。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是根据本专利技术的实施例的电源测试板的实施例的结构图；图2A和图2B是根据本专利技术的实施例的预留零器件的部分电路图，其中，图2A和图2B通过相应的端子A和B连接；以及图3是根据本专利技术的实施例的电源测试方法的流程图。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。图1是根据本专利技术的实施例的电源测试板的实施例的结构图。下文中，将参照图1对电源测试板进行描述。根据本专利技术的实施例的电源测试板，包括：印刷电路板100；一个或多个CPU102，设置在印刷电路板100上；第一组电源112，在印刷电路板100上设置为邻近一个或多个CPU102以为一个或多个CPU102供电；多个内存模块104和106，设置在一个或多个CPU102的相对侧上，并且每两个内存模块104和106与一个CPU102相对应；以及第二组电源108或110，在印刷电路板100上设置为与内存模块相对应以为每个内存模块供电，其中，以预留零器件的方式将第一组电源112和第二组电源108和110设置为待测试的电源。使用根据本专利技术的实施例的电源测试板进行新一代Intel平台CPU和内存模块的电源方案评估可以满足最大的功耗需求并且通过使用该电路测试板，可以满足兼容不同家电源方案供应商。在同样叠层结构，铜箔铺设等条件下，进行针对性强的对比测试。下文中,参照图1对电源测试板进行详细描述。参考图1，根据本专利技术的实施例的电源测试板包括：印刷电路板100；一个或多个CPU102，设置在印刷电路板100上；第一组电源112，在印刷电路板100上设置为邻近一个或多个CPU102以为一个或多个CPU102供电。第一组电源112包括以下5种电源：VCCIO-VR116(0.9-1.1V电源)、VCCANA-VR118(0.9-1.1V电源)、1V8-VR120(1.7-1.9V电源)、VCCIN-VR122(1.6-2V电源)和VCCSA-VR124(0.5-1.1V电源)。电源测试板还包括多个内存模块104和106，设置在一个本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电源测试板，其特征在于，包括：印刷电路板；一个或多个CPU，设置在所述印刷电路板上；第一组电源，在所述印刷电路板上设置为邻近所述一个或多个CPU以为所述一个或多个CPU供电；多个内存模块，设置在所述一个或多个CPU的相对侧上，并且每两个内存模块与一个CPU相对应；以及第二组电源，在所述印刷电路板上设置为与相应的内存模块相对应以为每个内存模块供电，其中，以预留零器件的方式将所述第一组电源和所述第二组电源设置为待测试的电源。

【技术特征摘要】
1.一种电源测试板，其特征在于，包括：印刷电路板；一个或多个CPU，设置在所述印刷电路板上；第一组电源，在所述印刷电路板上设置为邻近所述一个或多个CPU以为所述一个或多个CPU供电；多个内存模块，设置在所述一个或多个CPU的相对侧上，并且每两个内存模块与一个CPU相对应；以及第二组电源，在所述印刷电路板上设置为与相应的内存模块相对应以为每个内存模块供电，其中，以预留零器件的方式将所述第一组电源和所述第二组电源设置为待测试的电源。2.根据权利要求1所述的电源测试板，其特征在于，所述预留零器件包括电阻器、电容器和信号放大器。3.根据权利要求1所述的电源测试板，其特征在于，所述待测试的电源为来自于不同电源芯片供应商的多种不同的电源芯片。4.根据权利要求1所述的电源测试板，其特征在于，其中，通过以下方式设置所述待测试的电源：根据所述待测试的电源修改物料清单；以及根据修改后的物料清单选择并设置与所述待测试的电源相对应的零器件。5.根据权利要求1所述的电源测试板，其特征在于，所述待测试的电源包括待测试的第一组电源和待测试的第二组电源。6.根据权利要求5所述的电源测试板，其特征在于，还包括多条信号线，...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜雨田，杨娟娟，白文记，宿韧，李海杰，
申请(专利权)人：曙光信息产业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：天津,12