一种基板结构和显示设备制造技术

本实用新型专利技术实施例提供一种基板结构和显示设备，该基板结构包括基于该基板结构制作形成的至少一条信号线，以及至少一个检测电路，每个所述检测电路包括一个开关元件以及与该开关元件连接的测试端口，所述开关元件包括用于与测试电压源连接的控制端、用于与一条所述信号线连接的输入端、用于与所述测试端口连接的输出端，所述测试端口用于连接测试设备；所述开关元件在接收到所述测试电压源的测试电压时，所述输入端和输出端导通从而使测试设备根据所述测试端口的输出电压对所述信号线进行测试。本实用新型专利技术通过对所述检测电路的巧妙设计，既能够实现对基板结构中的信号线的检测，又不会对信号线的输出造成影响，同时有效提高显示器的显示品质。

【技术实现步骤摘要】
一种基板结构和显示设备
本技术涉及显示器
，具体而言，涉及一种基板结构和显示设备。
技术介绍
随着显示技术的发展，TFT-LCD(ThinFilmTransistor-LiquidCrystalDisplay，薄膜晶体管液晶显示器)以其绝对的优势(成本低、画质好、功耗低等)在显示领域占据了主导地位，如可以应用到电脑、电视机、手机等视听设备中。但由于现有的TFT-LCD中外设有用于对线路进行检测的testpad,导致TFT-LCD在非测试状态下存在显示不均、显示品质差的问题。
技术实现思路
有鉴于此，本技术提供了一种基板结构和显示设备，能够有效解决上述问题，避免TFT-LCD显示不均的问题。一方面，本技术较佳实施例提供一种基板结构，所述基板结构包括：基于该基板结构制作形成的至少一条信号线，以及至少一个检测电路，每个所述检测电路包括一个开关元件以及与该开关元件连接的测试端口，所述开关元件包括用于与测试电压源连接的控制端、用于与一条所述信号线连接的输入端、用于与所述测试端口连接的输出端，所述测试端口用于连接测试设备；所述开关元件在接收到所述测试电压源的测试电压时，所述输入端和输出端导通从而使测试设备根据所述测试端口的输出电压对所述信号线进行测试。在本技术较佳实施例的选择中，所述至少一条信号线包括数据线和扫描线，所述数据线和所述扫描线交错排列形成多个像素区域；其中，每个像素区域中设置有一个像素单元，任意一行像素单元与一条扫描线连接，任意一列像素单元与一条数据线连接；所述至少一个检测电路包括数据线检测电路和扫描线检测电路，所述数据线检测电路中的开关元件的输入端与所述数据线连接，所述扫描线检测电路中的开关元件的输入端与所述扫描线连接。在本技术较佳实施例的选择中，所述至少一条信号线还包括基于所述基板结构制作形成的触摸线，所述至少一个检测电路还包括触摸线检测电路，其中，所述触摸线检测电路的开关元件的输入端与所述触摸线连接。在本技术较佳实施例的选择中，所述扫描线、数据线、触摸线分别位于不同的层结构中。在本技术较佳实施例的选择中，所述开关元件包括薄膜晶体管TFT，该薄膜晶体管TFT包括栅极、源极和漏极，所述栅极作为所述控制端，所述源极作为所述输入端、所述漏极作为所述输出端。在本技术较佳实施例的选择中，所述开关元件的源极与所述像素单元内的薄膜晶体管TFT的源极同层设置并在同一制造工艺中制作形成。在本技术较佳实施例的选择中，所述测试端口包括能够实现信号传导的金属块或焊垫。在本技术较佳实施例的选择中，所述开关元件的导通电压大于所述像素单元内的薄膜晶体管TFT的导通电压。在本技术较佳实施例的选择中，所述基板结构还包括驱动芯片，所述驱动芯片与所述数据线、扫描线及触摸线连接。另一方面，本技术较佳实施例还提供一种显示设备，所述显示设备包括上述的基板结构。与现有技术相比，本技术提供一种基板结构和显示设备，其中，本技术通过在基板结构上的测试端口前增设一个开关元件，以利用该开关元件的导通性能，既可确保需要检查的线路能正常检查，又能保证不会因为外接测试端口而影响非测试状态下的信号线的正常输出，进而避免现有的TFT-LCD由于设置测试端口导致的显示器显示不均的问题发生，有效提高显示器的显示品质和产品竞争力。同时，本技术给出的基板结构设计简单，实现方便。为使本技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本技术实施例提供基板结构俯视图。图2为本技术实施例提供的基板结构中的检测电路的检测原理示意图。图3为图2中所示的开关元件的结构示意图。图4为本技术实施例中给出的基板结构的另一结构示意图。图5为本技术实施例中给出的基板结构的又一结构示意图。图6为本技术实施例中给出的检测电路连接结构示意图。图7为本技术实施例提供的基板结构的剖面结构示意图。图标：10-基板结构；11-信号线；110-扫描线；111-数据线；112-像素单元；113-触摸线；12-检测电路；120-开关元件；a-输入端；b-输出端；c-控制端；G-栅极；S-源极；D-漏极；121-测试端口；122-扫描线检测电路；123-数据线检测电路；124-触摸线检测电路；13-驱动芯片；20-测试电压源；30-测试设备；40-玻璃基板；50-绝缘层；60-触摸面板。具体实施方式为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例只是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。在本技术的描述中，术语“第一、第二、第三、第四等仅用于区分描述，而不能理解为只是或暗示相对重要性。在本技术的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。如图1所示，为本技术实施例提供的基板结构10的俯视结构示意图，所述基板结构10包括基于该基板结构10制作形成的至少一条信号线11，以及至少一个检测电路12，所述检测电路12与所述信号线11连接。其中，本实施例通过在所述基板结构10上设计所述检测电路12，一方面能够实现对信号线11的有效性、精确性测试，另一方面还能够有效避免现有技术中存在的由于外接测试端口121(test-pad)导致信号线11上的输出异常的问题发生，进一步提高显示器的显示品质以及产品竞争力。具体地，当需要对所述信号线11进行异常检测时，如工作电压值等，可通过为所述检测电路12提供给一个导通电压使得所述基板结构10处于测试状态，即所述检测电路12和所述信号线11导通，以根据该检测电路12的输出电压值判断所述信号线11是否异常。例如，当所述检测电路12上的输出电压值与所述信号线11上的正常工作电压值小于或大于预设值时，则判定所述信号线11异常，并进行报警等以提示工作人员进行异常修复。在此应注意的是，当施加于所述检测电路12上的电压值小于该本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基板结构，其特征在于，所述基板结构包括：基于该基板结构制作形成的至少一条信号线，以及至少一个检测电路；每个所述检测电路包括一个开关元件以及与该开关元件连接的测试端口，所述开关元件包括用于与测试电压源连接的控制端、用于与一条所述信号线连接的输入端、用于与所述测试端口连接的输出端，所述测试端口用于连接测试设备；所述开关元件在接收到所述测试电压源的测试电压时，所述输入端和输出端导通从而使测试设备根据所述测试端口的输出电压对所述信号线进行测试。

【技术特征摘要】
1.一种基板结构，其特征在于，所述基板结构包括：基于该基板结构制作形成的至少一条信号线，以及至少一个检测电路；每个所述检测电路包括一个开关元件以及与该开关元件连接的测试端口，所述开关元件包括用于与测试电压源连接的控制端、用于与一条所述信号线连接的输入端、用于与所述测试端口连接的输出端，所述测试端口用于连接测试设备；所述开关元件在接收到所述测试电压源的测试电压时，所述输入端和输出端导通从而使测试设备根据所述测试端口的输出电压对所述信号线进行测试。2.根据权利要求1所述的基板结构，其特征在于，所述至少一条信号线包括数据线和扫描线，所述数据线和所述扫描线交错排列形成多个像素区域；其中，每个像素区域中设置有一个像素单元，任意一行像素单元与一条扫描线连接，任意一列像素单元与一条数据线连接；所述至少一个检测电路包括数据线检测电路和扫描线检测电路，所述数据线检测电路中的开关元件的输入端与所述数据线连接，所述扫描线检测电路中的开关元件的输入端与所述扫描线连接。3.根据权利要求2所述的基板结构，其特征在于，所述至少一条信号线还包括基于所述基板结构制作形成的触...

【专利技术属性】
技术研发人员：于靖，庄崇营，李林，
申请(专利权)人：信利半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44