装置寿命估计方法、装置设计方法和计算机可读存储介质制造方法及图纸

一种装置寿命预测方法，包括：使用从用户场景池中选择的用户场景情况来执行加载在目标装置上的软件；基于所述软件的执行，针对所述目标装置的各个构成块单元收集使用信息；以及通过分析所收集的使用信息来预测所述目标装置的寿命。

【技术实现步骤摘要】
装置寿命估计方法、装置设计方法和计算机可读存储介质相关申请的交叉引用该专利申请要求于2017年9月14日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请No.10-2017-0117867的优先权，其公开内容通过引用方式整体并入本文。
本公开涉及装置寿命预测方法、装置设计方法和计算机可读存储介质。
技术介绍
可靠性设计(DFR)是指设计可靠的产品。在相关技术中，预测芯片寿命的方法已被用于仅使用理论和推测预测(例如借助全函数矢量)的功能测试，以用于确认芯片的可操作性来验证半导体芯片的设计等。然而，仅使用理论和推测预测的方法(例如借助全函数矢量)存在的问题在于该方法与用户使用装置的实际情况不匹配。换句话说，在仅使用理论和推测预测的情况下(例如借助全函数矢量)，仅执行功能测试而不考虑例如装置用户的实际使用环境。因此，仅使用理论和推测预测固有地限制了寿命预测的准确性。此外，在装置设计期间可能发生过度设计或易受攻击的设计。
技术实现思路
本公开的一个方面提供一种装置寿命预测方法、一种装置设计方法以及一种计算机可读存储介质，其中，考虑例如装置用户的实际使用环境而可以准确地预测装置寿命。改进的寿命预测导致装置设计的改进、装置的生产/制造的改进，并最终导致生产/制造并提供给用户改进的装置或装置的未来版本。根据本公开的一方面，一种装置寿命预测方法包括：使用从用户场景池中选择的用户场景情况来执行加载在具有多个物理构成块单元和存储器的目标装置上的软件，所述用户场景池存储在所述存储器中。所述方法还包括：基于所述软件的执行，针对所述目标装置的多个物理构成块单元中的至少一个，收集使用信息以作为收集的使用信息。所述方法还包括：通过分析所收集的使用信息来预测所述目标装置的寿命以作为预测寿命。根据本公开的一方面，一种装置寿命预测方法包括：使用从用户场景池中选择的用户场景情况来执行加载在具有多个物理构成块单元和存储器的目标装置上的软件，所述用户场景池存储在所述存储器中。所述方法还包括：基于所述软件的执行，收集关于系统的电压变化和温度的变化的信息以作为收集信息。所述方法还包括：通过分析所收集的信息来预测所述目标装置的寿命以作为预测寿命。根据本公开的一方面，一种装置设计方法包括：使用从用户场景池中选择的用户场景情况来执行加载在具有多个物理构成块单元和存储器的目标装置上的软件，所述用户场景池存储在所述存储器中。所述方法还包括：基于所述软件的执行，针对所述目标装置的多个物理构成块单元中的至少一个，收集使用信息以作为收集的使用信息。所述方法还包括：通过分析所收集的使用信息来预测所述目标装置的寿命以作为预测寿命。所述方法还包括：基于所述目标装置的所述预测寿命的信息来改变所述目标装置的设计。根据本公开的一方面，一种计算机可读存储介质包括写在其上并且可由处理器执行以执行装置寿命预测方法的命令。所述装置寿命预测方法包括：使用从用户场景池中选择的用户场景情况来执行加载在目标装置上的软件，所述用户场景池存储在所述存储器中。所述装置寿命预测方法还包括：基于所述软件的执行，针对所述目标装置的多个物理构成块单元中的至少一个，收集使用信息以作为收集的使用信息。所述装置寿命预测方法还包括：通过分析所收集的使用信息来预测所述目标装置的寿命以作为预测寿命。根据本公开的一方面，一种计算机可读存储介质包括写在其上并且可由处理器执行以执行装置设计方法的命令。所述装置设计方法包括：使用从用户场景池中选择的用户场景情况来执行加载在具有多个物理构成块单元和存储器的目标装置上的软件，所述用户场景池存储在所述存储器中。所述装置设计方法还包括：基于所述软件的执行，针对所述目标装置的多个物理构成块单元中的至少一个，收集使用信息以作为收集的使用信息。所述装置设计方法还包括：通过分析所述收集的使用信息来预测所述目标装置的寿命以作为预测寿命。此外，所述装置设计方法包括：基于所述目标装置的所述预测寿命的信息来改变所述目标装置的设计。附图说明根据以下结合附图来理解的详细描述，将更清楚地理解本公开的上述和其他方面、特征和优点，在所述附图中：图1是示出根据本公开的示例实施例的装置寿命预测方法的流程图；图2是示出根据本公开的示例实施例的基于用户场景情况来针对每个构成块单元收集使用信息的示例的示图；图3是示出可以应用本公开的示例实施例的应用处理器(AP)的示意图；以及图4是示出可以应用本公开的示例实施例的应用处理器与其外围装置之间的关系的示意图。具体实施方式在下文中，将参考附图来描述本公开的示例实施例。图1是示出根据示例实施例的装置寿命预测方法的流程图。参考图1，在S110中，可以从包括一个或多个用户场景情况的用户场景池中选择场景情况。如本文所述，术语“用户场景情况”可以指用户在实际使用环境中执行安装在装置中的软件的场景。用户场景情况可以基于由目标装置的用户提供的装置要求的相关信息和/或基于对目标装置的用户的装置使用模式的分析而生成。本文描述的目标装置具有一个或多个物理构成块单元，所述物理构成块单元例如电路、线路(circuitry)、处理器、照相机、发射器、接收器、收发器等。目标装置还具有存储用户场景池的存储器，所述用户场景池包括可以选择的一个或多个用户场景情况。可以监测和收集不同的物理构成块单元的使用信息，并将其用作本文描述的确定的基础。详细地，例如，当目标装置是半导体芯片时，用户场景情况的示例可以包括：关于包括并实现目标装置/半导体芯片的许多不同类型的装置的用户场景。可以针对装置的类型、装置类型的不同模型(甚至可以包括和实现目标装置/半导体芯片的装置类型的每个模型的不同实施例)而生成不同的用户场景情况。针对其开发了不同的用户场景情况的不同类型的装置的示例包括：可以包括半导体芯片以作为目标装置的移动终端、汽车、IOT装置、PC、TV等。此外，每个用户场景情况可以包括使用以下各项中的至少一个或任何一个的信息特性：-多媒体特性(音频、显示器、Wi-Fi显示器等)-视频输入/输出特性(HDMI、eDP等)-通信特性(Wi-Fi、蓝牙、RF等)-相机特性(预览、录制、快照等)-数据存储特性(UFS、eMMC、高速缓冲存储器等)-电源管理特性-连接特性(USB、UART、I2C、SPI、PWM、PCIe等)上面提到的每个特征可以由本文描述的不同物理构成块单元中的一个或多个来实现。上面描述的每种类型的信息特性可以包括使用次数、使用时长、每次使用的处理量、以及特定于现代电子装置的不同类型的能力的使用的类似类型的可导出特性。所述信息可以从例如由本文描述的装置的内核对装置的监测而获得。如上所述，可以基于由目标装置的用户提供的装置要求的相关信息和/或基于对目标装置的装置使用模式的分析来生成用户场景情况。用户场景情况可以包括要安装在装置上的软件类型、所述软件的执行模式或使用模式等，使得针对用户场景情况的寿命预测将基于特定于所述用户场景情况的这些以及其他方面。因此，用户场景情况下的软件信息可以包括软件类型，例如程序名称、程序格式、程序大小、程序执行要求等。随后，可以在S120中基于所选择的用户场景情况来收集关于目标装置的可靠性的信息。在这种情况下，操作S120可以包括在S121中针对目标装置的每个构成块单元收集使用信息，以及在S12本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种装置寿命预测方法，包括：使用从用户场景池中选择的用户场景情况来执行加载在具有多个物理构成块单元和存储器的目标装置上的软件，所述用户场景池存储在所述存储器中；基于所述软件的执行，针对所述目标装置的多个物理构成块单元中的至少一个收集使用信息以作为收集的使用信息；以及通过分析所收集的使用信息来预测所述目标装置的寿命以作为预测寿命。

【技术特征摘要】
2017.09.14 KR 10-2017-01178671.一种装置寿命预测方法，包括：使用从用户场景池中选择的用户场景情况来执行加载在具有多个物理构成块单元和存储器的目标装置上的软件，所述用户场景池存储在所述存储器中；基于所述软件的执行，针对所述目标装置的多个物理构成块单元中的至少一个收集使用信息以作为收集的使用信息；以及通过分析所收集的使用信息来预测所述目标装置的寿命以作为预测寿命。2.根据权利要求1所述的方法，其中，针对所述目标装置的所述多个物理构成块单元中的至少一个收集使用信息包括：基于所述软件的执行，收集所述多个物理构成块单元中的至少一个的使用次数和使用时间，以及所述预测寿命是基于所述多个物理构成块单元中的至少一个的使用次数和使用时间来预测的。3.根据权利要求1所述的方法，其中，针对所述目标装置的所述多个物理构成块单元中的至少一个收集使用信息包括：在执行所述软件期间收集对所述多个物理构成块单元中的至少一个进行内核访问的相关信息，以及所述预测寿命是基于对所述多个物理构成块单元中的至少一个进行内核访问的相关信息来预测的。4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述用户场景情况是基于装置需求信息和装置使用模式分析信息中的至少一个来生成的，所述装置需求信息是从所述目标装置的用户提供的，所述装置使用模式分析信息基于对所述目标装置的用户使用所述目标装置的分析。5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述用户场景情况包括要加载到所述目标装置上的软件的信息和所述软件的执行模式，以及所述预测寿命是基于所述目标装置上加载的软件的信息和所述软件的执行模式来预测的。6.根据权利要求1所述的方法，其中，预测所述目标装置的寿命是通过以下操作来执行的：使用所述目标装置的所述多个物理构成块单元中的至少一个的使用信息来计算所述目标装置的劣化程度，以及基于所述目标装置的劣化程度来预测所述目标装置的寿命。7.根据权利要求1所述的方法，还包括使所述目标装置的预测寿命的信息可视化。8.一种装置寿命预测方法，包括：使用从用户场景池中选择的用户场景情况来执行加载在具有多个物理构成块单元和存储器的目标装置上的软件，所述用户场景池存储在所述存储器中；基于所述软件的执行，收集关于系统的电压和温度的变化的信息以作为收集的信息；以及通过分析所收集的信息来预测所述目标装置的寿命以作为预测寿命。9.根据权利要求8所述的方法，还包括：基于所述软件的执行来针对所述目标装置的所述多个物理构成块单元中的至少一个收集使用信息，其中，所述预测寿命是基于针对所述目标装置的所述多个物理构成块单元中的至少一个的使用信息来预测的。10.根据权利要求9所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：安将赫，金成范，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：韩国,KR