一种用于射线无损检测的微调装置、检测系统及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种用于射线无损检测的微调装置、检测系统及方法，包括：载物台，用于放置待检物；X轴微调机构，连接在载物台下端，用于沿X轴方向移动载物台；Y轴微调机构，连接在X轴微调机构下端，用于沿Y轴方向移动X轴微调机构从而改变载物台的位置。本发明专利技术通过利用微调装置安装在检测系统的旋转台上来对待检物的位置进行微调，使待检物的检测位置尽可能处在检测射线的中心周围，从而有利于在CT系统的投影和重建过程需要满足旋转中心、探测器中心、射线源焦点三者在一条直线上并且垂直于探测器的条件，并快速获得最佳几何放大比，提高CT检查系统的检测精度。

A Fine Tuning Device, Detection System and Method for Nondestructive Radiation Detection

The invention provides a fine-tuning device, a detection system and a method for non-destructive X-ray testing, which includes a loading platform for placing objects to be examined, an X-axis fine-tuning mechanism connected to the lower end of the loading platform for moving the loading platform along the X-axis direction, and a Y-axis fine-tuning mechanism connected to the lower end of the X-axis fine-tuning mechanism for moving the X-axis fine-tuning mechanism along the Y-axis direction to change the position of the loading platform. By installing the fine-tuning device on the rotating table of the detection system, the position of the object is fine-tuned, so that the detection position of the object to be detected is as close as possible around the center of the detection ray, so that the projection and reconstruction process of the CT system needs to satisfy the conditions that the rotating center, the detector center and the focus of the ray source are in a straight line and perpendicular to the detector. The best geometric amplification ratio can be obtained quickly to improve the detection accuracy of CT inspection system.

【技术实现步骤摘要】
一种用于射线无损检测的微调装置、检测系统及方法
本专利技术涉及工业CT无损检测设备
，尤其涉及一种用于射线无损检测的微调装置、检测系统及方法。
技术介绍
工业CT是通过投影数据重建物体二维断面图和三维结构的无损检测技术，能直观、清晰准确地展示物体内部的物质组织结构和物质密度分布，并通过所展示的图像进行物体的内部尺寸测量、缺陷检测、三维逆向设计。它以其无损、高精度、高自动化程度等优点而被广泛应用于汽车、地质勘探、石油勘测、航空航天、文物检测、工业制造工件等各个行业。工业CT无损检测系统是以辐射成像技术为核心，一台完整的工业CT系统至少包括射线源系统、探测系统、机械扫描系统、数据采集传输系统、图像处理系统和控制系统。其中，机械扫描系统是CT系统的基础结构，提供射线源系统、探测器系统以及被测物体的安装载体，同时为CT系统提供高精度多自由度运动功能。常用的机械扫描布局方式有卧式和立式两种。为了满足在不同的载重工件、不同形状工件下旋转台旋转机械精度，对旋转台的刚性、旋转台旋转扰动等都有很高的精度要求，这便是高精度CT系统对其机械控制系统高标准要求。当机械系统的精度越高时，其他控制系统实现件相同是所采集的数据越准确，使得重建图像的数据越准确，图像质量越好。在工业生产中常用CT检测设备对产品进行检测，通常待检物要放置在CT检测设备的检测旋转台上，为了对待检物不同的位置进行检测，在对同一个对象进行的扫描检查中需要多次变换扫描方式得到被检对象的三维投影图像；然而，CT技术检测精度是指通过CT图像所能分辨出被测物体内部最小结构的尺寸，它取决于CT系统空间分辨率，系统机械精度，重建图像质量等，其中重建图像质量直接受限于重建图像时系统旋转中心位置的精确度，当系统空间分辨率和系统机械精度一定时，系统旋转中心位置定位越准确，重建图像质量越好，图像空间分比率越高，系统检测精度就越高。目前，现有的CT检测系统在扫描待检物时，为了充分利用探测器的检测范围，为了对待检物的多个位置进行检测，需要调整待检物在CT设备旋转台上的位置来对待检物进行位置调整使待检物的检测位置尽可能处在检测射线的中心范围，这种方法由于反复开关射线查看待检物的位置以及反复进入铅房手动调整待检物的位置，操作很不方便，而且效率较低，但如果通过直接调整旋转平台，则系统旋转中心不在理想的位置，使得实际控制系统中心偏离理想旋转中心，即实际旋转中心与重建旋转中心偏离，不仅使重建图像变形，而且产出虚线缘等，降低图像清晰度，从而降低CT检测系统的检测精度。
技术实现思路
因此，鉴于上述问题，本专利技术的目的在于克服上述现有技术的不足，提供一种在保证旋转台旋转中心处在CT设备要求的坐标位置时，依然可以对待检物的水平位置进行微调，严格满足检测动作要求从而提高检测精度的用于射线无损检测的微调装置；另外，本专利技术还提供一种用于射线无损检测的检测系统和检测方法。本专利技术解决上述技术问题技术的技术方案如下：一种用于射线无损检测的微调装置，包括：载物台，用于放置待检物；X轴微调机构，连接在所述载物台下端，用于沿X轴方向移动所述载物台；Y轴微调机构，连接在所述X轴微调机构下端，用于沿Y轴方向移动X轴微调机构从而改变所述载物台的位置。本专利技术的有益效果是：通过利用本微调装置安装在检测系统的旋转台上来对待检物的位置进行微调，使待检物的检测位置尽可能处在检测射线的中心周围，从而有利于在CT系统的投影和重建过程需要满足旋转中心、探测器中心、射线源焦点三者在一条直线上并且垂直于探测器的条件，提高CT检查系统的检测精度。同时，由于不是通过直接调整检测系统上的旋转平台，避免系统旋转中心不在理想的位置，使得实际控制系统中心偏离理想旋转中心，即实际旋转中心与重建旋转中心偏离，不仅使重建图像变形，而且产出虚线缘等。另外，在上述技术方案的基础上，本专利技术还可以做如下改进，还可以具有如下附加技术特征。进一步，本实施例的用于射线无损检测的微调装置还包括：连接部件，连接部件的一端连接在Y轴微调机构，另一端用于与无损检测装置的旋转台连接；所述连接部件包括连接轴和用于与旋转台可拆卸连接的下安装台，所述连接轴的上端与Y轴微调机构连接，所述连接轴的下端连接有所述下安装台；可通过将下安装台与旋转台连接，从而将用于射线无损检测的微调装置安装在检测系统的旋转台上，操作方便。进一步，本实施例的用于射线无损检测的微调装置还包括：滑环，套设在所述连接轴上且位于所述Y轴直线滑台和所述下安装台之间；通过滑环，对X轴微调机构、Y轴微调机构传输电源和信号，保证了微调装置和工业CT设备的旋转台可以同步旋转，且有效避免微调装置连接供电电线而在旋转时出现电线缠绕的问题，并且可以不受旋转的角度的限制。进一步，所述滑环包括：内环，与所述连接轴固定连接且能随所述连接轴同步旋转；外环，与所述内环滑动连接，所述外环上连接有外环固定部件，所述外环固定部件的一端与外环连接，另一端固定连接在旋转台下方的固定台上；便于设置向微调装置供电的电线，且在微调装置旋转时出现电线缠绕的问题；另外，对外环进行固定，可防止外环转动，防止电线缠绕。进一步，所述外环固定部件包括：固定块，所述固定块的一端连接在外环上，另一端开设有卡口；连接板，所述连接板的一端连接有与所述卡口适配的插销，另一端开设有卡接槽；固定板，所述固定板的一端固定连接在旋转台下方的固定台上，另一端正对所述连接板的一侧连接有与所述卡接槽相适配的锁紧杆。通过在固定块上开设有卡口，而固定板固定在固定台上，将连接板的插销插入固定块的卡口中，并使固定板上的锁紧杆插入连接板的卡接槽中，从而连接板通过固定板固定，连接板的插销插入卡口后，外环不能转动。进一步，本实施例的用于射线无损检测的微调装置还包括：防护罩，围罩在载物台上且将所述X轴微调机构、所述Y轴微调机构和滑环包裹；通过设置防护罩，保证X轴微调机构、所述Y轴微调机构的电控部分不会由于长期暴露在射线里而损坏。进一步，所述X轴微调机构为X轴直线滑台，所述Y轴微调机构为Y轴直线滑台，所述X轴直线滑台连接在所述Y轴直线滑台的滑台上构成十字滑台结构；有利于让待检物在平面坐标上完成定点运动，线性或者曲线运动。进一步，所述X轴直线滑台和Y轴直线滑台上均设有行程开关，可实现对X轴直线滑台和Y轴直线滑台的机械运动的位置或行程进行限制，使X轴直线滑台和Y轴直线滑台按一定位置或行程自动停止、反向运动，从而防止X轴直线滑台和Y轴直线滑台出现碰撞而降低传动精度。另外，本专利技术还提供一种用于射线无损检测的检测系统，包括上述的用于射线无损检测的微调装置，还包括射线源系统、探测系统、机械扫描系统、数据采集传输系统、图像处理系统和控制系统，且所述射线源系统、所述探测系统、所述机械扫描系统、所述数据采集传输系统、所述图像处理系统均与所述控制系统连接，所述用于射线无损检测的微调装置安装在所述机械扫描系统的旋转台上。将微调装置安装在所述机械扫描系统的旋转台上，而微调装置的控制部分在检测室内，可在检测室外对微调装置进行控制操作，确保操作人员远离射线，保证操作人员人身安全。本专利技术还提供一种用于射线无损检测的检测方法，利用上述的用于射线无损检测的微调装置或上述的用于射线无损检测的检测系统进行无损检测，其检测步骤包括：S1，工业CT本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于射线无损检测的微调装置，其特征在于，包括：载物台，用于放置待检物；X轴微调机构，连接在所述载物台下端，用于沿X轴方向移动所述载物台；Y轴微调机构，连接在所述X轴微调机构下端，用于沿Y轴方向移动X轴微调机构从而改变所述载物台的位置。

【技术特征摘要】
1.一种用于射线无损检测的微调装置，其特征在于，包括：载物台，用于放置待检物；X轴微调机构，连接在所述载物台下端，用于沿X轴方向移动所述载物台；Y轴微调机构，连接在所述X轴微调机构下端，用于沿Y轴方向移动X轴微调机构从而改变所述载物台的位置。2.根据权利要求1所述的一种用于射线无损检测的微调装置，其特征在于，还包括：连接部件，连接部件的一端连接在Y轴微调机构，另一端用于与无损检测装置的旋转台连接；所述连接部件包括连接轴和用于与旋转台可拆卸连接的下安装台，所述连接轴的上端与Y轴微调机构连接，所述连接轴的下端连接有所述下安装台。3.根据权利要求2所述的一种用于射线无损检测的微调装置，其特征在于，还包括：滑环，套设在所述连接轴上且位于所述Y轴直线滑台和所述下安装台之间。4.根据权利要求3所述的一种用于射线无损检测的微调装置，其特征在于，所述滑环包括：内环，与所述连接轴固定连接且能随所述连接轴同步旋转；外环，与所述内环滑动连接，所述外环上连接有外环固定部件，所述外环固定部件的一端与外环连接，另一端固定连接在旋转台下方的固定台上。5.根据权利要求4所述的一种用于射线无损检测的微调装置，其特征在于，所述外环固定部件包括：固定块，所述固定块的一端连接在外环上，另一端开设有卡口；连接板，所述连接板的一端连接有与所述卡口适配的插销，另一端开设有卡接槽；固定板，所述固定板的一端固定连接在旋转台下方的固定台上，另一端正对所述连接板的一侧连接有与所述卡接槽相适配的锁紧杆。6.根据权利要求5所述的一种用于射线无损检测的微调装置，其特征在于，还包括：防护罩，围罩在载物台上且将所述X轴微调机构、所述Y轴微调机构和所述滑环包裹。7.根据权利要求1至6任一项所述的一种用于射线无损检测的微调装置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：武慧，唐起波，
申请(专利权)人：上海博物馆，上海恩迪检测控制技术有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31