一种ICT测试仪制造技术

本实用新型专利技术公开一种ICT测试仪，包括天板，受驱动地朝向电路板的元件面移动；电气元件引脚测试机构，设置在天板上，用于测试引脚位于元件面上的电气元件是否可以正常使用；电解电容插反测试机构，设置在天板上，用于测试元件面上的电解电容是否插反；针座插反测试机构，设置在天板上，用于测试元件面上待测试的针座是否插反。通过将电气元件引脚测试机构、电解电容插反测试机构和针座插反测试机构同时设置在天板上，解决的技术问题在于现有技术中的ICT测试仪的天板测试功能性单一，缺乏对位于电路板元件面上电气元件的全面检查，无法同时检查位于电路板元件面上不同电气元件是否插反的问题。

An ICT Tester

The utility model discloses an ICT tester, which comprises a ceiling, which is driven to move towards the component surface of a circuit board; an electrical component pin testing mechanism is arranged on the ceiling to test whether the electrical component with pins on the component surface can be used normally; and an electrolytic capacitance plug-in reverse testing mechanism is arranged on the ceiling to test whether the electrolytic capacitance on the component surface can be plugged in reverse. The socket anti-test mechanism is arranged on the ceiling to test whether the needle socket to be tested on the component surface is insert anti-test. By setting the pin test mechanism, the electrolytic capacitor plug back test mechanism and the pin plug back test mechanism on the ceiling at the same time, the technical problem solved is that the ceiling test function of the ICT tester in the existing technology is single, lacking the comprehensive inspection of the electrical components on the surface of the circuit board components, and unable to simultaneously check the different electrical components on the surface of the circuit board components. The question of whether to insert the opposite.

【技术实现步骤摘要】
一种ICT测试仪
本技术涉及测试治具
，具体涉及一种用于检测电路板的ICT测试仪。
技术介绍
随着电子技术的不断发展，电子产品正不断丰富着我们的生活，而电路板作为其中最重要的部分，其好坏关系着产品本身的性能及质量。为了保证电路板质量就需要ICT测试仪对电路板进行测试，ICT是一种高精度的电子元器件性能检测设备，其原理就相当于一个大型的万用表，利用探针与元件的测试点导通来采集电参数，然后通过软件的处理，来实现故障测试可控。现有的ICT测试仪主要通过设置在针板上的探针对电路板的引脚面进行检测，缺乏针对于电路板的元件面的检测，ICT测试仪的测试功能单一。为了有效的对电路板的元件面进行检测，现有技术中如中国专利文献CN203965580U,如图7所示，公开了一种用于检测电路板插接件的ICT测试治具，包括天板101、载板102及针板103，还包括，上探针104，设于所述天板101下表面，与放置在所述载板102上的电路板的插接件引脚相对应；下探针105，设于所述针板103下表面，与设于所述载板102上的通孔相对应；当所述天板101下压时，所述下探针105穿过所述载板102上的通孔与电路板焊点接触，所述上探针104与电路板上的插接件引脚接触，从而触发信号。上述ICT测试治具在天板上设置上探针可以对位于电路板元件面上的引脚进行测试，但是其天板测试功能性单一，天板无法同时检测位于PCB板元件面上的电解电容以及针座是否出现漏插或插反的问题，缺乏对位于电路板元件面上电气元件的全面检查。
技术实现思路
因此，本技术所要解决的技术问题在于现有技术中的ICT测试仪的天板测试功能性单一，缺乏对位于电路板元件面上电气元件的全面检查，无法同时检查位于电路板元件面上不同电气元件是否插反的问题。为此，本技术提供一种ICT测试仪，包括天板，受驱动地朝向所述电路板的元件面移动；电气元件引脚测试机构，设置在所述天板上，用于测试引脚位于所述元件面上的电气元件是否可以正常使用；电解电容插反测试机构，设置在所述天板上，用于测试所述元件面上的电解电容是否插反；针座插反测试机构，设置在所述天板上，用于测试所述元件面上待测试的针座是否插反。所述电解电容插反测试机构包括受所述天板驱动与位于所述电路板元件面上的电解电容外壳电连接的第一探针以及分别与所述第一探针、所述电解电容的正极端和所述电解电容的负极端电连接的第一测试电路，所述第一测试电路测量所述第一探针和所述电解电容的正极之间的电阻值以及所述第一探针和所述电解电容的负极之间的电阻值。所述电解电容插反测试机构还包括信号处理模块，所述信号处理模块接收所述第一测试电路测得的电阻值与预设电阻值进行比较，判断所述电解电容是否插反。所述第一测试电路包括：电阻表，分别测量所述第一探针和所述电解电容的正极之间的电阻值以及所述第一探针和所述电解电容的负极之间的电阻值。所述天板上还设有用于固定所述电路板的定位件，所述定位件朝向所述电路板元件面的一端具有面积大于所述定位件横截面积的压头。所述待测试的针座具有一定高度差的上台阶和下台阶，所述针座插反测试机构包括开关型压件和第二测试电路，所述开关型压件包括第一导电件和第二导电件，所述开关型压件具有抵压在所述下台阶、所述第一导电件和所述第二导电件分离的断开状态，和抵压在所述上台阶、所述第一导电件和所述第二导电件导通的导通状态；所述第二测试电路的第一端电连接所述第一导电件，第二端电连接所述第二导电件，测量所述开关型压件处于所述导通状态和所述断开状态时所述第一端和所述第二端之间的电阻值。所述开关型压件还包括向所述第一导电件和/或第二导电件施加使其二者分离的偏压力的偏压件，所述开关型压件抵压所述上台阶通过克服所述偏压力使所述第一导电件和所述第二导电件导通。所述开关型压件处于所述导通状态时所述第一端和所述第二端之间的电阻值趋近于0。所述第二测试电路包括电阻表，所述电阻表上设有与所述第一端和所述第二端二者其一相连的正极导线，以及与所述第一端和所述第二端二者另一相连的负极导线。所述电气元件引脚测试机构包括与设置在所述元件面上所述电气元件的引脚相对应的第二探针，所述第二探针受所述天板驱动与所述引脚相连。所述的针座插反测试机构的测试方法，包括如下步骤：使开关型压件向下朝向预设移动位置移动预设距离抵压在待检测的针座上；若测试电路测得的开关型压件的电阻值为趋近于零的定值，则针座插反；若测试电路测得的开关型压件的电阻值为无穷大，则针座安装正确。所述预设距离为当针座安装正确第二导电件抵压在所述下台阶时第一导电件和第二导电件不相连；当针座插反时第二导电件抵压在所述上台阶时第一导电件和第二导电件相连。所述预设移动位置为针座安装正确时针座的下台阶的位置。本技术的技术方案，具有如下优点：1.本技术提供的ICT测试仪，通过将电气元件引脚测试机构、电解电容插反测试机构和针座插反测试机构同时设置在天板上，从而使天板在朝向用于放置电路板的载板移动过程中位于天板上的各个测试机构可以同时对电路板元件面上的电气元件引脚、电解电容和针座进行同时检测，将上述检测机构都设置在天板上通过天板的升降即可同时完成多项检测工作，大大增高了检测效率，无需单独对电路板元件面上的零部件进行检测，提高了ICT测试仪对于电路板元件面的检测能力。2.本技术提供的ICT测试仪，电解电容插反测试机构包括第一探针和第一测试电路，通过第一测试电路测量第一探针和电解电容的正极之间的电阻值以及第一探针和电解电容的负极之间的电阻值，因为同一批次的电解电容其材质大小等特性都相同且正极和电解电容外壳，负极和电解电容外壳之间的电阻均为定值，在电解电容安装正确时测试第一探针和电解电容的正极之间的电阻值以及第一探针和电解电容的负极之间的电阻值作为标准值，在电路板批量测试过程中通过测得每一个电路板上的第一探针和电解电容正极间的电阻值以及第一探针和电解电容负极间的电阻值和标准值比较即可判断电解电容是否插反，上述测试方法简单可靠，测试效率高。3.本技术提供的ICT测试仪，电解电容插反测试机构还包括信号处理模块，信号处理模块接收第一测试电路测得的电阻值与预设电阻值进行比较，可以自动判断电解电容是否插反，无需再通过人工对比电阻值有效的节省了人工成本。4.本技术提供的ICT测试仪，第一测试电路为电阻表，通过电阻表可以简单有效的测量第一探针和电解电容的正极之间的电阻值以及第一探针和电解电容的负极之间的电阻值。5.本技术提供的ICT测试仪，通过在用于固定电路板的定位件其端部设置面积较大的压头，避免抵压在电路板上的定位件其端部因为应力集中的问题损伤电路板，通过设置压头可以有效的保护电路板。6.本技术提供的ICT测试仪，通过与测试电路相配合的开关型压件可以测量具有上下台阶高度差的针座是否插反，在开关型压件内部设有间距可调的第一导电件和第二导电件，当开关型压件朝向电路板上预设的针座的下台阶位置移动设置好的固定高度过程中，如果针座插反开关型压件则会抵压在针座上台阶上，上台阶会阻挡开关型压件继续下移从而使位于上部的第一导电件与第二导电件相连通，此时测试电路测得的电阻值为第一导电件和第二导电件上的第一端和第二端之间趋近于零的定值电阻值；如果针座安装本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种ICT测试仪，其特征在于，包括天板(1)，受驱动地朝向电路板(2)的元件面移动；电气元件引脚测试机构(3)，设置在所述天板(1)上，用于测试引脚(5)位于所述元件面上的电气元件(4)是否可以正常使用；电解电容插反测试机构(7)，设置在所述天板(1)上，用于测试所述元件面上的电解电容(8)是否插反；针座插反测试机构(12)，设置在所述天板(1)上，用于测试所述元件面上待测试的针座(13)是否插反。

【技术特征摘要】
1.一种ICT测试仪，其特征在于，包括天板(1)，受驱动地朝向电路板(2)的元件面移动；电气元件引脚测试机构(3)，设置在所述天板(1)上，用于测试引脚(5)位于所述元件面上的电气元件(4)是否可以正常使用；电解电容插反测试机构(7)，设置在所述天板(1)上，用于测试所述元件面上的电解电容(8)是否插反；针座插反测试机构(12)，设置在所述天板(1)上，用于测试所述元件面上待测试的针座(13)是否插反。2.根据权利要求1所述的ICT测试仪，其特征在于，所述电解电容插反测试机构(7)包括受所述天板(1)驱动与位于所述电路板(2)元件面上的电解电容(8)外壳电连接的第一探针(9)以及分别与所述第一探针(9)、所述电解电容(8)的正极端(10)和所述电解电容(8)的负极端(11)电连接的第一测试电路，所述第一测试电路测量所述第一探针(9)和所述电解电容(8)的正极之间的电阻值以及所述第一探针(9)和所述电解电容(8)的负极之间的电阻值。3.根据权利要求2所述的ICT测试仪，其特征在于，所述电解电容插反测试机构(7)还包括信号处理模块，所述信号处理模块接收所述第一测试电路测得的电阻值与预设电阻值进行比较，判断所述电解电容(8)是否插反。4.根据权利要求2所述的ICT测试仪，其特征在于，所述第一测试电路包括：电阻表，分别测量所述第一探针(9)和所述电解电容(8)的正极之间的电阻值以及所述第一探针(9)和所述电解电容(8)的负极之间的电阻值。5.根据权利要求1所述的ICT测试仪，其特征在于，所述天板(1)上还设有用于固定所述电路板(2)的定位件(18)，所述定位件(18)朝向所述电路板(2)元件面的一端具有面积大于所述定位件(18)横截面积的压头...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭松山，解伟，赵冰清，李文涛，顾岳峰，李振宇，
申请(专利权)人：格力电器郑州有限公司，珠海格力电器股份有限公司，
类型：新型
国别省市：河南,41