固态硬盘的生产方法及固态硬盘技术

本申请提出一种固态硬盘的生产方法及固态硬盘，涉及固态硬盘技术领域。颗粒检测设备对闪存颗粒进行坏块检测，得到坏块检测信息，并对坏块检测信息进行记录；贴片机将主控芯片以及坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒贴装到印制电路板上，得到固态硬盘组件；开卡设备获取固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测信息，并将每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及预设的运行程序写入固态硬盘组件，以对固态硬盘组件开卡得到固态硬盘。本申请通过在固态硬盘组件的开卡阶段直接将闪存颗粒的坏块检测环节记录的坏块检测信息写入固态硬盘组件，而省略掉盘片的可靠性测试步骤或减少可靠性测试时间，故节约了生产时间，提升了生产效率，节约人力成本。

Production Method of Solid State Hard Disk and Solid State Hard Disk

This application proposes a production method of solid-state hard disk and a solid-state hard disk, which relates to the technical field of solid-state hard disk. Particle detection equipment detects the bad block of flash memory particles, obtains the bad block detection information, and records the bad block detection information; SMT mounts the main control chip and the bad block detection information to the printed circuit board which meets the preset conditions, and obtains the solid-state hard disk assembly; the card opening equipment obtains the bad block detection information of each qualified flash particle on the solid-state hard disk assembly. The bad block detection information of each qualified flash memory particle and the preset operation program are written into the solid-state hard disk component to get the solid-state hard disk by opening the card to the solid-state hard disk component. This application saves production time, improves production efficiency and saves manpower cost by directly writing the bad block detection information recorded in the bad block detection link of flash memory particles into the solid-state hard disk component at the opening stage of the solid-state hard disk component, and omitting the reliability testing steps or reducing the reliability testing time of the disk.

【技术实现步骤摘要】
固态硬盘的生产方法及固态硬盘
本专利技术涉及固态硬盘
，具体而言，涉及一种固态硬盘的生产方法及固态硬盘。
技术介绍
目前，固态硬盘(SolidStateDrives，SSD)的生产厂家通常按照图1所示的流程进行固态硬盘的批量生产，即生产厂家首先需要采购颗粒，然后对每个颗粒进行高温筛选，保留品质优良的颗粒进行后续生产；筛选出的品质优良的颗粒经过贴片生产、盘片可靠性测试(ReliabilitDemonstrationTest，RDT)、开卡、成品验证、二次开卡等流程后，便可以出货进行销售。在固态硬盘的整个生产流程中，颗粒的筛选是至关重要的一个环节，颗粒的筛选和盘片的可靠性测试均需要使用高温环境，通常耗时也比较长，盘片的颗粒筛选约占用整个生产流程30％的时间。现有的固态硬盘的生产方法，生产时间比较长，生产效率不高。
技术实现思路
本专利技术实施例的目的在于提供一种固态硬盘的生产方法及固态硬盘，以节省固态硬盘的生产时间，提高生产效率。为了实现上述目的，本专利技术实施例采用的技术方案如下：第一方面，本专利技术实施例提出一种固态硬盘的生产方法，所述方法包括：颗粒检测设备对闪存颗粒进行坏块检测，得到坏块检测信息，并对所述闪存颗粒的坏块检测信息进行记录；贴片机将主控芯片以及所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒贴装到印制电路板上，得到固态硬盘组件，其中，所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒为合格闪存颗粒；开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测信息，并将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件，以对所述固态硬盘组件开卡得到固态硬盘。第二方面，本专利技术实施例还提出一种固态硬盘，采用上述第一方面所述的固态硬盘的生产方法制成。相对现有技术，本专利技术实施例具有以下有益效果：本专利技术实施例提供的固态硬盘的生产方法及固态硬盘，所述方法包括：颗粒检测设备对闪存颗粒进行坏块检测，得到坏块检测信息，并对所述闪存颗粒的坏块检测信息进行记录；贴片机将主控芯片以及所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒贴装到印制电路板上，得到固态硬盘组件，其中，所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒为合格闪存颗粒；开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测信息，并将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件，以对所述固态硬盘组件开卡得到固态硬盘。在本申请中，在闪存颗粒的坏块检测环节通过对闪存颗粒的坏块检测信息进行记录，在固态硬盘组件的开卡阶段直接将之前记录的坏块检测信息写入到固态硬盘组件中，从而省略掉盘片的可靠性测试步骤或者减少可靠性测试的时间，进而大大节约了生产时间，特别是在大规模批量生产固态硬盘时，可以有效提升生产效率，节约人力成本。为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1示出了现有技术中固态硬盘的生产方法的流程示意图。图2示出了本专利技术实施例所提供的固态硬盘的生产方法的一种流程示意图。图3示出了本专利技术实施例所提供的固态硬盘的生产方法的另一种流程示意图。图4示出了本专利技术另一实施例所提供的固态硬盘的生产方法的流程示意图。具体实施方式在实现本专利技术实施例的技术方案的过程中，本申请专利技术人发现：在图1所示的固态硬盘的生产流程中，颗粒筛选和盘片可靠性测试本质上都是进行颗粒的坏块检测，即检测颗粒上的坏块数量和坏块区域，只是颗粒筛选是针对颗粒而言，盘片的可靠性测试是针对盘而言。现有的生产过程，在颗粒的坏块检测环节，并不会对颗粒的坏块信息进行保存，故在完成贴片生产后，需要针对盘上的颗粒再次进行坏块检测，得到盘上每个颗粒的坏块信息，然后依据盘上每个颗粒的坏块信息进入开卡的流程；可见，颗粒筛选和盘片可靠性测试在本质上做的是相同的事情，但各自的耗时都比较长，从而导致固态硬盘的整个生产时间比较长，生产效率不高，不利于固态硬盘的批量生产。以上现有技术中的方案所存在的缺陷，均是专利技术人在经过实践并仔细研究后得出的结果，因此，上述问题的发现过程以及下文中本专利技术实施例针对上述问题所提出的解决方案，都应该是专利技术人在本专利技术过程中对本专利技术做出的贡献。下面将结合本专利技术实施例中附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本专利技术的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。请参照图2，为本专利技术实施例所提供的固态硬盘的生产方法的流程示意图。固态硬盘的生产厂商采用该生产方法进行固态硬盘的批量生产，可以极大节省生产时间，提高生产效率，节约人力成本。需要说明的是，本专利技术实施例所提供的固态硬盘的生产方法并不以图2以及以下所述的具体顺序为限制，应当理解，在其他实施例中，本专利技术实施例所述的固态硬盘的生产方法其中部分步骤的顺序可以根据实际需要相互交换，或者其中的部分步骤也可以省略或删除。下面结合图2对所述固态硬盘的生产方法的具体流程及步骤进行详细阐述。步骤S101，颗粒检测设备对闪存颗粒进行坏块检测，得到坏块检测信息，并对所述闪存颗粒的坏块检测信息进行记录。在本实施例中，所述闪存颗粒为NAND闪存芯片，每个闪存颗粒包括多个块，并通过这些块来存放数据；所述颗粒检测设备包括筛选板(SortingBoard)、高温温箱，闪存颗粒置于Sorting板后放到高温温箱中，通过高温温箱检测闪存颗粒中的每一个块是否为坏块，从而判断所述闪存颗粒是否存在坏块、存在多少个坏块以及坏块在闪存颗粒上的位置。因此，在本实施例中，所述坏块检测信息至少包括坏块数量及坏块区域，闪存颗粒的坏块数量越少，表明闪存颗粒的品质越好，当闪存颗粒的坏块数量为0时，表明该闪存颗粒上不存在坏块，该闪存颗粒的每一个块都能用于存放数据；当闪存颗粒的某个块被确定为坏块时，不应对该坏块写入数据，以免发生数据丢失。可以理解，该坏块检测信息是用于确认闪存颗粒上的哪些块是坏块、哪些是好块、坏块的位置以及坏块的数量。在本实施例中，颗粒检测设备判断一个闪存颗粒上的块是否为坏块的标准就是每个块读写数据是否正常以及错误率(errbit)是否在设定的范围内。在本实施例中，所述高温温箱优选采用60℃～70℃的温度对闪存颗粒进行坏块检测。在本实施例中，所述对闪存颗粒的坏块检测信息进行记录的步骤具体包括：将所述闪存颗粒的坏块检测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种固态硬盘的生产方法，其特征在于，所述方法包括：颗粒检测设备对闪存颗粒进行坏块检测，得到坏块检测信息，并对所述闪存颗粒的坏块检测信息进行记录；贴片机将主控芯片以及所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒贴装到印制电路板上，得到固态硬盘组件，其中，所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒为合格闪存颗粒；开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测信息，并将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件，以对所述固态硬盘组件开卡得到固态硬盘。

【技术特征摘要】
1.一种固态硬盘的生产方法，其特征在于，所述方法包括：颗粒检测设备对闪存颗粒进行坏块检测，得到坏块检测信息，并对所述闪存颗粒的坏块检测信息进行记录；贴片机将主控芯片以及所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒贴装到印制电路板上，得到固态硬盘组件，其中，所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒为合格闪存颗粒；开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测信息，并将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件，以对所述固态硬盘组件开卡得到固态硬盘。2.如权利要求1所述的固态硬盘的生产方法，其特征在于，所述对闪存颗粒的坏块检测信息进行记录的步骤包括：将所述闪存颗粒的坏块检测信息保存为设定格式的配置文件；所述开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测信息，并将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件的步骤包括：所述开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒对应的配置文件，并将所述每个合格闪存颗粒对应的配置文件以及所述预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件。3.如权利要求1所述的固态硬盘的生产方法，其特征在于，所述坏块检测信息包括坏块区域，所述贴片机将主控芯片以及所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒贴装到印制电路板上，得到固态硬盘组件的步骤之后，所述方法还包括：可靠性测试设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测信息，并根据所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息对所述每个合格闪存颗粒上的除所述坏块区域之外的区域再次进行坏块检测，得到所述每个合格闪存颗粒对应的新坏块检测信息；所述开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测信息，并将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件的步骤包括：所述开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒对应的新坏块检测信息，并将所述每个合格闪存颗粒对应的新坏块检测信息以及所述预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件。4.如权利要求1所述的固态硬盘的生产方法，其特征在于，所述坏块检测信息包括坏块数量，所述贴片机将所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒贴装...

【专利技术属性】
技术研发人员：张成，刘水涛，
申请(专利权)人：湖南国科微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南,43