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一种平行纳米线的非热融合及其系列结构成形加工方法技术

技术编号:19441881 阅读:28 留言:0更新日期:2018-11-14 15:12
一种平行纳米线的非热融合及其系列结构成形加工方法,制备TEM样品;安装TEM样品;筛选纳米线;辐照加工。利用两根平行接触的非晶硅氧化物纳米线在接触位置和接触位置周围表面区域结构不稳定性的差异,采用透射电镜高能电子束进行均匀大面积辐照,非热激活诱导两根平行接触的非晶硅氧化物纳米线上的原子定向的扩散的原子向负曲率处扩散,从而降低体系的能量;从而纳米线接触位置周围表面区域的原子扩散到接触位置,在辐照范围内逐渐实现了两根平行接触纳米线的非热融合及融合过程中不同结构成型的加工。可通过控制硅氧化物纳米线的直径、电子束的束斑尺寸和辐照电流密度等参数实现对平行纳米线的非热融合及最终形貌的有效控制。

【技术实现步骤摘要】
一种平行纳米线的非热融合及其系列结构成形加工方法
本专利技术涉及平行纳米线,尤其是涉及室温下仅凭透射电镜均匀低电流密度电子束大面积辐照就能实现两根平行接触的非晶硅氧化物(SiOx)基纳米线的一种平行纳米线的非热融合及其系列结构成形加工方法。
技术介绍
作为结构性和功能性材料的一员,非晶硅氧化物(SiOx)基纳米线在当今的电子器件、光学器件及纳米机电系统等领域具有广泛的应用(参见文献:1.YuDPetal,ApplPhysLett,1998,73,3076:3078;2.SpearingSM,ActaMater,2000,48,179:196;3.ErikC.Garnettetal,NatureMater,2012,11,241:249;)。然而,由于纳米结构的非平衡特性及由此引起的在可控制备、合成和修饰等技术上的难度,制备、合成和修饰的纳米线往往没有理想的形貌和结构来满足不同类型的器件所需,这就要求在纳米尺度上对纳米线的形貌进行精确可控的加工。在目前的纳米线加工工艺中,场发射透射电子显微镜(透射电镜)高能电子束辐照是一种很常用的手段,它可以在室温下原位实现纳米线的精确非热切割、打孔、焊接以及诱导纳米线长度、直径、弯曲度等形貌的改变(参见文献:4、XuSYetal,Small,2005,1:1221;5、ZhuXFetal,Nanoscale,2014,6:1499;6、许胜勇,电子显微学报,2007,26:563;7、朱贤方等,中国专利技术专利,2009,ZL200910112085.1;8、朱贤方等,中国专利技术专利,2009,ZL200910112084.7;9、朱贤方等,中国专利技术专利,2009,ZL200910112083.2)。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供可在室温下仅凭透射电镜均匀低电流密度电子束大面积辐照就能实现两根平行接触的非晶硅氧化物(SiOx)基纳米线的一种平行纳米线的非热融合及其系列结构成形加工方法。本专利技术包括以下步骤:1)制备TEM样品;在步骤1)中,所述制备TEM样品的具体方法可为:先从硅片衬底上刮下硅氧化物纳米线粉,然后在超声振动下用有机溶剂分散,待团聚物分散开且形成颜色均匀的悬浮液时,再将含纳米线的有机溶液加入附有碳支持膜的微栅上,静置后将制得的TEM样品放入透射电镜中进行观察;所述有机溶剂可选自乙醇或丙酮等;所述分散的时间可为15~40min,优选30min;所述将含有纳米线的有机溶液滴到附有碳支持膜的微栅上可采用滴管或移液枪将含纳米线的有机溶液滴到附有碳支持膜的微栅上;所述有机溶液可为乙醇;所述静置可采用晾干或烘干;所述透射电镜的高能电子束加速电压可为300kV。2)安装TEM样品;在步骤2)中,所述安装TEM样品的具体方法可为:先将步骤1)得到的TEM样品固定在样品座中,然后将样品杆推入到样品室中并对透射电镜抽真空,在真空度达到要求后即可对纳米线进行观察分析。3)筛选纳米线;在步骤3)中,所述筛选纳米线的具体方法可为:先在TEM低倍观察模式下选择两根平行接触的纳米线,两根平行接触的纳米线位于微栅孔中,以尽量避免非晶碳膜对纳米线融合过程的影响;然后在较高倍数观察模式下对在TEM低倍观察模式下选定的两根平行接触的纳米线作进一步位置筛选,最后倾斜样品台沿不同角度对两根平行接触的纳米线的接触位置作进一步观察分析,确保两根平行接触的纳米线互相平行接触在一起;所述两根平行接触的纳米线为非晶SiOx纳米线,两根平行接触的纳米线的直径可为10~20nm;所述TEM低倍观察模式放大倍数可为5000×~6500×;所述较高倍数观察模式放大倍数可为20000×~150000×;所述筛选可采用纳米线表面光滑且直径为10~20nm。4)辐照加工,完成平行纳米线的非热融合及其系列结构成形加工。在步骤4)中,所述辐照加工的具体方法可为:先在放大倍数为20000×~150000×下用电镜附带的CCD拍下融合前两根平行纳米线尤其是接触位置的形貌;然后选择电子束和辐照电流密度,在相同放大倍数下对两根平行接触的纳米线进行辐照,并实时拍照记录两根平行接触的纳米线尤其是接触位置的结构转变过程,在保持相同辐照条件下,对同一位置重复辐照—拍照过程,直至最终实现两根平行接触的纳米线融合成一根纳米线;所述电子束的束斑尺寸可为微米尺度,所述辐照电流密度可为0.4~1A/cm2,优选0.5A/cm2。本专利技术利用两根平行接触的非晶硅氧化物纳米线在接触位置和接触位置周围表面区域结构不稳定性的差异(接触位置周围表面为正曲率(热区),接触位置为负曲率(冷区)),采用透射电镜高能电子束进行均匀大面积辐照,非热激活诱导两根平行接触的非晶硅氧化物纳米线上的原子定向的扩散(正曲率处(热区)的原子向负曲率处(冷区)扩散,从而降低体系的能量;)从而纳米线接触位置周围表面区域的原子扩散到接触位置,在辐照范围内逐渐实现了两根平行接触纳米线的非热融合及融合过程中不同结构成型的加工。本专利技术可以通过控制硅氧化物纳米线的直径、电子束的束斑尺寸和辐照电流密度等参数实现对平行纳米线的非热融合及最终形貌的有效控制。本专利技术采用场发射透射电镜高能低电流密度电子束进行均匀辐照,具有简单易操作、可非热激活诱导纳米体积保守结构转变、高分辨原位观察纳米加工过程、较容易在微米尺度大面积范围对纳米材料进行原位辐照加工以及不会给被辐照材料引入外来杂质等优点。为了实现平行纳米线的非热融合,本专利技术提供了平行纳米线的非热融合及其系列结构成形加工方法,由于平行纳米线轴向相互接触范围较大(一般纳米线轴向长度可达微米级范围),采用原有聚焦非均匀高电流密度电子束局部辐照引起纳米线原子局部(纳米级范围)非热蒸发(体积发生变化)及局部非热扩散流变混合机制焊接工艺(参见文献7)无法实现这种结构的大范围体积不变的非热融合。因此,本专利技术即均匀低电流密度电子束大面积辐照引起整体纳米线纯原子均匀非热扩散流变(没有蒸发,能保持体积不变)机制来解决上述平行纳米线融合的问题。另外,对于这种结构的非热融合,尤其是通过透射电镜高能电子束均匀大面积辐照对平行接触的两根非晶SiOx纳米线间的非热融合及融合过程中出现的一系列结构成形加工工艺和机理解释,在现有文献中至今未见报道。附图说明图1为实施例所选择的两根平行接触的SiOx纳米线在高能电子束均匀辐照诱导下的非热融合及融合过程中系列结构成形过程的TEM照片。图2为实施例中两根平行接触的SiOx纳米线间可能的非热融合及融合过程中系列结构成形加工的机理图。具体实施方式下面通过实施例结合附图对本专利技术作进一步说明。本专利技术实施例包括以下步骤:1)TEM样品制备:先用刀片从硅片表面刮下少许纳米线粉末(<<1mg),然后在无水乙醇(质量分数≥99.7%)中超声分散30min,再用移液枪将含纳米线的乙醇溶液滴2滴到附有碳支持膜的微栅上,静置20min晾干后即得TEM样品。2)TEM样品安装:先用镊子将步骤2)准备好的TEM样品放入样品座中固定好,然后将样品杆逐步推入到样品室中并对透射电镜抽真空,在真空度达到要求(2.5×10-5pa左右)后即可对样品中的纳米线进行观察分析。3)纳米线的筛选:如图1(A)所示,本实施例选取的是两根两端固定且平行接触的Si本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种平行纳米线的非热融合及其系列结构成形加工方法,其特征在于包括以下步骤:1)制备TEM样品;2)安装TEM样品;3)筛选纳米线;4)辐照加工,完成平行纳米线的非热融合及其系列结构成形加工。

【技术特征摘要】
1.一种平行纳米线的非热融合及其系列结构成形加工方法,其特征在于包括以下步骤:1)制备TEM样品;2)安装TEM样品;3)筛选纳米线;4)辐照加工,完成平行纳米线的非热融合及其系列结构成形加工。2.如权利要求1所述一种平行纳米线的非热融合及其系列结构成形加工方法,其特征在于在步骤1)中,所述制备TEM样品的具体方法为:先从硅片衬底上刮下硅氧化物纳米线粉,然后在超声振动下用有机溶剂分散,待团聚物分散开且形成颜色均匀的悬浮液时,再将含纳米线的有机溶液加入附有碳支持膜的微栅上,静置后将制得的TEM样品放入透射电镜中进行观察。3.如权利要求2所述一种平行纳米线的非热融合及其系列结构成形加工方法,其特征在于所述有机溶剂选自乙醇或丙酮;所述分散的时间为15~40min,优选30min。4.如权利要求2所述一种平行纳米线的非热融合及其系列结构成形加工方法,其特征在于所述将含纳米线的有机溶液滴到附有碳支持膜的微栅上是采用滴管或移液枪将含纳米线的有机溶液滴到附有碳支持膜的微栅上;所述有机溶液为乙醇;所述静置采用晾干或烘干;所述透射电镜的高能电子束加速电压为300kV。5.如权利要求1所述一种平行纳米线的非热融合及其系列结构成形加工方法,其特征在于在步骤2)中,所述安装TEM样品的具体方法为:先将步骤1)得到的TEM样品固定在样品座中,然后将样品杆推入到样品室中并对透射电镜抽真空,在真空度达到要求后即对纳米线进行观察分析。6.如权利要求1所述一种平行纳米线的非热融合及其系列结构成形加工方法,其特征在于在步骤3)中,所述筛选纳米线的具体方法为:先在TEM...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱贤方苏江滨程亮
申请(专利权)人:厦门大学
类型:发明
国别省市:福建,35

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