膜厚度测量方法和制造汽车的方法技术

本发明专利技术涉及膜厚度测量方法和制造汽车的方法。在一个方面中，提供一种膜厚度测量方法，该膜厚度测量方法能够在保持破坏性的测量方法可以获得高测量精度的优点的同时在短时间内测量涂膜的膜厚度。根据本实施方式的膜厚度测量方法是在包括有层状地层压的多个膜的涂膜10中测量各层1至4的膜厚度的膜厚度测量方法，该方法包括：处理步骤，用于对涂膜10进行切削处理使得涂膜10具有预定的倾斜度；以及测量步骤，用于通过测量由于切削处理而裸露的涂膜10的各层1至4的边界15a至15e的距离来导出各层1至4的膜厚度。

【技术实现步骤摘要】
膜厚度测量方法和制造汽车的方法
本专利技术涉及一种膜厚度测量方法和一种制造汽车的方法，并且涉及例如一种测量包括有层状地层压的多个膜的涂膜的各层的膜厚度的膜厚度测量方法、以及一种制造汽车的方法。
技术介绍
汽车的涂膜例如是多层膜，测量多层膜的各层的膜厚度的方法主要可以分为例如以破坏性的方式测量待测对象的破坏性的测量方法和以非破坏性的方式测量待测对象的非破坏性的测量方法。破坏性的测量方法例如是从涂布有待测涂膜的主体中切削样本，并通过放大显微镜直接测量其切削表面的方法。另一方面，例如在日本未经审查专利申请公报No.2015-178980中所公开的，非破坏性的测量方法是通过分析用照明光照射待测涂膜时的反射光的干涉光和通过分离照明光而获得的基准光来测量多层膜的各层的膜厚度的方法。在破坏性的测量方法中，由于需要首先在涂膜的切削表面上进行打磨作为测量的准备，因此不能长时间进行测量。另一方面，在非破坏性的测量方法中，除非照明光在涂膜的每个层上反射，否则不能测量膜厚度。因此，可以测量的涂膜根据其类型而受到限制。此外，由于需要傅里叶变换等来分析干涉光，所以测量精度(空间分辨率)存在限制。考虑到这些问题，需要一种无论涂膜的类型如何都可以获得高测量精度并且可以在短时间内进行测量的膜厚度测量方法。本专利技术是为了解决上述问题而作出的，其目的在于提供一种克服上述破坏性的测量方法的缺点的膜厚度测量方法，使得无论涂膜的类型如何都可以在保持上述破坏性的测量方法可以获得高测量精度的优点的同时在短时间内进行测量。
技术实现思路
根据本专利技术的一个方面的膜厚度测量方法是用于测量包括有多个层状地层压的膜的涂膜中的各层的膜厚度的膜厚度测量方法，该方法包括：处理步骤，用于对涂膜进行切削处理使得涂膜具有预定的倾斜度；以及测量步骤，用于通过测量由于切削处理而裸露的涂膜中的各层的边界的距离来导出各层的膜厚度。根据上述结构，无论涂膜的类型如何，都能够在保持破坏性的测量方法可以获得高测量精度的优点的同时在短时间内测量涂膜的各层的膜厚度。此外，在测量步骤中，通过使用传感器进行感测来测量边界的距离。根据上述结构，能够以更高的测量精度测量膜厚度。此外，在测量步骤中，当边界被显微镜的物镜聚焦时，边界的距离是边界沿物镜的光轴的方向的距离。根据上述结构，可以通过聚焦边界来测量膜厚度，由此能够在短时间内进行测量。此外，在测量步骤中，当边界被显微镜的物镜聚焦时，边界的距离是边界被从物镜的光轴的方向观察时的距离。根据上述结构，能够测量在倾斜表面上放大的边界的距离并且以高精度进行测量。根据本专利技术的一方面的制造汽车的方法包括以下步骤：通过上述膜厚度测量方法来测量包括有层状地层压在车体构件中的多个膜的涂膜中的各层的膜厚度；以及修补经过切削处理以测量膜厚度的部分。根据上述结构，无论涂膜的类型如何都能够在保持破坏性的测量方法可以获得高测量精度的优点的同时在短时间内测量车体上的涂膜的膜厚度。根据本专利技术，能够提供一种膜厚度测量方法，在该膜厚度测量方法中，无论涂膜的类型如何，膜厚度测量方法都能够在保持破坏性的测量方法可以获得高测量精度的优点的同时在短时间内测量涂膜的膜厚度，以及一种制造汽车的方法。本专利技术的以上及其他目的、特征和优点将通过下文给出的详细说明以及附图而变得被更充分地理解，附图仅处于说明目的而给出并且因此不被认为是限制本专利技术。附图说明图1是示出了通过根据实施方式的膜厚度测量方法测量的涂膜的俯视图；图2是示出了通过根据实施方式的膜厚度测量方法测量的涂膜的截面图并且示出了沿图1的线AA截取的截面图；图3是示出了根据实施方式的膜厚度测量方法的概要的流程图；图4是示出了根据实施方式的膜厚度测量方法中的边界的图；图5是示出了通过根据实施方式的膜厚度测量方法中所测量的边界上的物镜的高度导出的膜厚度的图；图6是示出了根据实施方式的改型示例的膜厚度测量方法中的倾斜表面的图；图7是示出了根据实施方式的膜厚度测量方法的流程图；图8是示出了根据实施方式的膜厚度测量方法中放置样本的样本台的立体图；图9A至图9C是示出了根据该实施方式的膜厚度测量方法中使用钻头进行切削处理的图；图10是示出了根据该实施方式的膜厚度测量方法中的放大显微镜的立体图；图11是示出了根据比较示例的膜厚度测量方法的工序图；图12A至图12C是示出了根据比较示例的膜厚度测量方法中嵌入到树脂中的样本的图；以及图13是示出了根据另一实施方式的制造汽车的方法的流程图。具体实施方式在下文中，将参照附图说明用于实施本专利技术的最佳方式。但是，本专利技术不限于以下实施方式。此外，为了使说明清楚，酌情简化以下的描述和附图。(实施方式)将对根据实施方式的膜厚度测量方法进行说明。根据该实施方式的膜厚度测量方法是测量包括多个在例如汽车等的主体或元件的表面上层状地层压的膜的涂膜的各层的膜厚度的方法。首先，将对待测涂膜的结构进行说明。<待测涂膜的结构>图1是示出了通过根据实施方式的膜厚度测量方法测量的涂膜的俯视图。图1是使用例如放大显微镜以30倍的放大率观察涂膜时的图。图2是示出了通过根据该实施方式的膜厚度测量方法测量的涂膜的截面图，并且示出了沿图1的线AA截取的截面图。应当指出的是，使图2所示的涂膜的各层的膜厚度较大，从而可以彼此地区分各层。如图1和图2所示，通过根据该实施方式的膜厚度测量方法测量的涂膜10包括多个在基材20上层状地层压的膜。例如，四层膜，第四层4、第三层3、第二层2和第一层1从最接近基材20的层按此顺序层状地层压在基材20上。例如，第四层4形成为接触基材20的上表面，并且第三层3形成为接触第四层4的上表面。第二层2形成为接触第三层3的上表面，并且第一层1形成为接触第二层2的上表面。涂膜10的层数不限于四层。基材20的材料例如包括金属。第一层1例如是透明层，并且第一层1的材料例如包括树脂。例如，第一层1的透明层的膜厚度在30至40μm的范围内。第二层2是金属基层，并且例如包括树脂和金属薄片。第二层2的金属基层的膜厚度例如约为15μm。第三层3是内涂层，并且例如包括树脂。第三层3的内涂层的膜厚度在30至40μm的范围内。第四层4是电泳涂层，并且例如包括树脂。第四层4的电泳涂层的膜厚度例如在10至15μm的范围内。通过使用根据该实施方式的膜厚度测量方法，能够准确地确定各层1至4的膜厚度。如图1和图2所示，在通过膜厚度测量方法测量的涂膜10中形成经过切削处理的凹部11。从涂膜10的层压方向17观察时，凹部11呈圆形。层压方向17例如是向上的方向。从凹部11的底部12至凹部11的开口13形成倾斜的内表面14。因此，从涂膜10的层压方向17观察时，各层的边界15a至15e形成为同心的。在第一层1的表面上的开口13的周边形成边界15a。在第一层1与第二层2之间形成边界15b。在第二层2与第三层3之间形成边界15c。在第三层3与第四层4之间形成边界15d。在第四层4与基材20之间形成边界15e。在该实施方式中，各层1至4的膜厚度是从边界15a至15e的距离测量的。<膜厚度测量方法的概要>接下来，将对根据该实施方式的膜厚度测量方法的概要进行说明。在对概要进行说明之后，将说明膜厚度测量方法的细节。图3是示出了根本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种膜厚度测量方法，所述方法用于在包括有层状地层压的多个膜的涂膜中测量各层的膜厚度，所述方法包括：处理步骤，所述处理步骤用于对所述涂膜进行切削处理使得所述涂膜具有预定的倾斜度；以及测量步骤，所述测量步骤用于通过测量由于所述切削处理而裸露的所述涂膜中的各层的边界的距离来导出各层的膜厚度。

【技术特征摘要】
2017.03.08 JP 2017-0442651.一种膜厚度测量方法，所述方法用于在包括有层状地层压的多个膜的涂膜中测量各层的膜厚度，所述方法包括：处理步骤，所述处理步骤用于对所述涂膜进行切削处理使得所述涂膜具有预定的倾斜度；以及测量步骤，所述测量步骤用于通过测量由于所述切削处理而裸露的所述涂膜中的各层的边界的距离来导出各层的膜厚度。2.根据权利要求1所述的膜厚度测量方法，其中，在所述测量步骤中，通过使用传感器进行感测来测量所述边界的距离。3.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：平山美乡，东欣一郎，前田拓也，
申请(专利权)人：丰田自动车株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP