一种测试装置、系统及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及存储测试技术领域，公开了一种测试装置、系统及测试方法,所述的测试装置用于存储设备的多功能测试，所述测试装置包括至少一个下位机，每个所述下位机包括：单板，分别与上位机及所述存储设备通信连接，用于接收并执行所述上位机发送的测试指令，并向所述上位机返回对所述存储设备的多功能测试结果；测量模块，与所述单板通过统一接口连接，用于接收来自所述单板的测试指令，以实现对所述存储设备的多功能测试。通过上述方式，本发明专利技术能够实现存储设备的多功能测试，提高测试效率，降低测试成本。

A test device, system and test method

The invention relates to the technical field of storage testing, and discloses a testing device, a system and a testing method. The testing device is used for multi-functional testing of storage devices. The testing device comprises at least one lower computer, each of which comprises a single board, which is communicated with the upper computer and the storage device respectively. The measurement module is connected with the veneer board through a unified interface for receiving test instructions from the veneer board to realize multi-functional testing of the storage device. Through the above method, the invention can realize the multi-function test of the storage device, improve the test efficiency and reduce the test cost.

【技术实现步骤摘要】
一种测试装置、系统及测试方法
本专利技术实施方式涉及存储测试
，特别是涉及一种测试装置、系统及测试方法。
技术介绍
存储设备包括U盘(USB闪存盘，USBflashdisk)、SSD(固态硬盘，SolidStateDrive)、eMMC(嵌入式多媒体存储卡，EmbeddedMultiMediaCard)、eMCP(嵌入式多芯片封装，embeddedMultiChipPackage)、UFS(通用闪存存储，UniversalFlashStorage)、SD卡(安全数码存储卡，SecureDigitalMemoryCard)等设备，被广泛应用在各种产品中，例如计算机、手机等电子产品。目前，随着存储行业技术快速发展，存储软件及相关硬件日益复杂，对于企业而言，如何快速可靠地向市场推出产品至关重要。在存储设备的开发过程中，测试环节扮演着重要的角色，因此，提高测试效率和降低测试成本，对于提高存储设备的产品竞争力至关重要。目前，对于存储设备电气特性参数的测试，一般是针对不同的工作状态，使用仪器进行单独测量，或者，使用可编程的仪器与测试装置联机来进行测试。专利技术人在实现本专利技术实施例的过程中发现：目前的这些测试方法，主要存在测试步骤繁琐以及测试成本较高的缺点，由于存储设备存在多种工作状态，如果每一种工作状态都要使用仪器单独进行测量，则测试过程非常繁琐，测试效率较低；而如果使用可编程仪器进行联机测试，则需要采购昂贵的可编程仪器，测试成本较高。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种测试装置、系统及测试方法，以解决现有技术存在的存储设备的测试效率低，测试成本高的技术问题。为了解决上述技术问题，本专利技术实施例提供以下技术方案：第一方面，本专利技术实施例提供一种测试装置，用于存储设备的多功能测试，所述测试装置包括至少一个下位机，每个所述下位机包括：单板，分别与上位机及所述存储设备通信连接，用于接收并执行所述上位机发送的测试指令，并向所述上位机返回对所述存储设备的多功能测试结果；测量模块，与所述单板通过统一接口连接，用于接收来自所述单板的测试指令，以实现对所述存储设备的多功能测试。在一些实施例中，所述单板包括：上位机连接接口，用于连接所述上位机；测量模块连接接口，用于连接所述测量模块；存储设备连接接口，用于连接所述存储设备；控制芯片，所述控制芯片连接所述测量模块连接接口和所述存储设备连接接口，所述控制芯片用于根据所述测试指令控制所述存储设备和所述测量模块。在一些实施例中，所述单板还包括电源模块，所述电源模块用于为所述测量模块提供电源输入。在一些实施例中，所述测量模块包括：多路可调电压电源单元，用于为所述存储设备提供多路可调电压电源；多路电源通断控制单元，用于控制所述多路可调电压电源的通断；多路电压测量单元，用于测量所述存储设备的多路供电电压；多路电流测量单元，用于测量所述存储设备的多路供电电流；温度测量单元，用于测量所述存储设备的环境温度；处理单元，分别与所述多路可调电压电源单元、多路电源通断控制单元、多路电压测量单元、多路电流测量单元及温度测量单元连接，用于对所述存储设备进行不同工作状态下的电气特性参数的测量、环境温度的测量以及对所述存储设备进行多路电源通断控制。在一些实施例中，所述测量模块还包括：连接器接口，用于通过第一连接器连接所述单板的测量模块连接接口；所述测量模块连接接口以及所述连接器接口采用相同的协议，并定义为统一接口。在一些实施例中，所述多路可调电压电源单元输出的多路可调电压电源通过所述第一连接器输入到所述单板，再由所述单板将所述多路可调电压电源输出到所述存储设备。在一些实施例中，所述下位机还包括：存储设备转接单元，包括存储设备接口及单板连接接口，用于通过所述存储设备接口连接所述存储设备，并通过所述单板连接接口连接所述单板，以实现所述存储设备与所述单板的通信连接。第二方面，本专利技术实施例提供一种测试系统，包括：上位机、至少一个存储设备以及至少一个上述的测试装置；所述上位机连接所述测试装置，每个所述测试装置与每个所述存储设备通过第二连接器对应连接。第三方面，本专利技术实施例提供一种测试方法，其特征在于，应用于上述的测试系统，所述测试方法包括：接收所述上位机发送的测试指令；根据所述测试指令，对所述存储设备进行多功能测试；将所述测试结果返回到所述上位机。在一些实施例中，所述测试指令包括测量指令及操作指令，所述根据所述测试指令，对所述存储设备进行多功能测试，包括：接收测量指令并反馈对所述测量指令的执行结果；接收操作指令，并根据所述操作指令执行对所述存储设备的测试操作。本专利技术实施方式的有益效果是：区别于现有技术的情况，本专利技术实施方式提供一种测试装置、系统及测试方法，所述测试装置用于存储设备的多功能测试，所述测试装置包括至少一个下位机，每个所述下位机包括：单板，分别与上位机及所述存储设备通信连接，用于接收并执行所述上位机发送的测试指令，并向所述上位机返回对所述存储设备的多功能测试结果；测量模块，与所述单板通过统一接口连接，用于接收来自所述单板的测试指令，以实现对所述存储设备的多功能测试。通过上述方式，本专利技术实施方式能够实现存储设备的多功能测试，提高测试效率，降低测试成本。附图说明一个或多个实施例通过与之对应的附图进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。图1是本专利技术实施例提供的一种多个下位机的测试装置的结构示意图；图2是本专利技术实施例提供的一种单个下位机的测试装置的结构示意图；图3是本专利技术实施例提供的另一种单个下位机的测试装置的结构示意图；图4是本专利技术实施例提供的一种测试系统的结构示意图；图5是本专利技术实施例提供的一种单板的结构示意图；图6是本专利技术实施例提供的一种单板的连接示意图；图7是本专利技术实施例提供的一种存储设备的结构示意图；图8是本专利技术实施例提供的一种测量模块的结构示意图；图9是本专利技术实施例提供的一种存储设备转接单元的结构示意图；图10是本专利技术实施例提供的一种测试方法的流程示意图；图11是图10中的测试方法的步骤S20的细化流程示意图；图12是本专利技术实施例提供的一种测试方法的具体流程示意图。参见图1至图12，100、测试装置；10、下位机；11、单板；111、控制芯片；112、上位机连接接口；113、测量模块连接接口；114、存储设备连接接口；115、电源模块；12、测量模块；121、处理单元；122、连接器接口；123、多路可调电压电源单元；124、多路电源通断控制单元；125、多路电压测量单元；126、多路电流测量单元；127、温度测量单元；13、存储设备转接单元；131、存储设备接口；132、单板连接接口；14、线缆；15、第一连接器；16、第二连接器；200、存储设备；210、测试接口；220、存储单元；300、上位机；400、测试系统。具体实施方式为了便于理解本专利技术，下面结合附图和具体实施方式，对本专利技术进行更详细的说明。需要说明的是，当元件被表述“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上、或者其间可以存在一个或多个居中的元件。当一个元件被表述“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件、或者其间可以存在一个或多本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试装置，其特征在于，用于存储设备的多功能测试，所述测试装置包括至少一个下位机，每个所述下位机包括：单板，分别与上位机及所述存储设备通信连接，用于接收并执行所述上位机发送的测试指令，并向所述上位机返回对所述存储设备的多功能测试结果；测量模块，与所述单板通过统一接口连接，用于接收来自所述单板的测试指令，以实现对所述存储设备的多功能测试。

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，用于存储设备的多功能测试，所述测试装置包括至少一个下位机，每个所述下位机包括：单板，分别与上位机及所述存储设备通信连接，用于接收并执行所述上位机发送的测试指令，并向所述上位机返回对所述存储设备的多功能测试结果；测量模块，与所述单板通过统一接口连接，用于接收来自所述单板的测试指令，以实现对所述存储设备的多功能测试。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述单板包括：上位机连接接口，用于连接所述上位机；测量模块连接接口，用于连接所述测量模块；存储设备连接接口，用于连接所述存储设备；控制芯片，所述控制芯片连接所述测量模块连接接口和所述存储设备连接接口，所述控制芯片用于根据所述测试指令控制所述存储设备和所述测量模块。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述单板还包括电源模块，所述电源模块用于为所述测量模块提供电源输入。4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述测量模块包括：多路可调电压电源单元，用于为所述存储设备提供多路可调电压电源；多路电源通断控制单元，用于控制所述多路可调电压电源的通断；多路电压测量单元，用于测量所述存储设备的多路供电电压；多路电流测量单元，用于测量所述存储设备的多路供电电流；温度测量单元，用于测量所述存储设备的环境温度；处理单元，分别与所述多路可调电压电源单元、多路电源通断控制单元、多路电压测量单元、多路电流测量单元及温度测量单元连接，用于对所述存储设备进行不同工作状态下的电气特性参数的测量、环境温度的测...

【专利技术属性】
技术研发人员：钱芳斌，邓恩华，
申请(专利权)人：中山市江波龙电子有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44