一种Pad检测装置制造方法及图纸

技术编号:18973436 阅读:22 留言:0更新日期:2018-09-19 04:02
本发明专利技术公开了一种Pad检测装置,属于检测技术领域,包括第一检测单元和第二检测单元,所述第一检测单元与第二检测单元连接,所述第一检测单元和第二检测单元的输入端均与外部的外接设备连接。第一检测单元和第二检测单元的输出端为待检测产品的检测端。本发明专利技术通过设置了第一信号生成模块、第二信号生成模块、第三信号生成模块和第四信号生成模块进行把外接设备输入的信号进行生成检测显示屏的信号,从检测端口出进行检测,从而实现最少的Pad功能模块,实现更多的快检功能,使得大大的缩小了检测装置所占用的空间,同时通过第一检测单元与第二检测单元进行组合选通额外一个快检功能,使得具有更多的快检功能。

【技术实现步骤摘要】
一种Pad检测装置
本专利技术涉及检测
,具体涉及一种Pad检测装置。
技术介绍
随着TFT-LCD行业的不断发展,使用者对显示器的要求也越来越高。产品竞争力高的显示器必须具备品质优良、经济性、实用性等多方面优点。品质的优点包括对比度高、清晰度高、广视角等;经济性的优点包括功耗低,使用成本低,生产成本低等;实用性的优点包括柔性,尺寸适中,能显示多种信息格式。随着人们生活品质的提高,对显示屏的尺寸要求也越来越高,小型轻便化是大众趋势,存在快检功能块,尺寸不可能评估得太极限。因为当显示屏尺寸走极限时,由于空间限制,快检功能Pad也会减少,同时无法设计完所有检测功能Pad,可能会造成某些产品缺陷漏检,从而流入下一道工序,造成人工物料的浪费。
技术实现思路
本专利技术旨在公开一种Pad检测装置,解决上述所提到的问题,用于在相同的空间内,实现具有更多的快检功能的Pad检测装置,使得显示屏尺寸可以更加小,更加符合社会的需求。本专利技术采取的技术方案为:一种Pad检测装置,包括第一检测单元和第二检测单元,所述第一检测单元与第二检测单元连接,所述第一检测单元和第二检测单元的输入端均与外部的外接设备连接,所述第一检测单元和第二检测单元的输出端为待检测产品的检测端,所述第一检测单元和第二检测单元均是用于接收外部的外接设备的输入信号生成检测信号检测待检测产品如显示屏的断路或者短路;所述第一检测单元与第二检测单元组合根据的外接设备的输入信号生成新的检测信号检测待检测产品如显示屏的断路或者短路。进一步地,所述第一检测单元包括第一信号生成模块、第二信号生成模块、第三信号生成模块、第四信号检测端、第五信号检测端、第六信号检测端、第七信号检测端、第八信号检测端、第九信号检测端、第三信号输入端、第四信号输入端和第五信号输入端,所述第一信号生成模块分别与第四信号检测端、第六信号检测端和第九信号检测端连接,并且分别与第二信号生成模块和第三信号生成模块连接,同时第一信号生成模块分别与第三信号输入端和第四信号输入端连接,所述第二信号生成模块与第三信号生成模块连接,并且分别与第四信号检测端、第五信号检测端、第四信号输入端和第五信号输入端连接,所述第三信号生成模块分别与第五信号检测端、第六信号检测端、第三信号输入端和第五信号输入端连接,所述第四信号检测端与第四信号输入端连接,所述第六信号检测端与第三信号输入端连接,所述第五信号检测端与第五信号输入端连接。进一步地,所述第一信号生成模块包括第三晶体管和第四晶体管,所述第三晶体管的源极与第九信号检测端连接,栅极分别与第四晶体管的漏极、第四信号检测端、第四信号输入端和第二信号生成模块连接,漏极与第四晶体管的源极连接,所述第四晶体管的栅极分别与第六信号检测端、第三信号输入端和第三信号生成模块连接。进一步地,所述第二信号生成模块包括第七晶体管和第八晶体管,所述第七晶体管的源极与第七信号检测端连接,栅极分别与第四晶体管的漏极、第四信号检测端、第四信号输入端、第四晶体管的漏极和第三晶体管栅极连接,漏极与第八晶体管的源极连接,所述第八晶体管的栅极分别与第五信号检测端、第五信号输入端和第三信号生成模块连接。进一步地,所述第三信号生成模块包括第五晶体管和第六晶体管,所述第五晶体管的源极与第八信号检测端连接,栅极分别与第五信号检测端、第五信号输入端、第六晶体管的漏极和第八晶体管栅极连接,漏极与第六晶体管的源极连接,所述第六晶体管的栅极分别与第六信号检测端、第三信号输入端和第四晶体管栅极连接。进一步地,所述第二检测单元包括第四信号生成模块、第一信号检测端、第二信号检测端、第三信号检测端、第一信号输入端和第二信号输入端,所述第四信号生成模块分别与第一信号检测端、第二信号检测端、第三信号检测端、第一信号输入端和第二信号输入端连接,所述第一信号检测端与第一信号输入端连接,所述第三信号检测端与第二信号输入端连接。进一步地,所述第四信号生成模块包括第一晶体管和第二晶体管,所述第一晶体管的源极与第二信号检测端连接,栅极分别与第一信号检测端、第一信号输入端和第二晶体管的漏极连接,漏极与第二晶体管源极连接,所述第二晶体管的栅极分别与第三信号检测端和第二信号输入端连接,漏极分别与第一信号检测端、第一信号输入端和第一晶体管的栅极连接。采用本专利技术技术方案具有以下优势:本专利技术通过设置了第一信号生成模块、第二信号生成模块、第三信号生成模块和第四信号生成模块进行把外接设备输入的信号进行生成检测显示屏的信号,从检测端口进行检测,从而实现最少的Pad功能模块,实现更多的快检功能,使得大大的缩小了检测装置所占用的空间,同时通过第一检测单元与第二检测单元进行组合选通额外一个快检功能,使得具有更多的快检功能。【附图说明】图1是本专利技术实施例的一种Pad检测装置模块框图;图2是本专利技术一种Pad检测装置的第一检测单元原理图;图3是本专利技术一种Pad检测装置的第二检测单元原理图。主要元件符号说明第一检测单元a第二检测单元b第一信号生成模块a-1第二信号生成模块a-2第三信号生成模块a-3第四信号生成模块b-1第一信号检测端10第二信号检测端11第三信号检测端12第四信号检测端13第五信号检测端14第六信号检测端15第七信号检测端16第八信号检测端17第九信号检测端18第一晶体管21第二晶体管22第三晶体管23第四晶体管24第五晶体管25第六晶体管26第七晶体管27第八晶体管28第一信号输入端31第二信号输入端32第三信号输入端33第四信号输入端34第五信号输入端35如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。【具体实施方式】下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。需要说明的是,在本专利技术实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的,而非旨在限制本专利技术。在本专利技术实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解,本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“包括”和“具有”以及它们任何变形,意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元,而是可选地还包括没有列出的步骤或单元,或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。需要说明的是,下面详细描述本专利技术的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本专利技术,而不能解释为对本专利技术的限制。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本专利技术的不同结构。为了简化本专利技术的公开,下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然,它们仅仅为示例,并且目的不在于限制本专利技术。此外,本专利技术可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种Pad检测装置,其特征在于:包括第一检测单元和第二检测单元,所述第一检测单元与第二检测单元连接,所述第一检测单元和第二检测单元的输入端均与外部的外接设备连接,所述第一检测单元和第二检测单元的输出端为待检测产品的检测端,所述第一检测单元和第二检测单元均是用于接收外部的外接设备的输入信号生成检测信号检测待检测产品如显示屏的断路或者短路;所述第一检测单元与第二检测单元组合根据的外接设备的输入信号生成新的检测信号检测待检测产品如显示屏的断路或者短路。

【技术特征摘要】
1.一种Pad检测装置,其特征在于:包括第一检测单元和第二检测单元,所述第一检测单元与第二检测单元连接,所述第一检测单元和第二检测单元的输入端均与外部的外接设备连接,所述第一检测单元和第二检测单元的输出端为待检测产品的检测端,所述第一检测单元和第二检测单元均是用于接收外部的外接设备的输入信号生成检测信号检测待检测产品如显示屏的断路或者短路;所述第一检测单元与第二检测单元组合根据的外接设备的输入信号生成新的检测信号检测待检测产品如显示屏的断路或者短路。2.根据权利要求1所述的一种Pad检测装置,其特征在于:所述第一检测单元包括第一信号生成模块、第二信号生成模块、第三信号生成模块、第四信号检测端、第五信号检测端、第六信号检测端、第七信号检测端、第八信号检测端、第九信号检测端、第三信号输入端、第四信号输入端和第五信号输入端,所述第一信号生成模块分别与第四信号检测端、第六信号检测端和第九信号检测端连接,并且分别与第二信号生成模块和第三信号生成模块连接,同时第一信号生成模块分别与第三信号输入端和第四信号输入端连接,所述第二信号生成模块与第三信号生成模块连接,并且分别与第四信号检测端、第五信号检测端、第四信号输入端和第五信号输入端连接,所述第三信号生成模块分别与第五信号检测端、第六信号检测端、第三信号输入端和第五信号输入端连接,所述第四信号检测端与第四信号输入端连接,所述第六信号检测端与第三信号输入端连接,所述第五信号检测端与第五信号输入端连接。3.根据权利要求2所述的一种Pad检测装置,其特征在于:所述第一信号生成模块包括第三晶体管和第四晶体管,所述第三晶体管的源极与第九信号检测端连接,栅极分别与第四晶体管的漏极、第四信号检测端、第四信号输入端和第二信号生成模块连接,漏极与第四晶体管的...

【专利技术属性】
技术研发人员:于靖庄崇营李林
申请(专利权)人:信利半导体有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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