光谱测定装置以及光谱测定方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种更优异的光谱测定装置以及光谱测定方法。光谱测定装置具备：CCD(Charge Coupled Device)检测器，包含二维排列的多个受光元件；光学系统，将入射光分光并照射至所述CCD检测器；以及限制部，对朝向所述多个受光元件的各行的一部分行以及各列的一部分列的至少任一方的来自所述光学系统的光的照射进行限制。

【技术实现步骤摘要】
光谱测定装置以及光谱测定方法
本专利技术涉及一种光谱测定装置以及光谱测定方法，特别涉及一种将对象光分光的光谱测定装置以及光谱测定方法。
技术介绍
在非专利文献1中记载了作为测定光的电磁波谱的光学设备的光谱测定装置的概略。然后，近年来，正在开发用于测定按波长的强度的光谱测定装置。此外，正在开发将CCD(ChargeCoupledDevice：电荷耦合器件)检测器作为受光单元的摄影装置。例如，在日本特开2010-266538号公报(专利文献1)中公开了如下所示的构成。即，摄影装置具备：拍摄图像的CCD图像传感器；变更图像的变焦倍率的可变倍率透镜以及透镜驱动器；指示变焦倍率的变更的操作部；从通过CCD图像传感器拍摄的图像检测特征部分的特征检测部；以及CPU，在通过操作部指示了变焦倍率的变更的情况下，将通过特征检测部检测到的特征部分的大小与特征检测部可以检测的特征部分的大小的限界值进行比较，并根据操作部所指示的变焦倍率和比较结果对可变倍率透镜以及透镜驱动器进行控制。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2010-266538号公报专利文献2：日本特开平10-145679号公报专利文献3：日本特开2000-324400号公报专利文献4：日本特开2001-268444号公报专利文献5：日本特开2001-268446号公报专利文献6：日本特开2003-298959号公报非专利文献非专利文献1：“维基百科”，[online]，[平成29年1月4日检索]，因特网〈URL：http：//ja.wikipedia.org/wiki/分光器〉
技术实现思路
专利技术所要解决的问题可以考虑例如使用专利文献1中记载的CCD检测器等来作为光谱测定装置中的受光单元的构成。正在寻求一种在这样的构成中提供更优异的用于测定光谱的装置的技术。本专利技术是为了解决上述的问题而完成的，其目的在于提供一种更优异的光谱测定装置以及光谱测定方法。用于解决问题的方案(1)为了解决上述问题，本专利技术的与某种局面相关的光谱测定装置具备：CCD检测器，包含二维排列的多个受光元件；光学系统，将入射光分光并照射至所述CCD检测器；以及限制部，对朝向所述多个受光元件的各行的一部分行以及各列的一部分列的至少任一方的来自所述光学系统的光的照射进行限制的。通过这样的构成，例如能通过限制朝向通用的CCD检测器的光的照射，不开发新的CCD检测器地实现使检测区域缩小(downsized)的CCD检测器，因此能降低装置的开发成本。此外，由于能减少被光照射的行数以及列数的至少任一方，因此，与不限制光的照射对象的构成相比，能缩短在各受光元件中生成的电荷的取得处理所需的时间。因此，能提供更优异的光谱测定装置。(2)优选的是：基于与光谱测定有关的条件来设定所述限制部的限制对象。通过这样的构成，能设定与应测定的光谱的内容相应的适当的限制对象。(3)进一步优选的是：通过所述光学系统进行分光的各波长的光照射至对应的所述列，基于由所述CCD检测器实施的一个光谱的测定时间以及所述CCD检测器应检测的光量的至少任一方，设定作为所述限制对象的所述行数。通过这样的构成，例如能在所要求的测定时间内实现光谱的测定完成，或能实现满足所要求的SN(SignalNoise：信噪)比的光谱的测定。(4)进一步优选的是：通过所述光学系统进行分光的各波长的光照射至对应的所述列，将分别对应于所述光谱测定装置应取得的光谱的多个波长的多个所述列以外的、一个或多个所述列设定为所述限制对象。通过这样的构成，能高效地测定所要求的波长范围的光谱。(5)优选的是：所述光学系统包含将分光后的光聚光于所述限制部不作为限制对象的所述受光元件群的聚光部。通过这样的构成，能提高照射至应使用的受光元件群的光的强度，因此能使光谱的SN比提高。(6)优选的是：所述CCD检测器包含：多个列移位寄存器，按所述列设置，分别对应属于所述列的多个所述受光元件地设有多个列电荷蓄积元件；以及行移位寄存器，分别对应所述多个列移位寄存器地设有多个行电荷蓄积元件，所述列移位寄存器使对应于属于所述行的所述受光元件的自身的所述列电荷蓄积元件中的蓄积电荷移动至对应于属于其他所述行的所述受光元件的自身的所述列电荷蓄积元件、或所述行移位寄存器中的对应的所述行电荷蓄积元件。如此，通过将在被光照射的受光元件中生成的电荷按列进行汇集的构成，能高效地取得按波长的所希望的电荷量。(7)优选的是：所述限制部对朝向所述各行的一部分行以及所述各列的一部分列的来自所述光学系统的光的照射进行限制。通过这样的构成，能减少被光照射的行数以及列数这两方，因此能进一步缩短在各受光元件中生成的电荷的取得处理所需的时间。(8)为了解决上述问题，本专利技术的与某种局面相关的光谱测定方法是一种具备包含二维排列的多个受光元件的CCD检测器的光谱测定装置的光谱测定方法，包含：将入射光分光并照射至所述CCD检测器的步骤；以及取得通过照射至所述CCD检测器的分光后的光而在所述多个受光元件中生成的电荷的步骤，在将光照射至所述CCD检测器的步骤中，对朝向所述多个受光元件的各行的一部分行以及各列的一部分列的至少任一方的进行了分光的所述入射光的照射进行限制。通过这样的方法，例如能通过限制朝向通用的CCD检测器的光的照射，不开发新的CCD检测器地实现使检测区域缩小的CCD检测器，因此能降低装置的开发成本。此外，由于能减少被光照射的行数以及列数的至少任一方，因此，与不限制光的照射对象的构成相比，能缩短在各受光元件中生成的电荷的取得处理所需的时间。因此，能提供更优异的光谱测定装置。专利技术效果根据本专利技术，能提供一种更优异的光谱测定装置以及光谱测定方法。附图说明图1是表示具备本专利技术的实施方式的光谱测定装置的比较例的光谱测定系统的构成的图。图2是表示本专利技术的实施方式的光谱测定系统中的光谱测定装置的比较例的构成的图。图3是表示本专利技术的实施方式的CCD检测器中的受光元件中蓄积的电荷的读取方法的比较例的图。图4是表示本专利技术的实施方式的CCD检测器中的受光元件中蓄积的电荷的读取方法的比较例的图。图5是表示本专利技术的实施方式的CCD检测器中的受光元件中蓄积的电荷的读取方法的比较例的图。图6是表示本专利技术的实施方式的CCD检测器中的受光元件中蓄积的电荷的读取方法的比较例的图。图7是表示本专利技术的实施方式的CCD检测器中的受光元件中蓄积的电荷的读取方法的比较例的图。图8是表示本专利技术的实施方式的光谱测定系统中的光谱测定装置的构成的图。图9是从水平传送方向所观察设于本专利技术的实施方式的光谱测定装置的CCD检测器的侧视图。图10是表示设于本专利技术的实施方式的光谱测定装置的限制部的变形例的构成的图。图11是表示设于本专利技术的实施方式的光谱测定装置的限制部的变形例的构成的图。图12是表示本专利技术的实施方式的CCD检测器中的受光元件中蓄积的电荷的读取方法的图。图13是表示本专利技术的实施方式的CCD检测器中的受光元件中蓄积的电荷的读取方法的图。图14是表示本专利技术的实施方式的CCD检测器中的受光元件中蓄积的电荷的读取方法的图。图15是用于说明本专利技术的实施方式的光谱测定系统的效果的图。图16是表示本专利技术的实施方式的光谱测定装置中的光学系统的变形例的构成的图。图17是表示本专利技术的实施方式的光谱测定本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光谱测定装置，具备：CCD检测器，包含二维排列的多个受光元件；光学系统，将入射光分光并照射至所述CCD检测器；以及限制部，对朝向所述多个受光元件的各行的一部分行以及各列的一部分列的至少任一方的来自所述光学系统的光的照射进行限制。

【技术特征摘要】
2017.02.07 JP 2017-0207871.一种光谱测定装置，具备：CCD检测器，包含二维排列的多个受光元件；光学系统，将入射光分光并照射至所述CCD检测器；以及限制部，对朝向所述多个受光元件的各行的一部分行以及各列的一部分列的至少任一方的来自所述光学系统的光的照射进行限制。2.根据权利要求1所述的光谱测定装置，其中，基于与光谱测定有关的条件设定所述限制部的限制对象。3.根据权利要求2所述的光谱测定装置，其中，通过所述光学系统进行分光的各波长的光照射至对应的所述列，基于由所述CCD检测器实施的一个光谱的测定时间以及所述CCD检测器应检测的光量的至少任一方，设定作为所述限制对象的所述行数。4.根据权利要求2或3所述的光谱测定装置，其中，通过所述光学系统进行分光的各波长的光照射至对应的所述列，将分别对应于所述光谱测定装置应取得的光谱的多个波长的多个所述列以外的、一个或多个所述列设定为所述限制对象。5.根据权利要求1至4中任一项所述的光谱测定装置，其中，所述光学系统包含将分光后的光聚光于所述限制部不作为限制对象的所述受光元...

【专利技术属性】
技术研发人员：前田吾郎，
申请(专利权)人：大塚电子株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP