仪器电控设备加速退化试验方法和系统技术方案

本发明专利技术涉及一种仪器电控设备加速退化试验方法，首先根据仪器电控设备试验样品的原始性能参数对仪器电控设备试验样品的性能参数保质期进行预测，然后合理地设置加速退化试验条件，在进行加速退化试验置换，再对试验所得的失效时间数据进行可靠性分析，确定满足可靠性条件的失效时间数据作为试验样品的试验数据，能够有效提高加速退化试验数据的可靠性。

Accelerated degradation test method and system for electrical control equipment of instrument

The present invention relates to an accelerated degradation test method for instrument electronic control equipment. First, according to the original performance parameters of the instrument electronic control equipment test samples, the performance parameters shelf life of the instrument electronic control equipment test samples is predicted, then the accelerated degradation test conditions are reasonably set up, and the accelerated degradation test is replaced before the test. The reliability analysis of the failure time data is carried out, and the failure time data satisfying the reliability condition is determined as the test data of the test sample, which can effectively improve the reliability of the accelerated degradation test data.

【技术实现步骤摘要】
仪器电控设备加速退化试验方法和系统
本专利技术涉及加速退化试验
，特别是涉及一种仪器电控设备加速试验数据处理方法和系统。
技术介绍
加速退化试验是用加大试验应力来缩短试验周期的一种寿命试验方法。加速退化试验方法为高可靠长寿命产品的可靠性评定提供了基础。加速退化试验的类型很多，常用的是如下三类：(1)恒定应力加速退化试验，简称恒加试验，即先选一组加速应力水平，然后将一定数量的样品分为若干组，每组在一个应力水平下进行寿命试验，直到各组均有一定数量的样品发生失效为止。(2)步进应力加速退化试验，简称步加试验，即是先选定一组均高于正常应力水平的加速应力水平，试验开始时把一定数量的样品放置于初始水平下进行寿命试验，经过一段时间后提高应力水平继续进行寿命试验，经过一段时间后将应力水平提高至更高的应力水平，如此继续下去，直至有一定数量的样品发生失效为止。(3)序进应力加速退化试验，简称序加试验。它与步加试验基本相同，不同之处在于它施加的加速应力水平将随时间连续上升。然而，传统的加速退化试验方式的数据可靠性较低。
技术实现思路
基于此，有必要针对传统的加速退化试验方式的数据可靠性较低的问题，提供一种仪器电控设备加速退化试验方法和系统。一种仪器电控设备加速退化试验方法，包括以下步骤：获取仪器电控设备试验样品的原始性能参数，根据所述原始性能参数对仪器电控设备试验样品的性能参数保质期进行预测；根据预测的性能参数保质期设置加速退化试验条件，然后对仪器电控设备试验样品进行加速退化试验，获取仪器电控设备试验样品性能退化量到达预设失效阈值所对应的失效时间数据；对所述失效时间数据进行可靠性分析，确定满足可靠性条件的失效时间数据作为试验样品的试验数据。一种仪器电控设备加速退化试验系统，包括：预测模块，用于获取仪器电控设备试验样品的原始性能参数，根据所述原始性能参数对仪器电控设备试验样品的性能参数保质期进行预测；获取模块，用于根据预测的性能参数保质期设置加速退化试验条件，然后对仪器电控设备试验样品进行加速退化试验，获取仪器电控设备试验样品性能退化量到达预设失效阈值所对应的失效时间数据；分析模块，用于对所述失效时间数据进行可靠性分析，确定满足可靠性条件的失效时间数据作为试验样品的试验数据。上述加速退化试验方法和系统，首先根据仪器电控设备试验样品的原始性能参数对仪器电控设备试验样品的性能参数保质期进行预测，然后合理地设置加速退化试验条件，在进行加速退化试验置换，再对试验所得的失效时间数据进行可靠性分析，确定满足可靠性条件的失效时间数据作为试验样品的试验数据，能够有效提高加速退化试验数据的可靠性。附图说明图1为一个实施例的仪器电控设备加速退化试验方法流程图；图2为一个实施例的仪器电控设备加速退化试验系统的结构示意图。具体实施方式下面结合附图对本专利技术的技术方案进行说明。如图1所示，本专利技术提供一种仪器电控设备加速退化试验方法，可包括以下步骤：S1，获取仪器电控设备试验样品的原始性能参数，根据所述原始性能参数对仪器电控设备试验样品的性能参数保质期进行预测；在本步骤中，试验样品可以是电子设备或者机械设备等，常见的，可以是手机、医疗器械等，特别地，本专利技术中特指仪器电控设备。以手机为例，原始性能参数可以是手机的电池容量、CPU频率等指标。可以采用多个规格相同的试验样品进行加速退化试验，从而可以使各个试验样品退化模型和性能保持期分布类型是一致的，只是由于样本的随机性，具体的参数不同。在一个实施例中，根据所述原始性能参数对试验样品的性能参数保质期进行预测时，可以根据所述原始性能参数计算所述仪器电控设备试验样品的伪失效时间数据；根据所述伪失效时间数据对预先选取的可靠性分布模型进行求解；根据求解后的可靠性分布模型对所述仪器电控设备试验样品的性能参数保质期进行预测。在一个实施例中，计算伪失效时间数据时，可以分别计算所述原始性能参数在预先选取的多个退化模型下的残差平方和；根据所述残差平方和的大小从所述多个退化模型中选取目标退化模型；根据所述目标退化模型对所述原始性能参数进行外推，得到所述伪失效时间数据。在另一个实施例中，计算伪失效时间数据时，也可以分别根据预先选取的多个退化模型对所述原始性能参数进行外推，得到各个退化模型对应的第一伪失效时间数据；将数据量最大的第一伪失效时间数据作为所述原始性能参数的伪失效时间数据。S2，根据预测的性能参数保质期设置加速退化试验条件，然后对仪器电控设备试验样品进行加速退化试验，获取仪器电控设备试验样品性能退化量到达预设失效阈值所对应的失效时间数据；失效是指产品丧失完成规定功能的能力的事件。失效是较为宽泛的概念，类型有多种，产品发生失效并不意味着产品永久的损坏，也可以是偶然性的不能完成规定的功能，可以在采取修复措施后恢复正常。失效时间是指产品的性能退化量到达预先设置的失效阈值所需要的时间。具体地，加速退化试验条件可包括但不限于试验样本的数量、全部加速退化试验的总时间和应力水平。可以根据预测的性能参数保质期设置上述条件，以便进行加速退化试验，获取试验样品性能退化量到达预设失效阈值所对应的失效时间数据。S3，对所述失效时间数据进行可靠性分析，确定满足可靠性条件的失效时间数据作为试验样品的试验数据。在本步骤中，对所述失效时间数据进行可靠性分析时，可以根据所述失效时间数据对应的数据分布特征选取数据分布模型；对所述数据分布模型进行拟合优度检验，若检验合格，根据所述数据分布模型对所述失效时间数据进行可靠性分析。进一步地，在选取数据分布模型时，可以获取多个预选数据分布模型；计算各个预选数据分布模型的误差指标参数；将误差指标参数最小的预选数据分布模型作为所述数据分布模型。在一个实施例中，误差指标包括误差极差、误差变异系数、误差方差、最大偏差、函数平均误差和概率密度函数误差。(1)误差极差最小在ti时刻，设产品可靠性基本函数的观测值为φ'(ti)，拟合后的所得值为φ(ti)，有K个模型入选，对所得的失效数据t1＜t2＜…＜tr，r为失效数据的总数，误差极差最小可定义为：在入选的第一分布模型中，选择误差极差最小的第一分布模型。(2)误差变异系数最小在ti时刻，设产品可靠性基本函数的观测值为φ'(ti)，拟合后的所得值为φ(ti)，对所得的失效数据t1＜t2＜…＜tr，误差变异系数最小可定义为：为失效数据的平均值。在入选的第一分布模型中，选择误差变异系数最小的第一分布模型。(3)误差方差最小在ti时刻，设产品可靠性基本函数的观测值为φ'(ti)，拟合后的所得值为φ(ti)，对所得的失效数据t1＜t2＜…＜tr，误差方差最小可定义为：在入选的第一分布模型中，选择误差方差最小的第一分布模型。(4)最大偏差最小在ti时刻，设产品可靠性基本函数的观测值为φ'(ti)，拟合后的所得值为φ(ti)，对所得的失效数据t1＜t2＜…＜tr，最大偏差最小可定义为：sup表示一个集合中的上确界。(5)函数平均误差最小在ti时刻，设产品可靠性基本函数的观测值为φ'(ti)，拟合后的所得值为φ(ti)，对所得的失效数据t1＜t2＜…＜tr，函数平均误差最小可定义为：a和b为预设的常数。在入选的第一分布模型中，选择函数平均误差最小的第一分布模型。(6)概率密度函数平均误差本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种仪器电控设备加速退化试验方法，其特征在于，包括以下步骤：获取仪器电控设备试验样品的原始性能参数，根据所述原始性能参数对仪器电控设备试验样品的性能参数保质期进行预测；根据预测的性能参数保质期设置加速退化试验条件，然后对仪器电控设备试验样品进行加速退化试验，获取仪器电控设备试验样品性能退化量到达预设失效阈值所对应的失效时间数据；对所述失效时间数据进行可靠性分析，确定满足可靠性条件的失效时间数据作为试验样品的试验数据。

【技术特征摘要】
1.一种仪器电控设备加速退化试验方法，其特征在于，包括以下步骤：获取仪器电控设备试验样品的原始性能参数，根据所述原始性能参数对仪器电控设备试验样品的性能参数保质期进行预测；根据预测的性能参数保质期设置加速退化试验条件，然后对仪器电控设备试验样品进行加速退化试验，获取仪器电控设备试验样品性能退化量到达预设失效阈值所对应的失效时间数据；对所述失效时间数据进行可靠性分析，确定满足可靠性条件的失效时间数据作为试验样品的试验数据。2.根据权利要求1所述的仪器电控设备加速退化试验方法，其特征在于，根据所述原始性能参数对仪器电控设备试验样品的性能参数保质期进行预测的步骤包括：根据所述原始性能参数计算所述仪器电控设备试验样品的伪失效时间数据；根据所述伪失效时间数据对预先选取的可靠性分布模型进行求解；根据求解后的可靠性分布模型对所述仪器电控设备试验样品的性能参数保质期进行预测。3.根据权利要求1所述的仪器电控设备加速退化试验方法，其特征在于，所述加速退化试验条件包括仪器电控设备试验样本的数量、全部加速退化试验的总时间和应力水平。4.根据权利要求1所述的仪器电控设备加速退化试验方法，其特征在于，对所述失效时间数据进行可靠性分析的步骤包括：根据所述失效时间数据对应的数据分布特征选取数据分布模型；对所述数据分布模型进行拟合优度检验，若检验合格，根据所述数据分布模型对所述失效时间数据进行可靠性分析。5.根据权利要求4所述的仪器电控设备加速退化试验方法，其特征在于，对所述数据分布模型进行拟合优度检验的步骤包括：取原假设H0：当失效时间服从指数分布时，则统计量为：式中，若当前为定数截尾试验，d的值取r-1，若当前为定时截尾数据，d的值取r，T*是加速退化试验到终止的总试验时间，Tk是到第k次失效的总试验时间；当H0成立时，χ2服从分布，对于给定的显著性水平α，若统计量的观测值满足或者就拒绝H0，反之则接受H0。6.根据权利要求4所述的仪器电...

【专利技术属性】
技术研发人员：高军，唐翔，叶涛，卢家锋，文武，
申请(专利权)人：广东科鉴检测工程技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44