一种仪器电控系统的可靠性指标考核方法技术方案

本发明专利技术公开了一种仪器电控系统的可靠性指标考核方法，其中，该方法包括：在常温环境下，对电控系统所属电子整机进行现场试验，并记录现场试验后的性能参数；确定电子整机的加速因子；根据加速因子和电子整机的现场试验时长，计算电子整机进行实验室试验的时长；在高温环境应力下，对电子整机进行实验室试验，并记录实验室试验后的性能参数；分析电子整机现场试验后的性能参数和实验室试验后的性能参数，计算电子整机的试验故障数以及故障类别；根据电子整机的试验故障数和故障类别，确定电控系统的可靠性。通过本发明专利技术，不仅能够缩短试验周期，而且能够准确的检测出产品的故障，有利于研发人员更好的对产品的电控系统进行改进，提高产品质量。

A method of reliability index examination for instrument electronic control system

The invention discloses a reliability index assessment method of the electronic control system of the instrument, wherein the method comprises: carrying out field test on the electronic complete machine of the electronic control system under the normal temperature environment, recording the performance parameters after the field test; determining the acceleration factor of the electronic complete machine; calculating the electronic complete machine for laboratory test according to the acceleration factor and the field test duration of the electronic complete machine The test time is long; under the high temperature environment stress, carry out the laboratory test on the electronic complete machine, and record the performance parameters after the laboratory test; analyze the performance parameters after the field test and the performance parameters after the laboratory test of the electronic complete machine, calculate the test failure number and failure category of the electronic complete machine; determine the feasibility of the electronic control system according to the test failure number and failure category of the electronic complete machine Reliability. The invention can not only shorten the test cycle, but also accurately detect the fault of the product, which is beneficial for the R & D personnel to better improve the electronic control system of the product and improve the product quality.

【技术实现步骤摘要】
一种仪器电控系统的可靠性指标考核方法
本专利技术涉及可靠性试验
，特别涉及一种仪器电控系统的可靠性指标考核方法。
技术介绍
随着市场竞争的愈加激烈，在民用家电产品领域，高可靠长寿命产品越来越多。如果采用常规的可靠性、寿命试验方法去评估产品的可靠性、寿命特征，往往需要耗费难以承受的时间成本，甚至还来不及做完试验，该产品就已经更新换代或因为性能落后而被淘汰。显然，如此长的试验时间，不仅错失了产品可靠性提升的最佳时机，而且严重地影响了研发的进度，在工程实际中是难以接受的。因此，采用加速寿命试验的方法进行可靠性、寿命等指标的评估则就显得既必要又重要。
技术实现思路
本专利技术提供一种仪器电控系统的可靠性指标考核方法，不仅能够缩短试验周期，而且能够准确的检测出产品的故障，有利于研发人员更好的对产品的电控系统进行改进，提高产品质量。根据本专利技术的一个方面，提供了一种仪器电控系统的可靠性指标考核方法，包括以下步骤：在常温环境下，对所述电控系统所属电子整机进行现场试验，并记录所述电子整机现场试验后的性能参数；确定所述电子整机的加速因子；根据所述加速因子和所述电子整机的现场试验时长，计算所述电子整机进行实验室试验的时长；在高温环境应力下，对所述电子整机进行实验室试验，并记录所述电子整机实验室试验后的性能参数；分析所述电子整机现场试验后的性能参数和实验室试验后的性能参数，计算所述电子整机的试验故障数以及故障类别；根据所述电子整机的试验故障数以及故障类别，确定所述电控系统的可靠性。优选地，在常温环境下，对所述电控系统所属电子整机进行现场试验，并记录所述电子整机现场试验后的性能参数之前，该方法还包括以下步骤：检查所述电控系统所属电子整机的外观并测试所述电子整机的技术状态；判断所述电子整机是否为合格产品；如果是，则执行在常温环境下，对所述电控系统所属电子整机进行现场试验，并记录所述电子整机现场试验后的性能参数的步骤。优选地，确定所述电子整机的加速因子，包括以下步骤：对所述电子整机包含的若干个电子元器件进行分类并统计数量；分别查找各类电子元器件的基本失效率和激活能数据；建立所述电子整机的工作可靠性模型和加速寿命试验模型；在工作试验条件下，根据各类电子元器件的数量以及基本失效率，计算各类电子元器件的总失效率；根据所述电子整机的工作可靠性模型，计算所述电子整机的失效率；根据所述电子整机的加速寿命试验模型，在加速工作试验条件下，根据各类电子元器件的数量以及激活能数据，计算各类电子元器件的总失效率；根据所述电子整机的工作可靠性模型，计算所述电子整机的失效率；根据所述电子整机分别在工作试验条件下和在加速工作试验条件下的失效率，计算所述电子整机的加速因子。优选地，根据所述加速因子和所述电子整机的现场试验时长，计算所述电子整机进行实验室试验的时长，包括以下步骤：确定所述电子整机的现场试验时长与实验室等效现场试验时长的比例为2:3；将所述电子整机的现场试验时长乘以1.5倍，计算出所述电子整机的实验室等效现场试验时长；将所述电子整机的实验室等效现场试验时长除以所述加速因子，计算出所述电子整机的实验室试验时长。优选地，所述电子整机为双频全数字高频海洋探测仪。优选地，所述电子整机的现场试验时长与实验室等效现场试验时长之和大于等于12040小时。优选地，所述故障类别包括关联故障和非关联故障，所述关联故障包括责任故障和非责任故障。优选地，根据所述电子整机的试验故障数以及故障类别，确定所述电控系统的可靠性，包括以下步骤：判断所述电子整机的责任故障的数量是否大于等于1；如果是，则确定所述电子整机为不合格产品，所述电控系统的可靠性为0；如果否，则确定所述电子整机为合格产品，所述电控系统的可靠性为1。与现有技术相比较，本专利技术的有益效果如下：通过本专利技术，分别在常温环境下和加速应力环境下对受试样机进行试验，更加全面的检测出了受试样机的各项性能参数，同时通过加速应力的施加极大的缩短了试验时长，在试验过程中以及试验之后能够准确的检测出受试样机的故障，有利于研发人员更好的对产品的电控系统进行改进，提高产品质量。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本申请的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。附图中：图1是根据本专利技术实施例的一种仪器电控系统的可靠性指标考核方法的流程图；图2是根据本专利技术实施例一的另一种仪器电控系统的可靠性指标考核方法的流程图；图3是根据本专利技术实施例一的计算加速因子的流程图。具体实施方式下面将结合本专利技术附图，对本专利技术技术方案进行描述，但所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例提供了一种仪器电控系统的可靠性指标考核方法，图1是根据本专利技术实施例的一种仪器电控系统的可靠性指标考核方法的流程图，如图1所示，包括以下步骤：步骤S101：在常温环境下，对电控系统所属电子整机进行现场试验，并记录电子整机现场试验后的性能参数；步骤S102：确定电子整机的加速因子；步骤S103：根据加速因子和电子整机的现场试验时长，计算电子整机进行实验室试验的时长；步骤S104：在高温环境应力下，对电子整机进行实验室试验，并记录电子整机实验室试验后的性能参数；步骤S105：分析电子整机现场试验后的性能参数和实验室试验后的性能参数，计算电子整机的试验故障数以及故障类别；步骤S106：根据电子整机的试验故障数以及故障类别，确定电控系统的可靠性。在实施过程中，在步骤S101之前，需要检查电控系统所属电子整机的外观并测试电子整机的技术状态；判断电子整机是否为合格产品；如果是，则执行在常温环境下，对电控系统所属电子整机进行现场试验，并记录电子整机现场试验后的性能参数的步骤。在步骤S102中，对电子整机包含的若干个电子元器件进行分类并统计数量；分别查找各类电子元器件的基本失效率和激活能数据；建立电子整机的工作可靠性模型和加速寿命试验模型；在工作试验条件下，根据各类电子元器件的数量以及基本失效率，计算各类电子元器件的总失效率；根据电子整机的工作可靠性模型，计算电子整机的失效率；根据电子整机的加速寿命试验模型，在加速工作试验条件下，根据各类电子元器件的数量以及激活能数据，计算各类电子元器件的总失效率；根据电子整机的工作可靠性模型，计算电子整机的失效率；根据电子整机分别在工作试验条件下和在加速工作试验条件下的失效率，计算电子整机的加速因子。在步骤S103中，确定电子整机的现场试验时长与实验室等效现场试验时长的比例为2:3；将电子整机的现场试验时长乘以1.5本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种仪器电控系统的可靠性指标考核方法，其特征在于，包括以下步骤：/n在常温环境下，对所述电控系统所属电子整机进行现场试验，并记录所述电子整机现场试验后的性能参数；/n确定所述电子整机的加速因子；/n根据所述加速因子和所述电子整机的现场试验时长，计算所述电子整机进行实验室试验的时长；/n在高温环境应力下，对所述电子整机进行实验室试验，并记录所述电子整机实验室试验后的性能参数；/n分析所述电子整机现场试验后的性能参数和实验室试验后的性能参数，计算所述电子整机的试验故障数以及故障类别；/n根据所述电子整机的试验故障数以及故障类别，确定所述电控系统的可靠性。/n

【技术特征摘要】
1.一种仪器电控系统的可靠性指标考核方法，其特征在于，包括以下步骤：
在常温环境下，对所述电控系统所属电子整机进行现场试验，并记录所述电子整机现场试验后的性能参数；
确定所述电子整机的加速因子；
根据所述加速因子和所述电子整机的现场试验时长，计算所述电子整机进行实验室试验的时长；
在高温环境应力下，对所述电子整机进行实验室试验，并记录所述电子整机实验室试验后的性能参数；
分析所述电子整机现场试验后的性能参数和实验室试验后的性能参数，计算所述电子整机的试验故障数以及故障类别；
根据所述电子整机的试验故障数以及故障类别，确定所述电控系统的可靠性。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在常温环境下，对所述电子整机进行现场试验，并记录所述电子整机现场试验后的性能参数之前，还包括以下步骤：
检查所述电控系统所属电子整机的外观并测试所述电子整机的技术状态；判断所述电子整机是否为合格产品；
如果是，则执行在常温环境下，对所述电控系统所属电子整机进行现场试验，并记录所述电子整机现场试验后的性能参数的步骤。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，确定所述电子整机的加速因子，包括以下步骤：
对所述电子整机包含的若干个电子元器件进行分类并统计数量；
分别查找各类电子元器件的基本失效率和激活能数据；
建立所述电子整机的工作可靠性模型和加速寿命试验模型；
在工作试验条件下，根据各类电子元器件的数量以及基本失效率，计算各类电子元器件的总失效率；
根据所述电子整机的工作可靠性模型，计算所述电子整机的失效率；
根据所述电子整机的加...

【专利技术属性】
技术研发人员：鲍黎涛，杨道建，文武，高军，
申请(专利权)人：广东科鉴检测工程技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44