半导体传感器检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了半导体传感器检测装置，其特征是，包括单片机电路，传感器通断控制电路，显示电路，传感器通断控制电路的信号采集端与待检测的半导体传感器的电压检测端连接，传感器通断控制电路的输出端与母线连接，传感器通断控制电路的控制端与单片机电路的输出端连接，显示电路与单片机控制电路的信号输出端连接。本实用新型专利技术使用单片机逐一控制20个信号继电器，将20个传感器的电压信号传递给母线，通过母线测量每个传感器的电压。提高了传感器信号采集工作的效率、节省了人力。

【技术实现步骤摘要】
半导体传感器检测装置
本技术涉及检测
，尤其是一种检测半导体气体传感器零点电压和响应电压的装置。
技术介绍
半导体传感器生产制造以后，需要对半导体传感器的零点电压和响应电压进行测量，通过传感器的这些电压参数也判断传感器的性能是否满足出场使用条件，现有技术通过万用表逐一测量每个传感器的电压值来进行性能判断，使用万用表逐一测量的办法，效率低，不便于操作。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种半导体传感器检测装置，解决现有传感器出厂参数检测时效率低，不便于操作的问题。为实现上述目的，本技术采用下述技术方案：半导体传感器检测装置，包括单片机电路，传感器通断控制电路，显示电路，传感器通断控制电路的信号采集端与待检测的半导体传感器的电压检测端连接，传感器通断控制电路的输出端与母线连接，传感器通断控制电路的控制端与单片机电路的输出端连接，显示电路与单片机控制电路的信号输出端连接。进一步地，所述单片机电路包括单片机芯片U1，所述单片机芯片U1的引脚RA0至引脚RA7、引脚RB4至引脚RB7、引脚RC0至引脚RC7、引脚RE1与引脚RE2分别与传感器通断控制电路的控制端连接，引脚RD0至引脚RD7分别与显示电路的输入端连接。进一步地，所述传感器通断控制电路包括20组继电器控制电路，所述继电器控制电路包括与传感器连接的继电器，与继电器连接的三极管，所述三极管的基极与单片机芯片U1引脚连接，三极管的发射极接地，三极管的集电极与继电器的线圈连接，继电器的常开触点的一端与母线连接，继电器常开触点的另一端与传感器一端连接。进一步地，所述显示电路包括数码管，单片机芯片U1的引脚RD0至引脚RD7分别通过电阻与数码管的输入引脚连接，数码管的引脚com2与三极管Q1的发射极连接，三极管Q1的基极与单片机芯片的引脚RB1连接，数码管的引脚com1yu三极管Q2的发射极连接，三极管Q2的基极与单片机芯片U1的引脚RB0连接。本技术的有益效果是，本技术使用单片机逐一控制20个信号继电器，将20个传感器的电压信号传递给母线，通过母线测量每个传感器的电压。提高了传感器信号采集工作的效率、节省了人力。附图说明图1是本技术单片机控制电路原理图；图2是本技术继电器控制电路1原理图；图3是本技术继电器控制电路2原理图；图4是本技术继电器控制电路3原理图；图5是本技术继电器控制电路4原理图；图6是本技术继电器控制电路5原理图；图7是本技术继电器控制电路6原理图；图8是本技术继电器控制电路7原理图；图9是本技术继电器控制电路8原理图；图10是本技术继电器控制电路9原理图；图11是本技术继电器控制电路10原理图；图12是本技术继电器控制电路11原理图；图13是本技术继电器控制电路12原理图；图14是本技术继电器控制电路13原理图；图15是本技术继电器控制电路14原理图；图16是本技术继电器控制电路15原理图图17是本技术继电器控制电路16原理图；图18是本技术继电器控制电路17原理图；图19是本技术继电器控制电路18原理图；图20是本技术继电器控制电路19原理图；图21是本技术继电器控制电路20原理图。具体实施方式如图1所示，单片机控制显示模块，主要包括U1，R6，R7，R8，R14，R15，R16，R17，R18，R19，R20，R21，R52，LED1，Q1，Q2，C1，C2，C3，E1，P23，P6，P0，P22组成。E1阳极与U1的7脚和28脚相连，E1的阴极与U1的6脚和29脚相连；C2一脚与U1的7脚相连，另一脚与U1的6脚相连。R6一脚与RB1相连，另一脚与Q1的基极相连。R7一脚与RB0相连，另一脚与Q2的基极相连。Q1集电极与VCC相连，发射极与LED1的10脚相连。Q2集电极与VCC相连，发射极与LED1的9脚相连。LED1的1脚通过R14与U1的38脚相连；LED1的2脚通过R15与U1的39脚相连；LED1的3脚通过R16与U1的40脚相连；LED1的4脚通过R17与U1的41脚相连；LED1的5脚通过R18与U1的2脚相连；LED1的6脚通过R19与U1的3脚相连；LED1的7脚通过R20与U1的4脚相连；LED1的8脚通过R21与U1的5脚相连；P0的2脚接VCC，1脚接地。P22的2脚接地，1脚接母线。P23的2脚接RE0，1脚接地。R52的一脚接VCC，另一脚接RE0；C3的一脚接RE0，另一脚接地。P6的1脚接地，2脚接VCC，3脚接RB6，4脚接RB7，5脚接RE3。R8的一脚接VCC，另一脚接RA0；C1的一脚接RA0，另一脚接地。U1的25脚接RE0，26脚接RE1，27脚接RE2，18脚接RE3。U1的19脚接RA0，20脚接RA1，21脚接RA2，22脚接RA3，23脚接RA4，24脚接RA5，31脚接RA6，30脚接RA7。U1的8脚接RB0，9脚接RB1，10脚接RB2，11脚接RB3，14脚接RB4，15脚接RB5，16脚接RB6，17脚接RB7。U1的32脚接RC0，35脚接RC1，36脚接RC2，37脚接RC3，42脚接RC4，43脚接RC5，44脚接RC6，1脚接RC7。如图2至图21所示，CGQ1的1脚接地，2脚接K1的3脚和8脚，3脚4脚接VCC。R1的一脚与CGQ1的2脚相连，另一脚接地。P1的1脚接CGQ1的2脚，2脚接地。R9的一脚接RC6，另一脚接Q3的基极。Q3的发射极接地，集电极接K1的10脚。K1的1脚接VCC，4脚7脚接母线。D1的阳极接K1的10脚，阴极接VCC。CGQ2的1脚接地，2脚接K2的3脚和8脚，3脚4脚接VCC。R2的一脚与CGQ2的2脚相连，另一脚接地。P2的1脚接CGQ2的2脚，2脚接地。R10的一脚接RC5，另一脚接Q4的基极。Q4的发射极接地，集电极接K2的10脚。K2的1脚接VCC，4脚7脚接母线。D2的阳极接K2的10脚，阴极接VCC。CGQ3的1脚接地，2脚接K3的3脚和8脚，3脚4脚接VCC。R3的一脚与CGQ3的2脚相连，另一脚接地。P3的1脚接CGQ3的2脚，2脚接地。R11的一脚接RC4，另一脚接Q5的基极。Q5的发射极接地，集电极接K3的10脚。K3的1脚接VCC，4脚7脚接母线。D3的阳极接K3的10脚，阴极接VCC。CGQ4的1脚接地，2脚接K4的3脚和8脚，3脚4脚接VCC。R4的一脚与CGQ4的2脚相连，另一脚接地。P4的1脚接CGQ4的2脚，2脚接地。R12的一脚接RC3，另一脚接Q6的基极。Q6的发射极接地，集电极接K4的10脚。K4的1脚接VCC，4脚7脚接母线。D4的阳极接K4的10脚，阴极接VCC。CGQ5的1脚接地，2脚接K5的3脚和8脚，3脚4脚接VCC。R5的一脚与CGQ5的2脚相连，另一脚接地。P5的1脚接CGQ5的2脚，2脚接地。R13的一脚接RC2，另一脚接Q7的基极。Q7的发射极接地，集电极接K5的10脚。K5的1脚接VCC，4脚7脚接母线。D5的阳极接K5的10脚，阴极接VCC。CGQ6的1脚接地，2脚接K6的3脚和8脚，3脚4脚接VCC。R22的一脚与CGQ6的2脚相连，另一脚接地。P7的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.半导体传感器检测装置，其特征是，包括单片机电路，传感器通断控制电路，显示电路，传感器通断控制电路的信号采集端与待检测的半导体传感器的电压检测端连接，传感器通断控制电路的输出端与母线连接，传感器通断控制电路的控制端与单片机电路的输出端连接，显示电路与单片机控制电路的信号输出端连接。

【技术特征摘要】
1.半导体传感器检测装置，其特征是，包括单片机电路，传感器通断控制电路，显示电路，传感器通断控制电路的信号采集端与待检测的半导体传感器的电压检测端连接，传感器通断控制电路的输出端与母线连接，传感器通断控制电路的控制端与单片机电路的输出端连接，显示电路与单片机控制电路的信号输出端连接。2.如权利要求1所述的半导体传感器检测装置，其特征是，所述单片机电路包括单片机芯片U1，所述单片机芯片U1的引脚RA0至引脚RA7、引脚RB4至引脚RB7、引脚RC0至引脚RC7、引脚RE1与引脚RE2分别与传感器通断控制电路的控制端连接，引脚RD0至引脚RD7分别与显示电路的输入端连接。3.如权利要求2所述的半导体传感器检测装置，其特征是...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘宣冰，周鑫，宋宏斌，
申请(专利权)人：济南市长清计算机应用公司，
类型：新型
国别省市：山东,37