In the described example, a photoelectric detector unit (100) contains a substrate (105) having a semiconductor surface layer (110), and a groove (115) in the semiconductor surface layer (110). The trench (115) has an inclined sidewall comprising a first inclined sidewall (115a) and a second inclined sidewall (115b). The PN junction, the PIN structure or the phototransistor includes an active p zone and an active N region (122), which consists of a junction consisting of a first junction that provides a first photodetector element (120a) along the first tilted side wall (115a) and a second junction separated from the first junction along the second tilt side wall (115b) providing a second photodetector element (120b). At least the P type anode contact (110A) and at least N type cathode contacts (122a, 122b) are in contact with the active P area and active N region (122) of the first photodetector element (120a) and the second photodetector element (120b). The tilted side wall (115a, 115b) provides an external exposure or optically transparent surface for transmitting incident light to the first photodetector element (120a) and second photodetector elements (120b) to detect incident light.
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】倾斜光电探测器单元
本专利技术涉及包含用于入射光束的角度探测的光电探测器。
技术介绍
光电二极管是将光转换成电流的光探测半导体装置。光电二极管通常包括pn结或PIN结构,其包括插在p型半导体区与n型半导体区之间的未掺杂的本征半导体区。电流是在当具有至少半导体的带隙能量的光子被吸收在光电二极管中时通过光子照射产生的。当此类充足能量的光子撞击光电二极管时,价带电子被激发到导带从而在价带中的其位置留下空穴,由此形成电子-空穴对。为探测所关注的入射光束的角度和方向,导引透镜通常与数个单独的光电二极管一起使用。常规的光电二极管具有平坦的接收表面,有时其上具有抗反射(AR)涂层。一个已知的布置具有多个光电二极管芯片,其中各光电二极管芯片放置成探测不同光子的角度范围。在这个布置中,为了所探测角度的准确度,各个单独的光电二极管需要彼此准确地对准。
技术实现思路
所描述实例包含具有倾斜侧壁结构的基于沟槽的集成光电探测器单元,所述倾斜侧壁结构对准单元中的各个光电探测器元件,使得与用于探测入射光光束的角度和方向的常规解决方案一样,不需要对准光电探测器元件的对准步骤。所描述的倾斜光电探测器单元是具有单个合并结构的集成光电探测器单元,因为各个细胞中的光电探测器元件均在同一沟槽中形成。在所描述实例中,光电探测器单元包含具有半导体表面层的衬底和在半导体表面层中形成的沟槽。沟槽具有包含第一倾斜侧壁和第二倾斜侧壁的倾斜侧壁。pn结、PIN结构或光电晶体管包含有源p区和有源n区,所述有源n区形成包含沿第一倾斜侧壁提供第一光电探测器元件的第一结和沿第二倾斜侧壁提供第二光电探测器元件的与第一结间隔开 ...
【技术保护点】
1.一种形成光电探测器单元的方法,所述方法包括:蚀刻以在衬底上具有平坦顶部表面的半导体表面层中形成至少一个沟槽,所述沟槽具有相对于所述顶部表面的表面法线的倾斜侧壁,其包含第一倾斜侧壁和第二倾斜侧壁;形成包含有源p区和有源n区的pn结、PIN结构或光电晶体管,所述有源n区形成包含沿所述第一倾斜侧壁提供第一光电探测器元件的第一结和沿所述第二倾斜侧壁提供第二光电探测器元件的与所述第一结间隔开的第二结;及形成与所述第一光电探测器元件和所述第二光电探测器元件的所述有源p区和所述有源n区接触的至少p型阳极触点和至少n型阴极触点;其中所述第一倾斜侧壁和所述第二倾斜侧壁提供外部暴露或光学透明表面,用于将入射光传递到所述第一光电探测器元件和所述第二光电探测器元件以探测所述入射光。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.12.22 US 14/979,0711.一种形成光电探测器单元的方法,所述方法包括:蚀刻以在衬底上具有平坦顶部表面的半导体表面层中形成至少一个沟槽,所述沟槽具有相对于所述顶部表面的表面法线的倾斜侧壁,其包含第一倾斜侧壁和第二倾斜侧壁;形成包含有源p区和有源n区的pn结、PIN结构或光电晶体管,所述有源n区形成包含沿所述第一倾斜侧壁提供第一光电探测器元件的第一结和沿所述第二倾斜侧壁提供第二光电探测器元件的与所述第一结间隔开的第二结;及形成与所述第一光电探测器元件和所述第二光电探测器元件的所述有源p区和所述有源n区接触的至少p型阳极触点和至少n型阴极触点;其中所述第一倾斜侧壁和所述第二倾斜侧壁提供外部暴露或光学透明表面,用于将入射光传递到所述第一光电探测器元件和所述第二光电探测器元件以探测所述入射光。2.根据权利要求1所述的方法,其中所述衬底包括硅<100>。3.根据权利要求2所述的方法,其中所述蚀刻包括基于湿式氢氧化硅的蚀刻,且其中所述倾斜侧壁相对于所述平坦顶部表面的表面法线呈30到60度倾斜。4.根据权利要求2所述的方法,其进一步包括形成LOCOS氧化物的局部氧化硅LOCOS工艺,其中所述蚀刻包括湿式蚀刻所述LOCOS氧化物以形成所述沟槽。5.根据权利要求1所述的方法,其中所述蚀刻形成多个所述沟槽且所述形成形成多个所述pn结、所述PIN结构或所述光电晶体管。6.根据权利要求1所述的方法,其中所述多个所述pn结、所述PIN结构或所述光电晶体管以二维2D阵列布置。7.根据权利要求1所述的方法,其中所述多个所述pn结、所述PIN结构或所述光电晶体管共同提供多个不同的光谱...
【专利技术属性】
技术研发人员:河原秀明,亨利·利茨曼·爱德华兹,
申请(专利权)人:德州仪器公司,
类型:发明
国别省市:美国,US
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