一种针对SPI接口的测试方法技术

本发明专利技术提供了一种针对SPI接口的测试方法，通过在测试方法中增加测试TE信号、硬件ID值的步骤，可以防止TE信号异常的产品漏检，降低不良品的漏检率，降低客户的客诉率，对硬件ID值的检测可以检测出硬件电阻的假焊、电阻错用的问题，同时在多个显示模组的生产商均使用同一款控制芯片时，客户也能轻松区分出每一个显示模组的生产商所生产的产品，便于倒查不良品的来源。

A test method for SPI interface

The invention provides a test method for the SPI interface. By adding the steps of testing the TE signal and the hardware ID value in the test method, it can prevent the abnormal product inspection of the TE signal, reduce the leak detection rate of the defective products, reduce the customer's guest rate, and detect the false welding and the resistance error of the hardware resistance by detecting the hardware ID value. At the same time, when the same control chip is used by the manufacturers of multiple display modules, the customers can easily identify the products produced by the manufacturers of each display module, so as to facilitate the investigation of the source of the bad products.

【技术实现步骤摘要】
一种针对SPI接口的测试方法
本专利技术涉及背光模组检测
，尤其涉及一种针对SPI接口的测试方法。
技术介绍
功能机俗称老人机，区别于目前的智能手机，随着科技的发展，用户对功能机的性能和品质要求也越来越高，为了提高功能机的性能，现有的功能机在原有的FPC板上的SPI接口(同步串行外设接口)中新增了TE信号同步和ID信号识别的功能，TE信号用于实现数据同步，ID信号用于识别显示模组中控制芯片或者电阻值所对应的信息，其中控制芯片的ID信息称为软件ID值，该软件ID值代表控制芯片的生产商身份，电阻值代表显示模组的硬件ID信息，该硬件ID信息代表显示模组的生产商身份。如图1所示，现有的一种功能机的检测方法为，第一步，将测试治具与待检测产品即显示模组相连；第二步，获取待检测产品中控制芯片所对应的ID值；第三步，判断控制芯片所对应的ID值与预设的ID值之间的关系，若ID值不等于预设的ID值，则进入第四步；若ID值等于预设的ID值，则进入第五步；第四步，待检测产品不合格，更换下一个待检测产品，返回第一步；第五步，对待检测产品的液晶显示屏的画面显示功能进行检测，依次使用多个检测画面进行检测，若任一检测画面显示异常，则进入第六步；若全部的检测画面均显示正常，则进入第七步；第六步，待检测产品不合格，更换下一个待检测产品，返回第一步；第七步，待检测产品合格，检测过程结束，更换下一个待检测产品，返回第一步。在上述检测方法中，只仅仅检测了控制芯片的ID值，当多个显示模组的生产者使用同一款控制芯片时，上述检测方法并不能区分出不同的显示模组生产商，导致客户无法根据产品倒查对应的显示模组生产商，同时上述检测流程并未对TE信号进行检测，容易将TE信号异常的不合格产品出售给客户，而TE信号异常将导致功能机无法正常使用，因此现有的检测方法存在检测信号不全面、不合格产品漏检率高的问题。
技术实现思路
本专利技术提供了一种针对SPI接口的测试方法，该测试方法中包含的测试信号较全面，不合格产品的漏检率较低。本专利技术所采用的技术方案是，一种针对SPI接口的测试方法，包括以下步骤：S1、将测试治具与待检测产品电性连接，接通测试治具的电源，所述的测试治具包括检测ID信号和TE信号的功能，并预设有硬件ID标准值、软件ID标准值、TE频率标准值；所述的待检测产品包括背光源、液晶显示屏及FPC板，所述的FPC板与所述的液晶显示屏相连，所述的FPC板上设有电阻、控制芯片、TE引脚和ID引脚；S2、测试治具通过检测ID引脚获取电阻值，所述的电阻值对应液晶显示屏的硬件ID值；S3、判断所述的硬件ID值与硬件ID标准值之间的关系；若所述的硬件ID值不属于所述的硬件ID标准值的范围，则进入S4；若所述的硬件ID值属于所述的硬件ID标准值的范围，则进入S5；S4、背光源闪烁，表示液晶显示屏的硬件ID值异常，待检测产品不合格，检测过程结束，更换下一个待检测产品，返回S1；S5、背光源正常显示，测试治具通过检测TE引脚获取TE频率值；S6、判断所述的TE频率值与TE频率标准值之间的关系；若所述的TE频率值不属于所述的TE频率标准值的范围，则进入S7；若所述的TE频率值属于所述的TE频率标准值的范围，则进入S8；S7、背光源闪烁，表示待检测产品的TE频率值异常，待检测产品不合格，检测过程结束，更换下一个待检测产品，返回S1；S8、背光源正常显示，测试治具通过检测ID引脚获取控制芯片所对应的软件ID值；S9、判断所述的软件ID值与所述的软件ID标准值之间的关系，若所述的软件ID值等于所述的软件ID标准值，则进入S10；若所述的软件ID值不等于所述的软件ID标准值，则进入S11；S10、测试治具显示软件ID值异常，待检测产品不合格，检测过程结束，更换下一个待检测产品，返回S1；S11、对液晶显示屏的画面显示功能进行检测，依次分别使用测试图片、黑画面、白画面、红画面、绿画面和蓝画面进行测试；S12、判断各个画面显示是否正常，若任一画面显示异常，则进入S13；若全面画面均显示正常，则进入S14；S13、液晶显示屏的画面显示功能异常，待检测产品不合格，更换下一个待检测产品，返回S1；S14、待检测产品合格，检测过程结束，更换下一个待检测的产品，返回S1。采用以上技术方案后，本专利技术与现有技术相比具有以下优点：本专利技术通过增加测试TE信号，防止TE信号异常的产品漏检，降低不良品的漏检率，降低客户的客诉率，其中增加对硬件ID值的测试，该硬件ID值可以用于识别显示模组的生产商身份，在对硬件ID进行测试时，也可以发现电阻假焊、误配等问题，拦截不良品，同时在多个显示模组的生产商均使用同一款控制芯片时，客户也能轻松区分出每一个显示模组的生产商所生产的产品，便于倒查不良品的来源。作为改进，所述的硬件ID标准值的范围为0V～1.8V，电阻值在该范围内的待检测产品为同一显示模组的生产商所生产。作为改进，所述的TE频率标准值的范围为55HZ～75HZ，不同产品的TE频率值存在差异，该区间的数据作为一组参考值。附图说明图1为现有的检测方法流程图图2为本专利技术中的测试方法流程图具体实施方式如图2所示，一种针对SPI接口的测试方法，包括以下步骤：S1、将测试治具与待检测产品电性连接，测试治具的型号为GX06B测试治具；接通测试治具的电源，该测试治具的SPI接口中包括检测ID信号和TE信号的功能，并在该测试治具中预设有硬件ID标准值，其范围为0V～1.8V；软件ID标准值，比如使用的控制芯片的型号是ST7789S，其对应的软件ID值则为007C89F0；TE频率标准值，其范围为55HZ～75HZ；待检测产品包括背光源、液晶显示屏及FPC板，FPC板与液晶显示屏相连，FPC板上设有电阻、控制芯片、TE引脚和ID引脚，其中FPC板采用SPI接口的通信方式；待检测产品的尺寸为1.77英寸、1.44英寸、2.4英寸等小尺寸功能机；S2、测试治具通过检测ID引脚获取电阻值，电阻值对应液晶显示屏的硬件ID值；S3、判断硬件ID值与硬件ID标准值之间的关系；若硬件ID值不属于硬件ID标准值的范围，即硬件ID值大于1.8V时，则进入S4；若硬件ID值属于硬件ID标准值的范围，即硬件ID值∈[0,1.8]V,则进入S5；S4、背光源闪烁，表示液晶显示屏的硬件ID值异常，电阻存在误配或者已损坏或者空焊的问题，待检测产品不合格，检测过程结束，更换下一个待检测产品，返回S1；S5、背光源正常显示，测试治具通过检测TE引脚获取TE频率值；S6、判断TE频率值与TE频率标准值之间的关系；若TE频率值不属于TE频率标准值的范围，即TE频率值不在55HZ～75HZ区间范围内，则进入S7；若TE频率值属于TE频率标准值的范围，即TE频率值∈[55,75]HZ，则进入S8；S7、目视检测背光源闪烁，表示待检测产品的TE频率值异常，TE线路存在开路或短路的问题，待检测产品不合格，检测过程结束，更换下一个待检测产品，返回S1；S8、目视检测背光源正常显示，测试治具通过检测ID引脚获取控制芯片所对应的软件ID值；S9、判断软件ID值与软件ID标准值之间的关系，测试治具对软件ID值与软件ID进行匹配，若软件ID值等于软件ID标准值即007C89F0，则进本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种针对SPI接口的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、将测试治具与待检测产品电性连接，接通测试治具的电源，所述的测试治具包括检测ID信号和TE信号的功能，并预设有硬件ID标准值、软件ID标准值、TE频率标准值；所述的待检测产品包括背光源、液晶显示屏及FPC板，所述的FPC板与所述的液晶显示屏相连，所述的FPC板上设有电阻、控制芯片、TE引脚和ID引脚；S2、测试治具通过检测ID引脚获取电阻值，所述的电阻值对应液晶显示屏的硬件ID值；S3、判断所述的硬件ID值与硬件ID标准值之间的关系；若所述的硬件ID值不属于所述的硬件ID标准值的范围，则进入S4；若所述的硬件ID值属于所述的硬件ID标准值的范围，则进入S5；S4、背光源闪烁，表示液晶显示屏的硬件ID值异常，待检测产品不合格，检测过程结束，更换下一个待检测产品，返回S1；S5、背光源正常显示，测试治具通过检测TE引脚获取TE频率值；S6、判断所述的TE频率值与TE频率标准值之间的关系；若所述的TE频率值不属于所述的TE频率标准值的范围，则进入S7；若所述的TE频率值属于所述的TE频率标准值的范围，则进入S8；S7、背光源闪烁，表示待检测产品的TE频率值异常，待检测产品不合格，检测过程结束，更换下一个待检测产品，返回S1；S8、背光源正常显示，测试治具通过检测ID引脚获取控制芯片所对应的软件ID值；S9、判断所述的软件ID值与所述的软件ID标准值之间的关系，若所述的软件ID值等于所述的软件ID标准值，则进入S10；若所述的软件ID值不等于所述的软件ID标准值，则进入S11；S10、测试治具显示软件ID值异常，待检测产品不合格，检测过程结束，更换下一个待检测产品，返回S1；S11、对液晶显示屏的画面显示功能进行检测，依次分别使用测试图片、黑画面、白画面、红画面、绿画面和蓝画面进行测试；S12、判断各个画面显示是否正常，若任一画面显示异常，则进入S13；若全面画面均显示正常，则进入S14；S13、液晶显示屏的画面显示功能异常，待检测产品不合格，更换下一个待检测产品，返回S1；S14、待检测产品合格，检测过程结束，更换下一个待检测的产品，返回S1。...

【技术特征摘要】
1.一种针对SPI接口的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、将测试治具与待检测产品电性连接，接通测试治具的电源，所述的测试治具包括检测ID信号和TE信号的功能，并预设有硬件ID标准值、软件ID标准值、TE频率标准值；所述的待检测产品包括背光源、液晶显示屏及FPC板，所述的FPC板与所述的液晶显示屏相连，所述的FPC板上设有电阻、控制芯片、TE引脚和ID引脚；S2、测试治具通过检测ID引脚获取电阻值，所述的电阻值对应液晶显示屏的硬件ID值；S3、判断所述的硬件ID值与硬件ID标准值之间的关系；若所述的硬件ID值不属于所述的硬件ID标准值的范围，则进入S4；若所述的硬件ID值属于所述的硬件ID标准值的范围，则进入S5；S4、背光源闪烁，表示液晶显示屏的硬件ID值异常，待检测产品不合格，检测过程结束，更换下一个待检测产品，返回S1；S5、背光源正常显示，测试治具通过检测TE引脚获取TE频率值；S6、判断所述的TE频率值与TE频率标准值之间的关系；若所述的TE频率值不属于所述的TE频率标准值的范围，则进入S7；若所述的TE频率值属于所述的TE频率标准值的范围，则进入S8；S7、背光源闪烁，表示待检测产品的TE频率值...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗苏，
申请(专利权)人：江西合力泰科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江西,36