AMOLED显示装置的检测装置及方法、修复装置及方法、修复系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种AMOLED显示装置的检测装置及方法、修复装置及方法、修复系统，属于AMOLED显示装置领域。该检测装置包括点亮模块、电流检测模块和判断模块，点亮模块用于依次点亮AMOLED显示装置的屏幕的多个检测区域，屏幕被划分为多个检测区域，每个检测区域包括至少一个发光单元；电流检测模块用于获取检测电流，检测电流为被点亮的检测区域内的发光单元的驱动电流之和；判断模块用于根据检测电流判断对应的检测区域是否为不良区域，通过将AMOLED显示装置的屏幕划分为多个检测区域，依次进行点亮并获取检测区域的检测电流，根据检测电流判断该检测区域是否为不良区域，依此法可以对AMOLED显示装置的亮度均一性进行检测，检测效率高，检测标准统一，准确性高。

【技术实现步骤摘要】
AMOLED显示装置的检测装置及方法、修复装置及方法、修复系统
本专利技术涉及AMOLED显示装置领域，特别涉及一种AMOLED显示装置的检测装置及方法、修复装置及方法、修复系统。
技术介绍
AMOLED(Active-matrixorganiclightemittingdiode，有源矩阵有机发光二极管)显示装置具有驱动电压低、寿命长、分辨率高的特点，是一种潜力巨大的OLED显示装置。AMOLED显示装置在制作完成后需要进行亮度检测，以检测屏幕上各个区域的亮度。AMOLED显示装置的屏幕上各个区域之间的亮度差异越小，则亮度均一性越好，若屏幕上存在亮度过高或是过低的区域，则认为该AMOLED显示装置存在Mura不良(屏幕亮度不均匀)。目前对AMOLED显示装置的亮度检测主要是通过工人目视检测，由工人感受屏幕的画面亮度，判断OLED显示装置是否存在Mura不良的问题。这种检测方式不仅效率低，而且受主观影响大，同一个AMOLED显示装置由不同的工人检测可能会得出不同的检测结果，降低产品良率，且对于检测出来的不良较难修复。
技术实现思路
为了解决AMOLED显示装置的产品良率低的问题，本专利技术实施例提供了一种AMOLED显示装置的检测装置、检测方法、修复方法及显示装置。所述技术方案如下：一方面，本专利技术实施例提供了一种AMOLED显示装置的检测装置，所述检测装置包括：点亮模块，用于依次点亮AMOLED显示装置的屏幕的多个检测区域，所述屏幕被划分为所述多个检测区域，每个所述检测区域均包括至少一个发光单元；电流检测模块，用于获取检测电流，所述检测电流为被点亮的所述检测区域内的发光单元的驱动电流之和；判断模块，用于根据所述检测电流判断对应的所述检测区域是否为不良区域。可选地，所述多个检测区域沿第一方向排列，每个所述检测区域呈条形，且每个所述检测区域沿第二方向延伸，所述第二方向垂直于所述第一方向；或者，所述多个检测区域呈矩阵状排布。可选地，所述判断模块包括：计算单元，用于计算所述检测电流与电流参考值的比值，所述电流参考值为各所述检测区域的检测电流的平均值或者设定值；判断单元，用于根据所述比值确定所述检测区域是否为不良区域。可选地，所述检测装置还包括：存储模块，用于存储确定出的所述不良区域的位置信息。可选地，每个所述检测区域均包括4～8个像素结构。另一方面，本专利技术实施例还提供了一种AMOLED显示装置的修复装置，所述修复装置包括：确定模块，用于确定不良区域的位置；获取模块，用于获取正常区域的发光单元被点亮时正常区域的电流密度，所述正常区域为屏幕上除所述不良区域之外的区域；补偿模块，用于根据所述正常区域的电流密度对所述不良区域进行电流补偿。可选地，所述确定模块用于根据屏幕上各检测区域的亮度确定所述不良区域的位置；或者，用于根据屏幕上各检测区域的检测电流与电流参考值的比值，确定所述不良区域的位置，所述屏幕被划分为所述多个检测区域，所述检测电流为被点亮的所述检测区域内的发光单元的驱动电流之和，所述电流参考值为各个所述检测区域的检测电流的平均值或者设定值；或者，用于根据所述不良区域的位置信息确定所述不良区域的位置。可选地，所述获取模块用于计算所述正常区域的发光单元的驱动电流之和与所述正常区域的面积的比值，得到所述正常区域的电流密度。可选地，所述补偿模块包括：电压确定单元，用于根据电流密度与不良区域的数据信号电压的对照关系确定所述不良区域的数据信号电压，使所述不良区域的电流密度与所述正常区域的电流密度相等；录入单元，用于在AMOLED显示装置的驱动芯片中录入所述不良区域的修正电压，所述修正电压为调节后的所述不良区域的数据信号电压。再一方面，本专利技术实施例还提供了一种AMOLED显示装置的检测方法，所述方法包括：依次点亮AMOLED显示装置的屏幕的多个检测区域，所述屏幕被划分为所述多个检测区域，每个所述检测区域均包括至少一个发光单元；获取检测电流，所述检测电流为被点亮的检测区域内的发光单元的驱动电流之和；根据所述检测电流判断所述检测区域是否为不良区域。可选地，所述多个检测区域沿第一方向排列，每个所述检测区域呈条形，且每个所述检测区域沿第二方向延伸，所述第二方向垂直于所述第一方向；或者，所述多个检测区域呈矩阵状排布。可选地，所述根据所述检测电流判断所述检测区域是否为不良区域，包括：计算所述检测电流与电流参考值的比值，所述电流参考值为各所述检测区域的检测电流的平均值或者设定值；根据所述比值确定所述检测区域是否为不良区域。可选地，所述检测方法还包括：存储确定出的所述不良区域的位置信息。可选地，每个所述检测区域均包括4～8个像素结构。再一方面，本专利技术实施例还提供了一种AMOLED显示装置的修复方法，所述方法包括：确定不良区域的位置；获取正常区域的发光单元被点亮时正常区域的电流密度，所述正常区域为屏幕上除不良区域之外的区域；根据所述正常区域的电流密度对所述不良区域进行电流补偿。可选地，所述确定不良区域的位置包括：根据屏幕上各检测区域的亮度确定所述不良区域的位置；或者，根据屏幕上各检测区域的检测电流与电流参考值的比值，确定所述不良区域的位置，所述屏幕被划分为所述多个检测区域，所述检测电流为被点亮的所述检测区域内的发光单元的驱动电流之和，所述电流参考值为各个所述检测区域的检测电流的平均值或者设定值；或者，根据所述不良区域的位置信息确定所述不良区域的位置。可选地，所述获取正常区域的电流密度包括：计算所述正常区域的发光单元的驱动电流之和与所述正常区域的面积的比值，得到所述正常区域的电流密度。可选地，所述根据所述正常区域的电流密度对所述不良区域进行电流补偿，包括：根据电流密度与不良区域的数据信号电压的对照关系确定所述不良区域的数据信号电压，使所述不良区域的电流密度与所述正常区域的电流密度相等；在AMOLED显示装置的驱动芯片中录入所述不良区域的修正电压，所述修正电压为调节后的所述不良区域的数据信号电压。再一方面，本专利技术实施例还提供了一种AMOLED显示装置的修复系统，所述修复系统包括如前所述的任一种检测装置和如前所述的任一种修复装置。本专利技术实施例提供的技术方案带来的有益效果是：通过将AMOLED显示装置的屏幕划分为多个检测区域，依次进行点亮并获取检测区域的检测电流，根据检测电流判断该检测区域是否为不良区域，依此法可以对AMOLED显示装置的亮度均一性进行检测，检测效率高，检测标准统一，准确性高，减少了误判的情况，有利于提高产品的良率，通过根据正常区域的电流密度对显示装置的不良区域进行电流补偿，可以改变不良区域的亮度，降低不良区域与正常区域的亮度差异，有利于提高显示效果，提高良品率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术实施例提供的一种AMOLED显示装置的检测装置的结构示意图；图2是本专利技术实施例提供的一种AMOLED显示装置的屏幕的检测区域分布图；图3是本专利技术实施例提供的另一种AMOLED显示装置的屏幕的检测区域分布图；图4是本专利技术实本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种AMOLED显示装置的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：点亮模块，用于依次点亮AMOLED显示装置的屏幕的多个检测区域，所述屏幕被划分为所述多个检测区域，每个所述检测区域均包括至少一个发光单元；电流检测模块，用于获取检测电流，所述检测电流为被点亮的所述检测区域内的发光单元的驱动电流之和；判断模块，用于根据所述检测电流判断对应的所述检测区域是否为不良区域。

【技术特征摘要】
1.一种AMOLED显示装置的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：点亮模块，用于依次点亮AMOLED显示装置的屏幕的多个检测区域，所述屏幕被划分为所述多个检测区域，每个所述检测区域均包括至少一个发光单元；电流检测模块，用于获取检测电流，所述检测电流为被点亮的所述检测区域内的发光单元的驱动电流之和；判断模块，用于根据所述检测电流判断对应的所述检测区域是否为不良区域。2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述多个检测区域沿第一方向排列，每个所述检测区域呈条形，且每个所述检测区域沿第二方向延伸，所述第二方向垂直于所述第一方向；或者，所述多个检测区域呈矩阵状排布。3.根据权利要求1或2所述的检测装置，其特征在于，所述判断模块包括：计算单元，用于计算所述检测电流与电流参考值的比值，所述电流参考值为各所述检测区域的检测电流的平均值或者设定值；判断单元，用于根据所述比值确定所述检测区域是否为不良区域。4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：存储模块，用于存储确定出的所述不良区域的位置信息。5.根据权利要求1或2所述的检测装置，其特征在于，每个所述检测区域均包括4～8个像素结构。6.一种AMOLED显示装置的修复装置，其特征在于，所述修复装置包括：确定模块，用于确定不良区域的位置；获取模块，用于获取正常区域的发光单元被点亮时正常区域的电流密度，所述正常区域为屏幕上除所述不良区域之外的区域；补偿模块，用于根据所述正常区域的电流密度对所述不良区域进行电流补偿。7.根据权利要求6所述的修复装置，其特征在于，所述确定模块用于根据屏幕上各检测区域的亮度确定所述不良区域的位置；或者，用于根据屏幕上各检测区域的检测电流与电流参考值的比值，确定所述不良区域的位置，所述屏幕被划分为所述多个检测区域，所述检测电流为被点亮的所述检测区域内的发光单元的驱动电流之和，所述电流参考值为各个所述检测区域的检测电流的平均值或者设定值；或者，用于根据所述不良区域的位置信息确定所述不良区域的位置。8.根据权利要求6所述的修复装置，其特征在于，所述获取模块用于计算所述正常区域的发光单元的驱动电流之和与所述正常区域的面积的比值，得到所述正常区域的电流密度。9.根据权利要求6～8任一项所述的修复装置，其特征在于，所述补偿模块包括：电压确定单元，用于根据电流密度与不良区域的数据信号电压的对照关系确定所述不良区域的数据信号电压，使所述不良区域的电流密度与所述正常区域的电流密度相等；录入单元，用于在AMOLED显示装置的驱动芯片中录入所述不良区域的修正电压，所述修正电压为调节后的所述不良区域的数据信号电压。10.一种AMOLED显示装置的检测方法，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：王晓伟，张国庆，杨红霞，王伟峰，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京,11