电阻测试电路制造技术

本实用新型专利技术提供了一种电阻测试电路，其包括：待测电阻(Rt1)；电压源(11)；第一电流表(12)；第一测试探针(14)；第二测试探针(15)；已知电阻(Rn1)；第三测试探针(16)；第二电流表(13)；和第四测试探针(17)。电阻测试电路还包括预定电阻(Rk)，预定电阻(Rk)具有预先确定的电阻值，其中第一测试探针(14)和第三测试探针(16)连接到待测电阻(Rt1)的第一端，第四测试探针(17)连接到预定电阻(Rk)的第一端，第二测试探针(15)连接到待测电阻(Rt1)的第二端和预定电阻(Rk)的第二端。本实用新型专利技术的电阻测试电路允许测试电路的四个连接端口/测试探针被合适地连接到被测电路中，同时确保必要的电阻测试精度。

Resistance test circuit

The utility model provides a resistance testing circuit, which includes: a test resistance (Rt1); a voltage source (11); a first ammeter (12); a first test probe (14); a second test probe (15); a known resistance (Rn1); a third test probe (16); second electric current meter (13); and fourth test probe (17). The resistance test circuit also includes a predetermined resistance (Rk), a predetermined resistance (Rk) with a predetermined resistance value, in which the first test probe (14) and the third test probe (16) are connected to the first end of the resistance (Rt1), and the fourth test probe (17) is connected to the first end of the predetermined resistivity (Rk), and the second test probe (15) is connected to the resistance to be measured (Rt1). The second end and the second end of the predetermined resistance (Rk). The resistance test circuit of the utility model allows four connection ports / test probes of the test circuit to be properly connected to the measured circuit, while ensuring the necessary resistance test precision.

【技术实现步骤摘要】
电阻测试电路
本技术涉及一种电阻测试电路。
技术介绍
在现有技术中，小电阻的电阻值的测试公知有两种方法，其中一种测试方法需要依赖于复杂的计算，它的缺点是难以进行标定，通常在此情况下标定只能由原始供应商来实施；另外一种测试方法就是使用标准的四引线连接来进行测试。在四引线连接的测试电路中，进行标定是没有问题的，但是其需要使用四个连接端口。在一些测试情况下，例如一些焊接电阻测试的情况下，被测电路中没有足够的空间来容纳这四个连接端口，特别是有时被测电路没有足够的空间来容纳机械上无法缩小尺寸的特殊连接端子。在此情况下，就难以顺利地进行四引线连接的测试了。
技术实现思路
鉴于现有技术的上述技术问题，本技术的目的在于开发一种电阻测试电路，该电阻测试电路允许四引线连接的测试电路的四个连接端口/测试探针被合适地连接到被测电路中，同时确保必要的电阻测试精度。为了实现以上目的，本技术提供了一种电阻测试电路，该电阻测试电路包括：待测电阻；电压源；第一电流表，所述第一电流表的第一端通过导线连接到所述电压源的第一端；第一测试探针，所述第一电流表的第二端通过导线连接到所述第一测试探针；第二测试探针，所述电压源的第二端通过导线连接到所述第二测试探针；具有固定电阻值的已知电阻；第三测试探针，所述第三测试探针通过导线连接到所述已知电阻的第一端；第二电流表，所述已知电阻的第二端通过导线连接到所述第二电流表的第一端；第四测试探针，所述第四测试探针通过导线连接到所述第二电流表的第二端，其特征在于，所述电阻测试电路还包括：预定电阻，所述预定电阻具有预先确定的电阻值，其中，所述第一测试探针和所述第三测试探针连接到所述待测电阻的第一端，所述第四测试探针连接到所述预定电阻的第一端，所述第二测试探针连接到所述待测电阻的第二端和所述预定电阻的第二端。优选地，所述预定电阻是电机的三相线圈中的单相线圈的相电阻，而所述待测电阻是位于所述单相线圈的一端处的焊接电阻。在技术效果方面，通过本技术的电阻测试电路，能够允许四引线连接的测试电路的四个连接端口/测试探针被合适地连接到被测电路中，同时确保必要的电阻测试精度。附图说明为了更清楚地说明本技术的实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。图1是传统的四引线连接的电阻测试电路的示意图。图2是电机的三相线圈的示意图。图3示出了根据本技术的四引线连接的电阻测试电路的示意图。具体实施方式为了使本领域技术人员更好地理解本技术的技术方案，下面将结合与本技术相关的附图，对本技术的实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。图1是传统的四引线连接的电阻测试电路的示意图。图2是电机的三相线圈的示意图。图3示出了根据本技术的四引线连接的电阻测试电路的示意图。在图1的电阻测试电路中，待测电阻Rt位于该电路图的中间，该电阻测试电路还包括：电压源1，电压源1能够提供稳定的电压输出；第一电流表2，第一电流表2的第一端通过导线连接到电压源1的第一端，第一电流表2用于测量经过该电流表的电流，而且其本身具有很小的可以忽略不计的电阻；第一测试探针4，第一电流表2的第二端通过导线连接到第一测试探针4；第二测试探针5，电压源1的第二端通过导线连接到第二测试探针5；已知电阻Rn，已知电阻Rn是配置在测量系统里的固定电阻，其电阻值是固定的且是已知的较大电阻；第三测试探针6，第三测试探针6通过导线连接到已知电阻Rn的第一端；第二电流表3，已知电阻Rn的第二端通过导线连接到第二电流表3的第一端，第二电流表3用于测量经过该电流表的电流，而且其本身具有很小的可以忽略不计的电阻；第四测试探针7，第四测试探针7通过导线连接到第二电流表3的第二端。在测试待测电阻Rt的电阻时，第一测试探针4和第三测试探针6连接到待测电阻Rt的第一端，第二测试探针5和第四测试探针7连接到待测电阻Rt的第二端。在图1中，电阻R1表示从电压源1的第一端到第一测试探针4的测试线上的电阻；电阻R2表示从电压源1的第二端到第二测试探针5的测试线上的电阻；电阻R3表示从第三测试探针6到已知电阻Rn的第一端的测试线上的电阻；电阻R4表示从第四测试探针7到已知电阻Rn的第二端的测试线上的电阻。电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4的电阻值通常都比较小。在测试时流过第一电流表2的电流值用A1表示，在测试时流过第二电流表3的电流值用A2表示，则在理想情况下，通过该四引线连接的电阻测试电路可以用如下公式得出待测电阻Rt的电阻值：Rt＝(Rn+R3+R4)*A2/(A1-A2)，其中在上述公式中，Rt表示电阻Rt的电阻值，Rn表示电阻Rn的电阻值，R3表示电阻R3的电阻值，R4表示电阻R4的电阻值。进一步，在电阻R3和R4的电阻值都非常小的情况下，可以用如下公式得出待测电阻Rt的电阻值：Rt＝Rn*A2/(A1-A2)，其中在上述公式中，Rt表示电阻Rt的电阻值，Rn表示电阻Rn的电阻值。然而，在实际测试中，例如一些焊接电阻测试的情况下，被测电路中没有足够的空间来容纳四个连接端口/测试探针，特别是有时被测电路没有足够的空间来容纳机械上无法缩小尺寸的特殊连接端子。例如，图2是电机的三相线圈的示意图，其中，三相线圈呈三角形连接，附图标记8表示每一相线圈的相电阻，附图标记9表示单相线圈的一端处的焊接电阻。在实际中，需要测试焊接电阻9的电阻值。但是，在实际线圈结构中，在焊接电阻9和相电阻8之间(例如图2中用圆圈标出的部分)没有足够的空间容纳两个测试探针，由此导致难以顺利地进行四引线连接的电阻测试。为了解决上述问题，本技术提供了如图3中所示的电阻测试电路。在图3的电阻测试电路中，待测电阻Rt1位于该电路图的中间，待测电阻Rt1例如是位于电机的三相线圈中的单相线圈的一端处的焊接电阻，该电阻测试电路还包括：电压源11，电压源11能够提供稳定的电压输出；第一电流表12，第一电流表12的第一端通过导线连接到电压源11的第一端，第一电流表12用于测量经过该电流表的电流，而且其本身具有很小的可以忽略不计的电阻；第一测试探针14，第一电流表12的第二端通过导线连接到第一测试探针14；第二测试探针15，电压源11的第二端通过导线连接到第二测试探针15；已知电阻Rn1，已知电阻Rn1是配置在测量系统里的固定电阻，其电阻值是固定的且是已知的较大值；第三测试探针16，第三测试探针16通过导线连接到已知电阻Rn1的第一端；第二电流表13，已知电阻Rn1的第二端通过导线连接到第二电流表13的第一端，第二电流表13用于测量经过该电流表的电流，而且其本身具有很小的可以忽略不计的电阻；第四测试探针17，第四测试探针17通过导线连接到第二电流表13的第二端。图3的电阻测试电路还包括：预定电阻Rk，预定电阻Rk可以通过现有技术中的已知测量方法提前测量而获知。预定电阻Rk例如为电机的三相线圈中的单相线圈的相电阻。在图3的电阻测试电路中，在测试待测电阻Rt1的电阻时，第一测试探针14和第三测试探针16连接到待测电阻Rt1的第一端，第二测试探针15连接到待测电阻Rt1的第二端，第四测试探针17连接到预定电阻Rk的第一端，预定电阻Rk的第二端连接到第二测试探针15和待测电阻Rt1的第二端。在本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电阻测试电路，包括：待测电阻(Rt1)；电压源(11)；第一电流表(12)，所述第一电流表(12)的第一端通过导线连接到所述电压源(11)的第一端；第一测试探针(14)，所述第一电流表(12)的第二端通过导线连接到所述第一测试探针(14)；第二测试探针(15)，所述电压源(11)的第二端通过导线连接到所述第二测试探针(15)；具有固定电阻值的已知电阻(Rn1)；第三测试探针(16)，所述第三测试探针(16)通过导线连接到所述已知电阻(Rn1)的第一端；第二电流表(13)，所述已知电阻(Rn1)的第二端通过导线连接到所述第二电流表(13)的第一端；第四测试探针(17)，所述第四测试探针(17)通过导线连接到所述第二电流表(13)的第二端，其特征在于，所述电阻测试电路还包括：预定电阻(Rk)，所述预定电阻(Rk)具有预先确定的电阻值，其中，所述第一测试探针(14)和所述第三测试探针(16)连接到所述待测电阻(Rt1)的第一端，所述第四测试探针(17)连接到所述预定电阻(Rk)的第一端，所述第二测试探针(15)连接到所述待测电阻(Rt1)的第二端和所述预定电阻(Rk)的第二端。

【技术特征摘要】
1.一种电阻测试电路，包括：待测电阻(Rt1)；电压源(11)；第一电流表(12)，所述第一电流表(12)的第一端通过导线连接到所述电压源(11)的第一端；第一测试探针(14)，所述第一电流表(12)的第二端通过导线连接到所述第一测试探针(14)；第二测试探针(15)，所述电压源(11)的第二端通过导线连接到所述第二测试探针(15)；具有固定电阻值的已知电阻(Rn1)；第三测试探针(16)，所述第三测试探针(16)通过导线连接到所述已知电阻(Rn1)的第一端；第二电流表(13)，所述已知电阻(Rn1)的第二端通过导线连接到所述第二电流表(13)的第一端；第四测试探针(17)，...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘金月，
申请(专利权)人：上海博泽电机有限公司，
类型：新型
国别省市：上海,31