一种偏光片透光率测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种偏光片透光率测量装置，包括一暗箱，所述暗箱内设有水平放置的测试平台，测试平台包括一透明的玻璃基板和设置在玻璃基板下侧的光源，玻璃基板的上表面用以放置待测偏光片，在玻璃基板的上方、距离玻璃基板一固定距离设有亮度测试器，所述亮度测试器包括形成在暗箱外的显示屏和形成在暗箱内的测量探头，所述测量探头正对光源设置。将待测偏光片设置在测试平台上测试亮度再通过待测偏光片放置前与放置后的亮度比值得出待测偏光片的透光率，结构简单、操作简单、造价低，尤其适用于显示器制造企业对偏光片质量的检测与管控，降低显示器制造企业的生产成本。

【技术实现步骤摘要】
一种偏光片透光率测量装置
本技术涉及偏光片
，更具体地涉及一种偏光片透光率测量装置。
技术介绍
偏光片的光学性能包括：偏振度、透光率和色调三项主要性能指标，在一般LCD产品的使用中，要求偏振度和透光率性能指标越高越好，因为偏振度和透光率越高，LCD显示器件的显示效率就越高，相对能耗就小。其中透光率作为评价偏光片性能的指标之一，现有技术中企业对偏光片的透光率检测逐渐用检测仪器代替初始的人工目测，但由于目前市面上的偏光片透光率的测试仪器结构复杂、价格昂贵，例如Conscope测试仪，进而造成显示器制造企业的生产成本提高。
技术实现思路
为了解决所述现有技术的不足，本技术提供了一种结构简单、造价低的偏光片透光率测量装置。本技术所要达到的技术效果通过以下方案实现：一种偏光片透光率测量装置，包括一暗箱，所述暗箱内设有水平放置的测试平台，测试平台包括一透明的玻璃基板和设置在玻璃基板下侧的光源，玻璃基板的上表面用以放置待测偏光片，在玻璃基板的上方、距离玻璃基板一固定距离设有亮度测试器，所述亮度测试器包括形成在暗箱外的显示屏和形成在暗箱内的测量探头，所述测量探头正对光源设置。优选地，所述玻璃基板的厚度小于或者等于0.5mm。优选地，所述玻璃基板上设有至少两条平行的对位线。优选地，光源为LED光源或者CCFL光源或者环境光源。优选地，光源的波长范围为380nm~780nm。优选地，光源与玻璃基板通过PSA胶贴合。优选地，玻璃基板的下表面、光源外围区域还设有遮光层。优选地，遮光层为黑色胶带或者厚度为50微米及以上的黑色PVC膜。本技术具有以下优点：通过在暗箱内设置测试平台、光源和亮度测试器，将待测偏光片设置在测试平台上测试亮度再通过待测偏光片放置前与放置后的亮度比值得出待测偏光片的透光率，结构简单、操作简单、造价低，尤其适用于显示器制造企业对偏光片质量的检测与管控，降低显示器制造企业的生产成本。附图说明图1为本技术中偏光片透光率测量装置的结构示意图；图2为图1中测试平台的平面示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本技术进行详细的说明，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。在本技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”、“设置”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，还可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。如图1-2所示，本技术实施例提供一种偏光片透光率测量装置，包括一暗箱1，所述暗箱1内设有水平放置的测试平台2，测试平台2包括一透明的玻璃基板21和设置在玻璃基板21下侧的光源22，待测偏光片3在透光率检测时放置在玻璃基板21的上表面，在玻璃基板21的上方、距离玻璃基板21一固定距离设有亮度测试器4，所述亮度测试器4包括形成在暗箱1外的显示屏41和形成在暗箱1内的测量探头42，所述测量探头42正对光源22设置。所述测量探头42用以检测光源透过玻璃基板21或者透过玻璃基板21与待测偏光片3的亮度，并通过显示屏41显示出。该偏光片透光率测量装置结构简单、体积小、造价低，可适用于使用偏光片制造显示器的企业用以检测偏光片的透光率，降低显示器制造企业的生产成本。进一步地，所述玻璃基板21的厚度小于等于0.5mm，玻璃基板21越薄则测试数据越精确，减少光传递过程中的损失，进一步地，玻璃基板21的透光率接近100%。进一步地，所述玻璃基板21上设有至少两条平行的对位线211，以便不同尺寸的待测偏光片3对位放置。进一步地，光源22与玻璃基板21通过PSA胶贴合，所述PSA胶的厚度优选为小于或者等于20微米。进一步地，光源22为LED光源或者CCFL光源或者环境光源。更进一步地，光源22的波长范围为380nm~780nm。进一步地，玻璃基板21的下表面、光源22外围区域还设有遮光层5，可防止光源发出的光线泄露或者散射影响测量结果。所述遮光层5优选为黑色胶带或者厚度为50微米及以上的黑色PVC膜，但不限于此。进一步地，所述遮光层通过PSA胶与玻璃基板贴合，所述PSA胶的厚度优选为小于或者等于20微米。本实施例中所述暗箱1采用完全遮光材质，可以是塑料，或者不锈钢等，但不限于此，暗箱1的厚度优选为1mm及以上。所述暗箱1还设有开关装置11以打开或者关闭暗箱1，例如可以在暗箱1的一侧设置转动件，相对的另一侧设置闭合件，转动件与闭合件配合作用实现暗箱的打开或者关闭，但不限于此。本实施例中所述偏光片透光率测量装置的测量步骤如下：S1、校准：设置光源22的亮度，亮度测试器4测量玻璃基板21未贴待测偏光片3时光源22透过玻璃基板21的亮度T1；S2、待测偏光片3的测量：将待测偏光片3水平对位放置在玻璃基板21上，亮度测试器4测量透过玻璃基板21和待测偏光片3后的亮度T2；S3、透光率计算：待测偏光片3的透光率=T2/T1。最后需要说明的是，以上实施例仅用以说明本专利技术实施例的技术方案而非对其进行限制，尽管参照较佳实施例对本专利技术实施例进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解依然可以对本专利技术实施例的技术方案进行修改或者等同替换，而这些修改或者等同替换亦不能使修改后的技术方案脱离本专利技术实施例技术方案的范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种偏光片透光率测量装置，其特征在于，包括一暗箱，所述暗箱内设有水平放置的测试平台，测试平台包括一透明的玻璃基板和设置在玻璃基板下侧的光源，玻璃基板的上表面用以放置待测偏光片，在玻璃基板的上方、距离玻璃基板一固定距离设有亮度测试器，所述亮度测试器包括形成在暗箱外的显示屏和形成在暗箱内的测量探头，所述测量探头正对光源设置。

【技术特征摘要】
1.一种偏光片透光率测量装置，其特征在于，包括一暗箱，所述暗箱内设有水平放置的测试平台，测试平台包括一透明的玻璃基板和设置在玻璃基板下侧的光源，玻璃基板的上表面用以放置待测偏光片，在玻璃基板的上方、距离玻璃基板一固定距离设有亮度测试器，所述亮度测试器包括形成在暗箱外的显示屏和形成在暗箱内的测量探头，所述测量探头正对光源设置。2.如权利要求1所述的一种偏光片透光率测量装置，其特征在于，所述玻璃基板的厚度小于或者等于0.5mm。3.如权利要求1所述的一种偏光片透光率测量装置，其特征在于，所述玻璃基板上设有至少两条平行的对...

【专利技术属性】
技术研发人员：翁秋龙，张新华，
申请(专利权)人：信利半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44