光电传感器和目标检测系统技术方案

本实用新型专利技术的实施例涉及一种光电传感器以及目标检测系统，该光电传感器包括发光元件，其射出光；第1透镜，其对所述发光元件射出的光进行会聚；以及调节部件，该调节部件设置于所述第1透镜的径向外侧，对所述第1透镜相对于所述发光元件的位置进行调节，使所述第1透镜沿着所述光轴移动，进而将所述发光元件射出的光会聚到被测物体上。根据本实用新型专利技术的实施例，通过调节光电传感器中的第1透镜相对于发光元件的位置，以将经过该第1透镜会聚的光会聚到被测物体上，从而可调整从该光电传感器到该被测物体的检测距离，由此可增加该光电传感器检测被测物体的入光量和信噪比。

【技术实现步骤摘要】
光电传感器和目标检测系统
本技术涉及传感器，尤其涉及一种光电传感器和目标检测系统。
技术介绍
光电传感器是采用光电元件检测被测物体的传感器，其发光元件(例如，发光二极管(LED，LightEmittingDiode))发出的光经过透镜被会聚，会聚后的光用于检测被测物体，如图1所示；其中，透镜的焦点F与该光电传感器之间的距离为被测物体的最佳检测距离D。然而，在实际应用中，因被测物体位置的限制或者尺寸的限制，落在被测物体上的光斑的尺寸有可能远大于该被测物体，导致无法可靠地检测被测物体，如图2所示。应该注意，上面对技术背景的介绍只是为了方便对本技术的技术方案进行清楚、完整的说明，并方便本领域技术人员的理解而阐述的。不能仅仅因为这些方案在本技术的
技术介绍
部分进行了阐述而认为上述技术方案为本领域技术人员所公知。
技术实现思路
为了解决上述问题，本技术的实施例提供一种光电传感器和目标检测系统。根据本技术实施例的第一方面，提供了一种光电传感器，该光电传感器包括：发光元件，其射出光；第1透镜，其对该发光元件射出的光进行会聚；以及调节部件，该调节部件设置于该第1透镜的径向外侧，对该第1透镜相对于该发光元件的位置进行调节，使该第1透镜沿着该第1透镜的光轴移动，进而将该发光元件射出的光会聚到被测物体上。根据本技术实施例的第二方面，提供了一种如第一方面所述的光电传感器，其中，该调节部件为具有内螺纹的螺母，该第1透镜被设置在具有外螺纹的透镜套管的内表面，该透镜套管的外螺纹与该螺母的内螺纹啮合，通过转动该螺母使该透镜套管沿该光轴移动。根据本技术实施例的第三方面，提供了一种如第二方面所述的光电传感器，其中，该光电传感器还包括设置于该发光元件和该第1透镜之间的容纳部，该容纳部具有朝向该发光元件的一侧的底部和从该底部的边缘沿该光轴的方向延伸的侧部，在该底部上设置有开口，供该发光元件射出的光通过，该侧部构成容置空间，供该透镜套管沿着该光轴移动。根据本技术实施例的第四方面，提供了一种如第三方面所述的光电传感器，其中，该容纳部构成为该光电传感器的壳体的一部分或者安装于该光电传感器的壳体上。根据本技术实施例的第五方面，提供了一种如第三方面所述的光电传感器，其中，在该透镜套管的外周面上设置有沿该光轴的方向延伸并且未贯穿该透镜套管的外周面的导向槽，该导向槽具有开口端和限位端，该开口端位于靠近该发光元件的一侧，该限位端位于远离该发光元件的一侧；在该容纳部的该侧部的内周面上设置有导向筋，该导向筋与该导向槽嵌合，当该透镜套管沿该光轴移动时，该导向筋在该导向槽中滑动。根据本技术实施例的第六方面，提供了一种如第五方面所述的光电传感器，其中，当该透镜套管沿该光轴向靠近该发光元件的方向移动到第一位置时，该导向筋接触该导向槽的该限位端，从而对该透镜套管的第一移动方向进行限位。根据本技术实施例的第七方面，提供了一种如第二方面所述的光电传感器，其中，该光电传感器还包括设置于该第1透镜的远离该发光元件的一侧的盖板，当该透镜套管沿着该光轴向远离该发光元件的方向移动到第二位置时，该第1透镜或该透镜套管接触该盖板，从而对该透镜套管的第二移动方向进行限位。根据本技术实施例的第八方面，提供了一种如第七方面所述的光电传感器，其中，该盖板构成为该光电传感器的壳体的一部分或者安装于该光电传感器的壳体上。根据本技术实施例的第九方面，提供了一种如第一方面所述的光电传感器，其中，该光电传感器还包括：第2透镜，其对入射到该光电传感器的光进行会聚；受光元件，其接受通过该第2透镜会聚后的光。根据本技术实施例的第十方面，提供了一种如第九方面所述的光电传感器，其中，该光电传感器还包括：第1基板，该发光元件设置于该第1基板上；第2基板，该受光元件设置于该第2基板上；该第1基板和该第2基板均设置于该光电传感器的壳体上。根据本技术实施例的第十一方面，提供了一种目标检测系统，其中，该目标检测系统包含如上述第一至第十中任一方面所述的光电传感器。本技术的有益效果在于：根据本技术的实施例的光电传感器，通过调节第1透镜相对于发光元件的位置，可调整从该光电传感器到该被测物体的检测距离，由此可增加该光电传感器检测被测物体的入光量和信噪比，从而可靠地检测被测物体。参照后文的说明和附图，详细公开了本技术的特定实施方式，指明了本技术的原理可以被采用的方式。应该理解，本技术的实施方式在范围上并不因而受到限制。在所附权利要求的精神和条款的范围内，本技术的实施方式包括许多改变、修改和等同。附图说明所包括的附图用来提供对本技术实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本技术的实施方式，并与文字描述一起来阐释本技术的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：图1是现有技术中的光电传感器的工作原理的示意图；图2是现有技术中的光电传感器检测被测物体S的工作原理的示意图；图3是实施例1的光电传感器从一个角度观察的示意图；图4是实施例1的光电传感器从另一个角度观察的示意图；图5是实施例1的光电传感器检测被测物体的工作原理的示意图；图6是实施例1的光电传感器的调节机构从一个角度观察的示意图；图7是实施例1的光电传感器的调节机构中的螺母的示意图；图8是实施例1的光电传感器的容纳部从一个角度观察的示意图；图9是实施例1的光电传感器的容纳部从另一角度观察的示意图；图10是实施例1的光电传感器的透镜套管和容纳部的一个剖视图；图11是实施例1的光电传感器的透镜套管和容纳部的另一个剖视图；图12是实施例1的光电传感器的盖板的示意图；图13是实施例1的光电传感器的透镜套管和容纳部的又一个剖视图。具体实施方式参照附图，通过下面的说明书，本技术的前述以及其它特征将变得明显。在说明书和附图中，具体公开了本技术的特定实施方式，其表明了其中可以采用本技术的原则的部分实施方式，应了解的是，本技术不限于所描述的实施方式，相反，本技术包括落入所附权利要求的范围内的全部修改、变型以及等同物。实施例1本技术实施例1提供了一种光电传感器，图3是实施例1的光电传感器从一个角度观察的示意图；图4是实施例1的光电传感器从另一个角度观察的示意图；图5是实施例1的光电传感器检测被测物体的工作原理的示意图。如图3和4所示，光电传感器30可包括发光元件31、第1透镜32和调节部件33。在本实施例中，发光元件31发射出光；第1透镜32对发光元件31射出的光进行会聚；调节部件33设置在第1透镜32的径向外侧，用于对第1透镜32相对于发光元件31的位置进行调节，即，调节部件33可调节第1透镜32与发光元件31之间的距离，使得第1透镜32沿着光轴O移动，进而将发光元件31射出的光会聚到被测物体S(参见图5)上。由此，通过调节光电传感器中的第1透镜相对于发光元件(LED)的位置，从而可调整从该光电传感器到该被测物体的检测距离，由此可增加该光电传感器检测被测物体的入光量和信噪比，进而可靠地检测被测物体。如图2所示，在现有技术中，最佳检测距离本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光电传感器，所述光电传感器包括：发光元件，其射出光；第1透镜，其对所述发光元件射出的光进行会聚；以及调节部件，该调节部件设置于所述第1透镜的径向外侧，对所述第1透镜相对于所述发光元件的位置进行调节，使所述第1透镜沿着所述第1透镜的光轴移动，进而将所述发光元件射出的光会聚到被测物体上。

【技术特征摘要】
1.一种光电传感器，所述光电传感器包括：发光元件，其射出光；第1透镜，其对所述发光元件射出的光进行会聚；以及调节部件，该调节部件设置于所述第1透镜的径向外侧，对所述第1透镜相对于所述发光元件的位置进行调节，使所述第1透镜沿着所述第1透镜的光轴移动，进而将所述发光元件射出的光会聚到被测物体上。2.根据权利要求1所述的光电传感器，其特征在于，所述调节部件为具有内螺纹的螺母，所述第1透镜被设置在具有外螺纹的透镜套管的内表面，所述透镜套管的外螺纹与所述螺母的内螺纹啮合，通过转动所述螺母使所述透镜套管沿所述光轴移动。3.根据权利要求2所述的光电传感器，其特征在于，所述光电传感器还包括设置于所述发光元件和所述第1透镜之间的容纳部，所述容纳部具有朝向所述发光元件的一侧的底部和从所述底部的边缘沿所述光轴的方向延伸的侧部，在所述底部上设置有开口，供所述发光元件射出的光通过，所述侧部构成容置空间，供所述透镜套管沿着所述光轴移动。4.根据权利要求3所述的光电传感器，其特征在于，所述容纳部构成为所述光电传感器的壳体的一部分或者安装于所述光电传感器的壳体上。5.根据权利要求3所述的光电传感器，其特征在于，在所述透镜套管的外周面上设置有沿所述光轴的方向延伸并且未贯穿所述透镜套管的外周面的导向槽，所述导向槽具有开口端和限位端，所述开口端位于靠近所述发光元件的一侧，所述限位端位于远离所述发光元件的一侧；在...

【专利技术属性】
技术研发人员：何竞春，
申请(专利权)人：欧姆龙上海有限公司，
类型：新型
国别省市：上海,31