一种调试电路、调试装置、调制系统和一种电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种调试电路、调试装置、调制系统和一种电子设备，调试电路包括控制芯片、链路切换单元和SD卡座；当控制芯片检测到SD卡座中插入了SD卡时，链路切换单元将控制芯片上用于与SD卡进行数据通信的引脚连通到SD卡座，此时控制芯片可以对SD卡进行正常的读写操作；当控制芯片检测到SD卡座中未插入SD卡时，链路切换单元将控制芯片上用于调试的引脚连通到SD卡座，此时可以通过SD卡座对产品整机进行调试，在电子产品外部仅预留SD卡槽、电路板上预留的测试点被包裹在整机内时，便于进行产品整机的研发调试、产线测试等工作。

A debugging circuit, a debug device, a modulation system, and an electronic device

The invention discloses a debugging circuit, debugging device, modulation system and an electronic device debugging circuit comprises a control chip, link switching unit and the SD card holder; when the control chip detects SD card into the SD card, the link switch unit will control chip for data communication and SD card connected to the SD Pin card, the control chip can perform normal read and write operations on the SD card; when the control chip to the SD card is not inserted into the SD card when the link switch unit will control chip for debug pins connected to the SD connector, the SD connector through the debugging of the products, the electronic products in the external test points only reserved for the SD card slot, the circuit board is wrapped in the inside, for research and development for product machine commissioning, production line test etc..

【技术实现步骤摘要】
一种调试电路、调试装置、调制系统和一种电子设备
本专利技术涉及电路设计
，具体涉及一种调试电路、调试装置、调制系统和一种电子设备。
技术介绍
目前，很多电子产品都趋向于小型化、防水等方向发展，会取消外露的USB接口、仅保留SD卡槽，虽然产品的电路板上会预留测试点，但是在产品组成整机后，这些测试点通常会包裹在整机内，不便于进行产品整机的研发调试、产线测试等工作。
技术实现思路
本专利技术提供了一种调试电路、调试装置、调制系统和一种电子设备，以解决在电子产品外部仅预留SD卡槽的情况下，由于电路板上预留的测试点被包裹在整机内，不便于进行产品整机的研发调试、产线测试等工作的问题。根据本专利技术的一个方面，本专利技术提供了一种调试电路，包括控制芯片、链路切换单元和SD卡座；所述控制芯片，用于监测所述SD卡座中是否插入SD卡；所述链路切换单元，用于当所述控制芯片监测到所述SD卡座中未插入SD卡时，将所述控制芯片上用于调试的引脚与所述SD卡座的相应引脚接通，并将所述控制芯片上用于与SD卡数据通信的引脚与所述SD卡座的相应引脚断开；当所述控制芯片监测到所述SD卡座中插入了SD卡时，将所述控制芯片上用于调试的引脚与所述SD卡座的相应引脚断开，并将所述控制芯片上用于与SD卡数据通信的引脚与所述SD卡座的相应引脚接通。根据本专利技术的另一个方面，本专利技术提供了一种调试装置，包括用于插入SD卡座的转接板，以及与所述转接板相连的USB连接器；所述转接板上设置有DATA0_1引脚、DATA1_1引脚和DATA2_1引脚，当所述转接板插入SD卡座时，所述DATA0_1引脚、DATA1_1引脚和DATA2_1引脚分别连接所述SD卡座的DATA0引脚、DATA1引脚和DATA2引脚；所述转接板与SD卡座接触的一端经过切角处理，使所述转接板插入SD卡座后，SD卡座的CD引脚的信号为高电平；所述USB连接器的VUBS引脚接所述转接板的DATA2_1引脚，所述USB连接器的D+引脚接所述转接板的DATA0_1引脚，所述USB连接器的D-引脚接所述转接板的DATA1_1引脚。根据本专利技术的又一个方面，本专利技术提供了一种电子设备，包括上述的调试电路。根据本专利技术的再一个方面，本专利技术提供了一种调试系统，包括上述调试电路，以及上述调试装置；当所述单刀双掷开关的可动端连接第一不动端时，所述调试系统进入功能调试模式/固件升级模式；当所述单刀双掷开关的可动端连接第二不动端时，所述调试系统进入固件升级模式/功能调试模式。本专利技术的有益效果是：本专利技术实施例将控制芯片的SD卡信号与USB信号进行复用，当控制芯片检测到SD卡座中插入SD卡时，链路切换单元将控制芯片上用于与SD卡进行数据通信的引脚连接到SD卡座，此时控制芯片可以对SD卡进行正常的读写操作；当控制芯片检测到SD卡座中未插入SD卡时，链路切换单元将控制芯片上用于调试的引脚连接到SD卡座，此时可以通过SD卡座对产品整机进行调试，解决了在电子产品外部仅预留SD卡槽的情况下，由于电路板上预留的测试点被包裹在整机内，因而不便于进行产品整机的研发调试、产线测试等工作的问题。附图说明图1是本专利技术一个实施例提供的一种调试电路的电路原理图；图2是本专利技术一个实施例提供的一种调试装置的电路原理图；图3是本专利技术一个实施例提供的一种电子设备的功能框图；图4是本专利技术一个实施例提供的一种调试系统的功能框图。具体实施方式本专利技术的设计构思是：很多电子产品向于小型化、防水等方向发展，外部仅预留SD卡槽，电路板上预留的测试点都被包裹在整机内，不便于进行产品整机的研发调试、产线测试等工作。针对这种情况，本专利技术将控制芯片的SD卡信号与USB信号进行复用，当SD卡座插入SD卡时，将控制芯片上用于与SD卡进行数据通信的引脚连接到SD卡座，控制芯片可以对SD卡进行正常的读写操作；当SD卡座未插入SD卡时，将控制芯片上用于调试的引脚连接到SD卡座，此时将调试装置插入SD卡座就可以对产品整机进行调试，并且还可以通过调试装置上的开关选择不同的模式。实施例一图1是本专利技术一个实施例提供的一种调试电路的电路原理图，如图1所示，本实施例提供的调试电路包括控制芯片U1、链路切换单元和SD卡座J2。控制芯片U1监测SD卡座J2中是否插入SD卡。当控制芯片U1监测到SD卡座J2中未插入SD卡时，链路切换单元将控制芯片U1上用于调试的引脚与SD卡座J2的相应引脚接通，并将控制芯片U1上用于与SD卡数据通信的引脚与SD卡座J2的相应引脚断开，此时控制芯片U1上用于调试的引脚通过SD卡座J2引到产品外部，上位机可以通过SD卡座J2与控制芯片U1建立连接，进行产品整机的相关调试工作。当控制芯片U1监测到SD卡座J2中插入了SD卡时，链路切换单元将控制芯片U1上用于调试的引脚与SD卡座J2的相应引脚断开，并将控制芯片U1上用于与SD卡数据通信的引脚与SD卡座J2的相应引脚接通，此时控制芯片U1可以正常读写SD卡。当SD卡插入SD卡座中时，SD卡的一个角顶在CD引脚的位置，使SD卡座的CD引脚拉低为低电平，因此在优选实施例中，控制芯片U1通过检测SD卡座J2的CD引脚的信号判断SD卡座J2中是否插入SD卡：当检测到SD卡座J2的CD引脚的信号为高电平时，控制芯片U1判断SD卡座J2中未插入SD卡，并向链路切换单元发送高电平的控制信号；当检测到SD卡座J2的CD引脚的信号为高电平时，控制芯片U1判断SD卡座J2中插入了SD卡，并通过SEL0脚向链路切换单元发送低电平的控制信号。优选地，链路切换单元包括两个双通道单刀双掷开关：第一开关U2和第二开关U3。第一开关U2的第一输入通道CH1接控制芯片U1上用于与SD卡数据通信的D0引脚和D1引脚，第一开关U2的第二输入通道CH2接控制芯片U1上用于调试的USB_DP引脚和USB_DM引脚，第一开关U2的输出通道OUTPUT接SD卡座J2的DATA0引脚和DATA1引脚。第二开关U3的第一输入通道CH1接控制芯片U1上用于与SD卡数据通信的D3引脚和D4引脚，第二开关U3的第二输入通道CH2接控制芯片U1上用于调试的DETECT_VBUS引脚和Update引脚，第二开关U3的输出通道OUTPUT接SD卡座J2的DATA2引脚和DATA3引脚。当SD卡座J2未插入SD卡时，第一开关U2和第二开关U3的SEL1脚接地，控制端SEL0通过电阻R3接VCC，被拉高，第一开关U2和第二开关U3的第一输入通道CH1关闭，第二输入通道CH2开启，控制芯片U1上用于进行调试工作的Update、USB_DP、USB_DM、DETECT_VBUS四个引脚被接通到SD卡座J2上。当SD卡座J2插入SD卡时，控制芯片U1检测到SD卡座的CD引脚的电平被拉低后，将第一开关U2和第二开关U3的控制端SEL0拉低，控制芯片U1上用于与SD卡进行数据通信的D0、D1、D2、D3四个引脚被接通到SD卡座J2上。优选地，本实施例提供的调试电路还包括一个预留USB连接器J1，USB连接器J1的VBUS引脚接控制芯片U1的DETECT_VBUS引脚，USB连接器的D+引脚和D-引脚分别接控制芯片U1的USB_DP引脚和USB_DM引脚，USB连接器J1的GND引脚接地。在链路切换单元出现故障本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种调试电路，其特征在于，所述调试电路包括控制芯片、链路切换单元和SD卡座；所述控制芯片，用于监测所述SD卡座中是否插入SD卡；所述链路切换单元，用于当所述控制芯片监测到所述SD卡座中未插入SD卡时，将所述控制芯片上用于调试的引脚与所述SD卡座的相应引脚接通，并将所述控制芯片上用于与SD卡数据通信的引脚与所述SD卡座的相应引脚断开；当所述控制芯片监测到所述SD卡座中插入了SD卡时，将所述控制芯片上用于调试的引脚与所述SD卡座的相应引脚断开，并将所述控制芯片上用于与SD卡数据通信的引脚与所述SD卡座的相应引脚接通。

【技术特征摘要】
1.一种调试电路，其特征在于，所述调试电路包括控制芯片、链路切换单元和SD卡座；所述控制芯片，用于监测所述SD卡座中是否插入SD卡；所述链路切换单元，用于当所述控制芯片监测到所述SD卡座中未插入SD卡时，将所述控制芯片上用于调试的引脚与所述SD卡座的相应引脚接通，并将所述控制芯片上用于与SD卡数据通信的引脚与所述SD卡座的相应引脚断开；当所述控制芯片监测到所述SD卡座中插入了SD卡时，将所述控制芯片上用于调试的引脚与所述SD卡座的相应引脚断开，并将所述控制芯片上用于与SD卡数据通信的引脚与所述SD卡座的相应引脚接通。2.如权利要求1所述的调试电路，其特征在于，所述控制芯片具体用于，通过检测所述SD卡座的CD引脚的信号判断所述SD卡座中是否插入SD卡；当检测到所述SD卡座的CD引脚的信号为高电平时，判断所述SD卡座中未插入SD卡，并向所述链路切换单元发送高电平的控制信号；当检测到所述SD卡座的CD引脚的信号为高电平时，判断所述SD卡座中插入了SD卡，并向所述链路切换单元发送低电平的控制信号。3.如权利要求2所述的调试电路，其特征在于，所述链路切换单元包括第一开关和第二开关；所述第一开关和所述第二开关均为双通道单刀双掷开关；所述第一开关的第一输入通道接所述控制芯片上用于与SD卡数据通信的D0引脚和D1引脚，所述第一开关的第二输入通道接所述控制芯片上用于调试的USB_DP引脚和USB_DM引脚，所述第一开关的输出通道接所述SD卡座的DATA0引脚和DATA1引脚；所述第二开关的第一输入通道接所述控制芯片上用于与SD卡数据通信的D3引脚和D4引脚，所述第二开关的第二输入通道接所述控制芯片上用于调试的DETECT_VBUS引脚和Update引脚，所述第二开关的输出通道接所述SD卡座的DATA2引脚和DATA3引脚；所述第一开关的控制端和所述第二开关的控制端接所述控制芯片发送的控制信号。4.如权利要求3所述的调试电路，其特征在于，所述调试电路还包括一个预留USB连接器；所述预留...

【专利技术属性】
技术研发人员：智绪东，
申请(专利权)人：歌尔科技有限公司，
类型：发明
国别省市：山东,37