一种微位移接触式传感器装置制造方法及图纸
【技术实现步骤摘要】
一种微位移接触式传感器装置
本专利技术属于参数测量
，特涉及一种微位移接触式传感器装置。
技术介绍
目前，现有装置需要对天线罩内廓形进行精密修磨，通过改变罩壁的几何法向厚度来补偿电偏差，其加工属于自由曲面加工，存在测量不便，精度低的缺陷。
技术实现思路
针对现有技术存在的不足，本专利技术的目的在于提供一种微位移接触式传感器装置。本专利技术的技术方案为一种微位移接触式传感器装置，包括三坐标测量机和微位移接触式传感器，其特征在于，所述三坐标测量机上的测量头为圆心环形阵列３个微位移接触式传感器，所述的微位移接触式传感器比测量头略长。所述三位移接触式传感器所示位移值应相同，因而传感器与零件接触的三个点构建的平面即切平面，切平面的法线即被测点的法线方向，将测量头调到该法线方向对准外轮廓被测点测量零件内轮廓上的点，得到内外轮廓点的三维距离即法向厚度，理论精度无误差。本专利技术的优点：本专利技术结构简单，操作方便，测量速度快、精度高，能大大提高相关零件的加工精度和质量，降低工人劳动强度，并能提高制品质量。附图说明下面结合附图及实施方式对本专利技术作进一步详细的说明。图1为微位移接触式传感器装置的结构示意图。具体实施方式下面结合具体实施例，进一步阐述本专利技术。如图1所示，本专利技术的技术方案为一种微位移接触式传感器装置，包括三坐标测量机和微位移接触式传感器，其特征在于，所述三坐标测量机上的测量头为圆心环形阵列３个微位移接触式传感器，所述的微位移接触式传感器比测量头略长。所述三位移接触式传感器所示位移值应相同，因而传感器与零件接触的三个点构建的平面即切平面，切平面的法线...
【技术保护点】
一种微位移接触式传感器装置，包括三坐标测量机和微位移接触式传感器，其特征在于，所述三坐标测量机上的测量头为圆心环形阵列３个微位移接触式传感器，所述的微位移接触式传感器比测量头略长。
【技术特征摘要】
1.一种微位移接触式传感器装置，包括三坐标测量机和微位移接触式传感器，其特征在于，所述三坐标测量机上的测量头为圆心环形阵列３个微位移接触式传感器，所述的微位移接触式传感器比测量头略长。2.根据权利要求1所述的微位移接触式传感器装置，其特征...
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