本发明专利技术提供一种OLED显示装置驱动电路缺陷检测方法，该方法通过侦测第二节点的电压，并根据第二节点的电压是否在预设的标准电压范围内，判定所述OLED显示装置驱动电路是否存在缺陷，能够准确快速的检测出OLED显示装置驱动电路中的短路与断路缺陷，且该方法利用OLED显示装置的外部电压补偿架构实现，不需要额外购买检测设备，没有设备成本，能够提升OLED显示装置驱动电路缺陷检测效率，降低OLED显示装置驱动电路缺陷检测成本，保证产品质量。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种OLED显示装置驱动电路缺陷检测方法。
技术介绍
平面显示器件具有机身薄、省电、无辐射等众多优点，得到了广泛的应用。现有的平面显示器件主要包括液晶显示器件(Liquid Crystal Display，LCD)及有机发光二极管显示器件(Organic Light Emitting Display，OLED)。有机发光二极管(Organic Light Emitting Display，OLED)显示装置具有自发光、驱动电压低、发光效率高、响应时间短、清晰度与对比度高、近180°视角、使用温度范围宽，可实现柔性显示与大面积全色显示等诸多优点，被业界公认为是最有发展潜力的显示装置。OLED显示装置通常包括：基板、设于基板上的阳极、设于阳极上的空穴注入层、设于空穴注入层上的空穴传输层、设于空穴传输层上的发光层、设于发光层上的电子传输层、设于电子传输层上的电子注入层、及设于电子注入层上的阴极。OLED显示器件的发光原理为半导体材料和有机发光材料在电场驱动下，通过载流子注入和复合导致发光。具体的，OLED显示器件通常采用ITO像素电极和金属电极分别作为器件的阳极和阴极，在一定电压驱动下，电子和空穴分别从阴极和阳极注入到电子传输层和空穴传输层，电子和空穴分别经过电子传输层和空穴传输层迁移到发光层，并在发光层中相遇，形成激子并使发光分子激发，后者经过辐射弛豫而发出可见光。OLED显示装置制作完成后，需要对各像素的制程进行检测，及时发现像素驱动电路中的短路、及断路故障，以保证出厂的产品质量。目前OLED显示装置的检测方法，主要为有两种：一种是通过图像传感器(Charge-coupled Device，CCD)进行检测，另一种则是通过人眼进行检测。其中通过CCD进行检测需要购买专门的CCD设备，花费的设备成本较高，并且其检测算法与工艺都比较复杂，进行点对点拍照时需要的时间很长，导致检测时间过长，检测效率较低。而通过人眼进行检测，虽然不需要设备成本，但其效率同样不高，而且其准确性也难以保证，容易出现漏检。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种OLED显示装置驱动电路缺陷检测方法，能够准确快速的检测出OLED显示装置驱动电路中的短路与断路缺陷，提升OLED显示装置驱动电路缺陷检测效率，降低OLED显示装置驱动电路缺陷检测成本，保证产品质量。为实现上述目的，本专利技术提供了一种OLED显示装置驱动电路缺陷检测方法，包括如下步骤：步骤1、提供一OLED显示装置驱动电路，所述子像素驱动电路包括：第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管、第三薄膜晶体管、第一电容、有机发光二极管、以及第一开关；所述第一薄膜晶体管的栅极接入扫描信号，源极接入数据信号，漏极电性连接第一节点；所述第二薄膜晶体管的栅极电性连接第一节点，源极接入第一电源电压，漏极电性连接第二节点；所述第三薄膜晶体管的栅极接入侦测信号，源极电性连接第三节点，漏极电性连接第二节点；所述第一电容的一端电性连接第一节点，另一端电性连接第二节点；所述有机发光二极管的阳极电性连接第二节点，阴极接入第二电源电压；所述第一开关的一端接入公共电压，另一端电性连接第三节点；步骤2、所述扫描信号和侦测信号均提供高电位，第一和第三薄膜晶体管均打开，所述数据信号提供第一电压至第一节点，所述开关闭合，所述第二节点的电压等于公共电压；步骤3、所述扫描信号和侦测信号保持高电位，第一和第三薄膜晶体管保持打开，所述数据信号继续提供第一电压至第一节点，所述第一节点保持第一电压，所述开关断开，所述第二节点的电压不断变化后重新稳定；步骤4、提供一模数转换器以及与所述模数转换器电性连接的一缺陷分析模块，利用所述模数转换器侦测出所述第二节点的电压并传送给缺陷分析模块；步骤5、所述缺陷分析模块将所述模数转换器传送来的第二节点的电压与预设的标准电压范围进行比较，当所述第二节点的电压超出预设的标准电压范围时，判定所述OLED显示装置驱动电路存在缺陷，当所述第二节点的电压在预设的标准电压范围内时，判定所述OLED显示装置驱动电路不存在缺陷。所述步骤5中还提供运算放大器、以及相关双采样电路；侦测时，所述运算放大器的反相输入端电性连接其输出端，同相输入端电性连接第三节点，输出端电性连接相关双采样电路的输入端，所述相关双采样电路的输出端电性连接模数转换器，所述第二节点的电压经由运算放大器缓冲后输出给相关双采样电路，所述相关双采样电路对所述第二节点的电压进行锁存与逻辑运算后输出给模数转换器，所述模数转换器侦测所述第二节点的电压并进行数字量化并传送给缺陷分析模块。所述步骤2中第一电压大于第二薄膜晶体管的阈值电压且小于有机发光二极管的阈值电压，所述公共电压小于所述有机发光二极管的阈值电压。所述步骤5中当所述第二节点的电压在预设的标准电压范围内，所述OLED显示装置驱动电路不存在缺陷时，所述第二薄膜晶体管的阈值电压等于第一电压与所述第二节点的电压的差值。所述步骤2中第一电压小于第二薄膜晶体管的阈值电压，所述公共电压大于所述有机发光二极管的阈值电压；所述步骤5中当所述第二节点的电压在预设的标准电压范围内，所述OLED显示装置驱动电路不存在缺陷时，所述有机发光二极管的阈值电压等于所述第二节点的电压。当所述第二节点的电压大于所述预设的标准电压范围的上限时，判定所述第二薄膜晶体管短路、或第一电容短路；当所述第二节点的电压小于所述预设的标准电压范围的下限时，则判定所述第二薄膜晶体管断路。当所述第二节点的电压大于所述预设的标准电压范围的上限时，判定所述有机发光二极管断路；当所述第二节点的电压等于第二电源电压时，则判定所述有机发光二极管短路。所述OLED显示装置驱动电路中还形成有寄生电容，所述寄生电容并联于所述有机发光二极管的两端。所述公共电压等于0V。所述第一电压等于0V。所述步骤5还包括：当所述OLED显示装置驱动电路存在缺陷时发出警报提示。本专利技术的有益效果：本专利技术提供了一种OLED显示装置驱动电路缺陷检测方法，该方法通过侦测第二节点的电压，并根据第二节点的电压是否在预设的标准电压范围内，判定所述OLED显示装置驱动电路是否存在缺陷，能够准确快速的检测出OLED显示装置驱动电路中的短路与断路缺陷，且该方法利用OLED显示装置的外部电压补偿架构实现，不需要额外购买检测设备，没有设备成本，能够提升OLED显示装置驱动电路缺陷检测效率，降低OLED显示装置驱动电路缺陷检测成本，保证产品质量。附图说明为了能更进一步了解本专利技术的特征以及
技术实现思路
，请参阅以下有关本专利技术的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本专利技术加以限制。附图中，图1为本专利技术的OLED显示装置驱动电路缺陷检测方法中的OLED显示装置驱动电路的电路图；图2为本专利技术的OLED显示装置驱动电路缺陷检测方法的流程图。具体实施方式为更进一步阐述本专利技术所采取的技术手段及其效果，以下结合本专利技术的优选实施例及其附图进行详细描述。请参阅图1，本专利技术提供了一种OLED显示装置驱动电路缺陷检测方法，包括如下步骤：步骤1、提供一OLED显示装置驱动电路，包括：第一薄膜晶体管T1、第二薄膜晶体管T2、第三薄膜晶体管T3、第一电容C1、有机发光二极管D1、以及第一开关S1本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种OLED显示装置驱动电路缺陷检测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、提供一OLED显示装置驱动电路，包括：第一薄膜晶体管(T1)、第二薄膜晶体管(T2)、第三薄膜晶体管(T3)、第一电容(C1)、有机发光二极管(D1)、以及第一开关(S1)；所述第一薄膜晶体管(T1)的栅极接入扫描信号(Scan)，源极接入数据信号(Data)，漏极电性连接第一节点(P)；所述第二薄膜晶体管(T2)的栅极电性连接第一节点(P)，源极接入第一电源电压(Ovdd)，漏极电性连接第二节点(Q)；所述第三薄膜晶体管(T3)的栅极接入侦测信号(Sen)，源极电性连接第三节点(K)，漏极电性连接第二节点(Q)；所述第一电容(C1)的一端电性连接第一节点(P)，另一端电性连接第二节点(Q)；所述有机发光二极管(D1)的阳极电性连接第二节点(Q)，阴极接入第二电源电压(Ovss)；所述第一开关(S1)的一端接入公共电压(Vcm)，另一端电性连接第三节点(K)；步骤2、所述扫描信号(Scan)和侦测信号(Sen)均提供高电位，第一和第三薄膜晶体管(T1、T3)均打开，所述数据信号(Data)提供第一电压至第一节点(P)，所述开关(S1)闭合，所述第二节点(Q)的电压等于公共电压(Vcm)；步骤3、所述扫描信号(Scan)和侦测信号(Sen)保持高电位，第一和第三薄膜晶体管(T1、T3)保持打开，所述数据信号(Data)继续提供第一电压至第一节点(P)，所述第一节点(P)保持第一电压，所述开关(S1)断开，所述第二节点(Q)的电压不断变化后重新稳定；步骤4、提供一模数转换器(ADC)以及与所述模数转换器(ADC)电性连接的一缺陷分析模块，利用所述模数转换器(ADC)侦测出所述第二节点(Q)的电压并传送给缺陷分析模块；步骤5、所述缺陷分析模块将所述模数转换器(ADC)传送来的第二节点(Q)的电压与预设的标准电压范围进行比较，当所述第二节点(Q)的电压超出预设的标准电压范围时，判定所述OLED显示装置驱动电路存在缺陷，当所述第二节点(Q)的电压在预设的标准电压范围内时，判定所述OLED显示装置驱动电路不存在缺陷。...
【技术特征摘要】
1.一种OLED显示装置驱动电路缺陷检测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、提供一OLED显示装置驱动电路，包括：第一薄膜晶体管(T1)、第二薄膜晶体管(T2)、第三薄膜晶体管(T3)、第一电容(C1)、有机发光二极管(D1)、以及第一开关(S1)；所述第一薄膜晶体管(T1)的栅极接入扫描信号(Scan)，源极接入数据信号(Data)，漏极电性连接第一节点(P)；所述第二薄膜晶体管(T2)的栅极电性连接第一节点(P)，源极接入第一电源电压(Ovdd)，漏极电性连接第二节点(Q)；所述第三薄膜晶体管(T3)的栅极接入侦测信号(Sen)，源极电性连接第三节点(K)，漏极电性连接第二节点(Q)；所述第一电容(C1)的一端电性连接第一节点(P)，另一端电性连接第二节点(Q)；所述有机发光二极管(D1)的阳极电性连接第二节点(Q)，阴极接入第二电源电压(Ovss)；所述第一开关(S1)的一端接入公共电压(Vcm)，另一端电性连接第三节点(K)；步骤2、所述扫描信号(Scan)和侦测信号(Sen)均提供高电位，第一和第三薄膜晶体管(T1、T3)均打开，所述数据信号(Data)提供第一电压至第一节点(P)，所述开关(S1)闭合，所述第二节点(Q)的电压等于公共电压(Vcm)；步骤3、所述扫描信号(Scan)和侦测信号(Sen)保持高电位，第一和第三薄膜晶体管(T1、T3)保持打开，所述数据信号(Data)继续提供第一电压至第一节点(P)，所述第一节点(P)保持第一电压，所述开关(S1)断开，所述第二节点(Q)的电压不断变化后重新稳定；步骤4、提供一模数转换器(ADC)以及与所述模数转换器(ADC)电性连接的一缺陷分析模块，利用所述模数转换器(ADC)侦测出所述第二节点(Q)的电压并传送给缺陷分析模块；步骤5、所述缺陷分析模块将所述模数转换器(ADC)传送来的第二节点(Q)的电压与预设的标准电压范围进行比较，当所述第二节点(Q)的电压超出预设的标准电压范围时，判定所述OLED显示装置驱动电路存在缺陷，当所述第二节点(Q)的电压在预设的标准电压范围内时，判定所述OLED显示装置驱动电路不存在缺陷。2.如权利要求1所述的OLED显示装置驱动电路缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤5中还提供运算放大器(Y1)、以及相关双采样电路(CDS)；侦测时，所述运算放大器(Y1)的反相输入端电性连接其输出端，同相输入端电性连接第三节点(K)，输出端电性连接相关双采样电路(CDS)的输入端，所述相关双采样电路(CDS)的输出端电性连接模数转换器(ADC...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄泰钧，梁鹏飞，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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