用于产品电磁性能检测的墙壁结构制造技术

本发明专利技术用于产品电磁性能检测的墙壁结构属于检测领域，具体涉及一种电波暗室墙壁结构；该墙壁结构从外到内依次包括：墙体、高频吸附膜、低频吸附膜和保护膜(墙体、低频吸附膜、高频吸附膜和保护膜)，所述高频吸附膜为干燥后掩膜胶夹杂非周期金属线的结构，所述低频吸附膜为干燥后掩膜胶夹杂周期性金属线的结构，所述保护膜不透明；本发明专利技术用于产品电磁性能检测的墙壁结构彻底颠覆屏蔽室和吸波材料分立设计、铁氧体和海绵吸收体分立设计的传统设计方式，采用了一种全新膜结构，不仅简化了墙壁结构，大幅减小墙壁重量和厚度，降低了制作成本，同时还能简化安装程序。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术用于产品电磁性能检测的墙壁结构属于检测领域，具体涉及一种电波暗室墙壁结构。
技术介绍
电波暗室，是主要用于模拟开阔场，同时用于辐射无线电骚扰和辐射敏感度测量的密闭屏蔽室，在电子产品性能测试领域具有重要作用。传统电波暗室主要由屏蔽室和吸波材料组成。这种结构具有以下缺点和不足:屏蔽室和吸波材料分立设计，吸波材料中吸收低频段的铁氧体和吸收高频段的海绵吸收体也采用分立设计，并且海绵吸收体还要采用锥形设计，使得整个墙壁结构又厚又重，进而出现成本高、安装困难的问题。
技术实现思路
为了解决上述问题，本专利技术设计了一种用于产品电磁性能检测的墙壁结构，该墙壁结构彻底颠覆屏蔽室和吸波材料分立设计、铁氧体和海绵吸收体分立设计的传统设计方式，采用了一种全新膜结构，不仅简化了墙壁结构，大幅减小墙壁重量和厚度，降低了制作成本，同时还能简化安装程序。本专利技术的目的是这样实现的:用于产品电磁性能检测的墙壁结构，从外到内，依次包括:墙体、高频吸附膜、低频吸附膜和保护膜；或墙体、低频吸附膜、高频吸附膜和保护膜；所述墙体不透明；所述高频吸附膜为干燥后掩膜胶夹杂非周期金属线的结构；所述低频吸附膜为干燥后掩膜胶夹杂周期性金属线的结构；所述保护膜不透明。上述用于产品电磁性能检测的墙壁结构，所述墙体为玻璃、锡纸交错连接的多层结构，最外层和最内层均为玻璃层。上述用于产品电磁性能检测的墙壁结构，高频吸附膜和低频吸附膜中金属线的周围有碳保护月吴。上述用于产品电磁性能检测的墙壁结构，所述保护膜为两片玻璃中间夹有碳粉层的结构。上述用于产品电磁性能检测的墙壁结构，所述低频吸附膜中金属线的图形为圆形、方形、矩形或菱形结构。有益效果:第一、由于本专利技术用于产品电磁性能检测的墙壁结构包括墙体、高频吸附膜、低频吸附膜和保护膜，而高频吸附膜和低频吸附膜均为干燥后掩膜胶夹杂金属线的结构，彻底颠覆传统屏蔽室与吸波材料之间的划分，进而颠覆屏蔽室和吸波材料分立设计、铁氧体和海绵吸收体分立设计的传统设计方式，因此可以实现减小墙壁的厚度；第二、由于本专利技术用于产品电磁性能检测的墙壁结构中，发现周期性金属线结构具有吸附低频电磁波的功能，并采用干燥后掩膜胶夹杂周期性金属线结构代替铁氧体，因此可以减小墙壁质量；第三、由于本专利技术用于产品电磁性能检测的墙壁结构中，发现非周期金属线结构具有吸附高频电磁波的功能，并采用干燥后掩膜胶夹杂非周期金属线结构代替海绵吸收体，采用平面结构代替锥形结构，因此可以降低制作成本，减小墙壁厚度；第四、由于本专利技术用于产品电磁性能检测的墙壁结构中，墙壁重量和厚度同时减小，因此还能简化安装程序。【附图说明】图1是本专利技术用于产品电磁性能检测的墙壁结构具体实施例一的结构示意图。图2是本专利技术用于产品电磁性能检测的墙壁结构具体实施例二的结构示意图。图中:1墙体、2高频吸附膜、3低频吸附膜、4保护膜。【具体实施方式】下面结合附图对本专利技术【具体实施方式】作进一步详细描述。具体实施例一本实施例的用于产品电磁性能检测的墙壁结构，结构示意图如图1所示。该墙壁结构从外到内，依次包括:墙体1、高频吸附膜2、低频吸附膜3和保护膜4 ;所述墙体1不透明；所述高频吸附膜2为干燥后掩膜胶夹杂非周期金属线的结构；所述低频吸附膜3为干燥后掩膜胶夹杂周期性金属线的结构；所述保护膜4不透明。具体实施例二本实施例的用于产品电磁性能检测的墙壁结构，结构示意图如图2所示。该墙壁结构从外到内，依次包括:墙体1、低频吸附膜3、高频吸附膜2和保护膜4 ;所述墙体1不透明；所述高频吸附膜2为干燥后掩膜胶夹杂非周期金属线的结构；所述低频吸附膜3为干燥后掩膜胶夹杂周期性金属线的结构；所述保护膜4不透明。具体实施例三本实施例的用于产品电磁性能检测的墙壁结构，在具体实施例一或具体实施例二的基础上，进一步限定墙体1为玻璃、锡纸交错连接的多层结构，最外层和最内层均为玻璃层。这种结构限定，具有以下几方面技术优势:第一、结构简单，易于制作、装配和调试；第二、玻璃、锡纸交错连接的多层结构，在中间形成多个电磁波反射层，使外部干扰穿不透墙体1，也使墙体1内部电磁波不会透射到墙体1外；第三、玻璃、锡纸交错连接的多层结构，利用了二氧化硅和锡材料的电离特性，能够在电磁波干扰情况下辐射与干扰电磁波反向的电磁波，辐射电磁波与干扰电磁波彼此干涉抵消，进一步降低了墙体1内外电磁波的串联。具体实施例四本实施例的用于产品电磁性能检测的墙壁结构，在具体实施例一或具体实施例二的基础上，进一步限定高频吸附膜2和低频吸附膜3中金属线的周围有碳保护膜。这种结构限定，可以利用金属线与碳粉结合后的特性，形成一种新的具有更好吸附效果的吸附材料，不仅具有泡沫塑料板吸附高频电磁波的特性，而且具有铁氧体吸附低频电磁波的特性，因此可以进一步提尚墙壁结构的暗室效果。具体实施例五本实施例的用于产品电磁性能检测的墙壁结构，在具体实施例一或具体实施例二的基础上，进一步限定保护膜4为两片玻璃中间夹有碳粉层的结构。本实施例中，碳粉层的作用与具体实施例四不同，本实施例保护膜4的结构限定，是利用碳粉层在可见光波段的光学特性。因为在对产品电磁性能的检测过程中，有时为了做到实时视频监测，需要投射可见光，光波本身也是一种电磁波，因此投射可见光可能会造成电磁干扰；在保护膜4中设置碳粉层，可以吸附可见光，避免可见光在暗室内多次反射而产生电磁干扰。具体实施例六本实施例的用于产品电磁性能检测的墙壁结构，在具体实施例一或具体实施例二的基础上，进一步限定低频吸附膜3中金属线的图形为圆形、方形、矩形或菱形结构。需要说明的是，以上实施例所述的非周期金属线的形状为掩膜胶干燥后自然龟裂的形状。还需要说明的是，干燥后掩膜胶夹杂非周期金属线的结构，以及干燥后掩膜胶夹杂周期性金属线的结构，加工方法均非常简单，掩膜胶的干燥温度以及金属线宽等具体技术参数，本领域技术人员能够通过有限次实验获得，因此在本专利技术中不进行细致说明。【主权项】1.用于产品电磁性能检测的墙壁结构，其特征在于，从外到内，依次包括: 墙体(1)、高频吸附膜(2)、低频吸附膜(3)和保护膜⑷； 或 墙体(1)、低频吸附膜(3)、高频吸附膜(2)和保护膜⑷； 所述墙体⑴不透明； 所述高频吸附膜(2)为干燥后掩膜胶夹杂非周期金属线的结构； 所述低频吸附膜(3)为干燥后掩膜胶夹杂周期性金属线的结构； 所述保护膜(4)不透明。2.根据权利要求1所述的用于产品电磁性能检测的墙壁结构，其特征在于，所述墙体(1)为玻璃、锡纸交错连接的多层结构，最外层和最内层均为玻璃层。3.根据权利要求1所述的用于产品电磁性能检测的墙壁结构，其特征在于，高频吸附膜(2)和低频吸附膜(3)中金属线的周围有碳保护膜。4.根据权利要求1所述的用于产品电磁性能检测的墙壁结构，其特征在于，所述保护膜(4)为两片玻璃中间夹有碳粉层的结构。5.根据权利要求5所述的用于产品电磁性能检测的墙壁结构，其特征在于，所述低频吸附膜(3)中金属线的图形为圆形、方形、矩形或菱形结构。【专利摘要】本专利技术用于产品电磁性能检测的墙壁结构属于检测领域，具体涉及一种电波暗室墙壁结构；该墙壁结构从外到内依次包括：墙体、高频吸附膜、低频吸附膜和保护膜(墙体、低频吸附膜、高频吸附膜和保护膜)，所述高频吸附膜本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于产品电磁性能检测的墙壁结构，其特征在于，从外到内，依次包括：墙体(1)、高频吸附膜(2)、低频吸附膜(3)和保护膜(4)；或墙体(1)、低频吸附膜(3)、高频吸附膜(2)和保护膜(4)；所述墙体(1)不透明；所述高频吸附膜(2)为干燥后掩膜胶夹杂非周期金属线的结构；所述低频吸附膜(3)为干燥后掩膜胶夹杂周期性金属线的结构；所述保护膜(4)不透明。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：宁凯，
申请(专利权)人：哈尔滨幻石科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：黑龙江;23